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ICT治具基本参数
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ICT治具企业商机

ICT测试治具即IntegratedCircuitTester集成电路测试仪器治具的缩写,就是在线检测、测试治具。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。ICT测试治具有单面双面之分,通用天板方便交换机种,使用可调培林座,容易保养,使用压克力&电木&FR-4材质(或指定),直接gerber文件处理生成钻孔文件,保证钻孔精度。测试程式自动生成,避免手工输入出错之可能适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT机型。两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050"(1.27mm)。以大于0.100"(2.54mm)为佳,其次是0.075"(1.905mm)。治具的测试点分布也尽量均匀,保证压上后板子不变型,以免造成产品的损坏。治具的设计基本上是建立于逻辑,类似的治具可能会因为使用于不同的时间和地点而分别产生。宁波ict在线测试仪器生产厂家

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ICT测试点的要求:1.测试点的焊盘大小至少要有28mil,较好在35mil以上,建议设计为1mm。2.测点焊盘的中心间距至少为50mil,若能达到75mil或以上则可以降低治具成本。3.测试点不能被遮挡、覆盖,焊盘中心距离器件外框至少120mil。4.如果空间不允许测试点放到了SMD焊盘上,一般应放在焊盘的三分之一处,并保证不被贴片覆盖的测试点焊盘距离30mil以上。5.测试点距离板框必须在120mil以上,测试点外缘和定位孔外缘至少120mil以上。6.测试点是焊盘,直径为30-50mil或更大,测试点是孔,内径不超过15mil,盘径为40-50mil或更大。7.测试点较好放置在同面,可以减少测试成本。徐州压床式治具生产厂家ICT测试治具对技术要求较低,即使对产品不太解,也可以将测试不良的消息进行统计。

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ICT测试治具的特性:ICT测试治具有单面双面之分,通用天板方便交换机种,使用可调培林座,容易保养,使用压克力&电木&FR-4材质(或指定),直接gerber文件处理生成钻孔文件,保证钻孔精度。测试程式自动生成,避免手工输入出错之可能适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT机型。两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050(1.27mm)。以大于0.100(2.54mm)为佳,其次是0.075(1.905mm)。治具的测试点分布也尽量均匀,保证压上后板子不变型,以免造成产品的损坏。

ICT测试原理:1)电阻测试:电阻是测试其阻值。其工作原理很简单,就是在电阻的测试针上加一个电流,然后测试这个电阻两端的电压,利用欧姆定律:R=U/I算出该电阻的阻值。2)电容测试:测试电容是测量其容量。小电容的测试方法与电阻类似,不过是用交流信号,利用XC=U/I同时,XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是测试频率,U、I是测试信号的电压和电流有效值。大容量的电容测试用DC方法,即用直流电压加在电容两端,充电流随时间或指数减少的规律,在测试时加一定的延时时间就可测出其容量。ICT测试治具能够对中小规模的集成电路进行功能测试。

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ICT测试不良及常见故障的分析方法:开路不良:所谓开路不良就是指在某一个短路群中,各个测试点之间本来应该是短路,但却出现了某个测试点对其所在短路群的其它测试点是开路的。出现开路不良的可能原因有如下几个方面:(1)PCBOpen;(2)零件造成的;它又包括如下几个方面:A.立件与漏件;B.空焊;C.零件不良。(3)测试点有问题A.探针未接触到;B.测试点氧化;C.测试点有东西挡住;D.测试点在防焊区。有利于提高产品的质量和测试效率。ICT测试治具对产品的检测有什么作用:是提高企业形象,产品品质的提升,提高企业形象,业绩量大增。北京在线检测治具生产批发

ICT治具测试的盲点:当大电阻与大电容并联时,大电阻无法被准确测量。宁波ict在线测试仪器生产厂家

导致ICT测试冶具测试不良的原因分析:开路不良(常由探针接触不良所致),开路不良只针对某一短路群而言,例如:短路群:<1,4,10,12>,ICT测试冶具测试出1,10开路不良,表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因:1)测试针坏掉,或针型与待测板上的测试点不适合;2)测试点上有松香等绝缘物品;3)某一元器件漏装、焊接不良、错件等;4)继电器、开关或变阻器的位置有变化;5)PCB上铜箔断裂,或ViaHole与铜箔之间Open。宁波ict在线测试仪器生产厂家

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