MARPOSS方案是过程监控系统,几乎适用于所有的金属成形过程,包括冲压工艺。该系统可以使用不同类型的监控模式监控各种机器和传感器。过程信号可以被监测并显示为峰值、包络曲线、趋势或过程质量进程。放置在机器或工装相应位置的传感器(如力、声发射、距离、温度)将过程信息转换为电信号,这些电信号被放大、过滤,然后用合适的监测方法进行评估。马波斯通过相机和共聚焦技术对硅钢片进行二维测量。该方案可以测量试制或小批量生产中使用的激光切割硅钢片也适用于大批量冲压硅钢片和铁芯产品。泄漏标准件和LTC检漏机控制是定期检查和校准测试系统必不可少的设备。定子局部放电检测设备解决方案
Optoflash可以测量超高分辨率精度的型号用于超小尺寸的工件。OptoflashXS提供了超高级别的分辨精度密度，所以更适合小工件和小公差带。因此，OptoflashXS具有超高精度的图像分辨率。另外，Optoflash外观设计紧凑为生产车间现场而设计，也可用于实验室环境。将光学处理系统和软件系统集成在一体机内。除此之外，Optoflash具有超快的测量速度操作人员只需要把工件放在测量平台上，然后按“开始START”按钮，两秒后即可完成工件测量。安徽电池pack 组检测设备MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏，该技术在漏率范围内取得了良好测试结果。
Marposs单啮测试系统可用于在实验室中测量试制样件,以验证齿轮设计过程。该测量系统也可测量变速箱(减速器)样品中待测样件相比于master,或待测样件相比于共轭齿轮的尺寸偏差。操作人员甚至可以调节齿轮中心距及轴线倾斜角,以比较大化降低噪音。对于齿轮制造过程在线监控来说，该监控系统旨在检测出磨削过程中的尺寸变化,从而在砂轮接触零件或修整器时能够极精确得控制进给速度。该系统尤其可以防止加工过程中的碰撞,检测机器或工装的故障,检测砂轮上的碎片,以及检测修整器的缺陷。
马波斯除了可以在线测量锂离子电池的电极极片，还能够进行方形电芯的电气检测。马波斯在电芯测量方面，能够提供EOL（电芯生产）或BOL（模组组装）阶段智能方形电芯检测台以供测量。智能方形电芯检测台的检测范围很多，可以包括外形尺寸测量、电性能和绝缘性能检测以及电解液泄漏示踪检测。从特征的角度来看，一方面，马波斯智能方形电芯检测台可以适应不同类型方形电芯的检测要求，同时，测量过程中可以提供手动和自动上料解决方案。与此同时，设备的电性能检测范围广，可分容。无损探测以涡流为基础，涡流是由时变磁场在导电材料内引起的小电流回路。
在半导体行业，圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中，需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看，封装前，圆晶需要达到正确的厚度，这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨（圆晶减薄）是一种半导体生产工序，在此期间需要严格控制圆晶厚度，使圆晶达到超薄的厚度，可叠放和高密度封装在微型电子器件中。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。同时，马波斯传感器可在干式和湿式环境中可靠地在线测量厚度。马波斯产品提供电性能测试应用程序，包括手动和自动方案，该方案可以对定子进行的功能和电性能测试。定子局部放电检测设备解决方案
Dosaset是马波斯在医疗设备装配领域的解决方案，能够保证每种设备的特性和优越性能。定子局部放电检测设备解决方案
对于半导体行业来说，圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节，检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量，马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中，可在Z轴上准确聚焦。因此，这是检测圆晶缺陷的理想选择，例如，圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验，可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm * 0.4μm，大倾斜角为+/-45°，0.75数值孔径。定子局部放电检测设备解决方案
马波斯（上海）测量设备科技有限公司位于宜山路2000号利丰广场,Block栋,C102单元，交通便利，环境优美，是一家贸易型企业。公司是一家有限责任公司企业，以诚信务实的创业精神、专业的管理团队、踏实的职工队伍，努力为广大用户提供***的产品。公司拥有专业的技术团队，具有机床领域检测系统，标准与非标尺寸检测，泄漏与装配测试，工业电脑与软件等多项业务。马波斯工业测量自成立以来，一直坚持走正规化、专业化路线，得到了广大客户及社会各界的普遍认可与大力支持。
