以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。测帽的选择和调整本投影测长机是用接触法测量的，所以测帽的选择和调整可以避免较大的测量误差。测帽选择的原则是被测件与测帽的接触面为极小，即接近于点或线。1、测量平面物体时，使用R20球形测帽;2、测量圆柱物体时，使用1.5*8刃形测帽;3、测量球形物体时，使用φ2、φ8平面测帽;4、三针法测量外螺纹中径时，使用φ8、φ14，中、大平面测帽。为了保证产品的质量和性能，我们提供保修期，让客户无后顾之忧。杭州便捷测长机售后
但是按照阿贝原则设计的仪器，由于被测长度必须布置在基准元件沿运动方向的延长线上，基准元件占据了测量方向上的空间，使测量长度范围的上限受到了限制。例如当图3测长机能测量1米时，同样外形大小的图2测长机只能测量0.5米。这使得按阿贝原则设计仪器的外形很长，仪器的结构刚度减低，并且成本增加。因此,某些测长机采用违背阿贝原则的设计是不得已而为之。违反阿贝原则的测长机，在设计时，必须采取措施对所产生的阿贝误差进行补偿或提高导轨的运动精度，从而减小阿贝误差的发生。这种措施被称为艾伯斯坦原理.它可以表述为:在实际测量中,利用各种机构，使可能产生的误差相互抵消和削弱，或者故意引进新的误差，以减小某些误差的影响。湖州测长机维修公司我们的测长机产品具有友好的用户界面和操作方式，能够满足客户对简单易用的需求。
测量杆受径向力时对示值的影响【要求】当测量杆上受2N径向力时引起的示值变化不超过0.5um。除去径向力后，示值应复原。【检定方法】在测量杆上安装球面测帽。移动测量轴，使其测量杆上的球面测帽与尾管测量杆上的球面测帽相接触。借助尾管测量杆径向调整螺钉，将球面测帽调至正确状态(比较大值)，然后调整读数装置，使其对准某一毫米刻线并读数。用径向力**工具，分别在测量杆的左右(或上下)和前后加2N径向力，同时观察仪器的示值变化，除去径向力后，示值应复原。
光学测长机在设计上违背阿贝原则,它是如何补偿所产生的阿贝误差呢?当尾座沿基座导轨运动时，由于导轨存在直线度误差，使尾座发生角偏摆，尾座测头前倾，造成测量误差ΔL。此时，尾座下方的成像光路也发生角偏摆，致使分米尺在测量座毫米尺上的成像位置产生位移ΔLʹ。由于测量端到分米尺的高度H与分米尺成像系统焦距fʹ相等，因此，ΔLʹ和ΔL的决对值几乎相等，符号相反，可以相互抵消，违反阿贝原则所造成的误差得到补偿。光学测长机是一种应用艾伯斯坦原理，使误差互相抵消的成功范例我们的售后服务团队会定期进行产品演示和培训，以帮助客户更好地了解和使用测长机。
测长机家族，分别由光学机械系列、光栅系列、激光系列组成。这些测长机在客户处验收时，示值误差的校准较多使用的是激光干涉仪校准，也有部分客户选择量块直接校准。针对的被测对象是光学机械式测长机。在进行示值误差校准时按微米、毫米、分米分别进行。而光栅式测长机、激光式测长机的数据输出方式与光学机械式是不同的，它们的示值误差要求与光学机械式测长机要求是不同的。在验收光栅系列测长机时，常有参照光学机械测长机的示值误差要求，按微米、毫米、分米来校准，造成我们与校准方意见不同。此时，我们应与校准者沟通，因为《测长机校准规范》未将数字式测长机的校准方法纳入其中，新天的技术文件就是光栅测长机的验收依据。我们的专业维修团队随时待命，确保在客户需要维护或修理时能够及时响应并解决问题。杭州精度高测长机定制
我们的测长机产品提供专业的售后服务和支持，确保客户在使用过程中的顺利运作。杭州便捷测长机售后
测量步骤①将标准环规装夹在工作台上，调整测长仪头、尾架位置，使大测钩的测头与标准环规有效接触，见图4-1；②寻找转折点将标准环规找正，获得个测量值X1=0.0000；③卸下标准环规，将被测环规装夹在工作台上，找正被测环规后，见图4-2。获得第二个测量值X2=21.1453。④被测环规的孔径实际尺寸Ds为：Ds1=Db+│X2-X1│=50.0009+21.1453=71.1462（mm）此时，测量软件会将测结果呈现在测量结果显示区用基准挡块与三等量块组合成标准尺寸新天JD25-C数据处理测长仪有一种附件叫“基准挡块”，见图6。它的主要用途是与量块组合，形成与被测光面环规孔径名义尺寸相同的值，以减小测量误差。杭州便捷测长机售后
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