探针晶片尺寸探针晶片的形状一般为圆形和方形。探头的芯片尺寸对超声波探伤结果有一定的影响，选择时主要考虑以下因素。半扩散角。根据扩散角公式，随着晶片尺寸的增大，半扩散角减小，波束指向性好，超声能量集中，有利于缺陷检测。探伤近场区。根据近场长度公式，近场区长度随晶圆尺寸的增加而增大，不利于缺陷检测。晶圆尺寸大，辐射超声能量强，探头未显影区扫描范围大，远程缺陷检测能力增强。对于探伤面积较大的工件，应选用大型圆片探头，以提高探伤效率；对于厚度较大的工件，应采用大型圆片探头，以便有效地检测远距离缺陷；对于小型工件，为了提高缺陷的定位和定量精度，应采用小型芯片探头；对于表面不平整、曲率较大的工件，应减少耦合损耗，应选用小型芯片探头。探伤剂可以用于检测游戏机、电脑等产品的缺陷。上海黑水探伤剂
磁粉探伤方法磁粉探伤是建立在漏磁原理基础上的一种磁力探伤方法。当磁力线穿过铁磁材料及其制品时，在其（磁性）不连续处将产生漏磁场，形成磁极。此时撒上干磁粉或浇上磁悬液，磁极就会吸附磁粉，产生用肉眼能直接观察的明显磁痕。因此，可借助于该磁痕来显示铁磁材料及其制品的缺陷情况。磁粉探伤法可探测露出表面，用肉眼或借助于放大镜也不能直接观察到的微小缺陷，也可探测未露出表面，而是埋藏在表面下几毫米的近表面缺陷。用这种方法虽然也能探查气孔、夹杂、未焊透等体积型缺陷，但对面积型缺陷更灵敏，更适于检查因淬火、轧制、锻造、铸造、焊接、电镀、磨削、疲劳等引起的裂纹。磁力探伤中对缺陷的显示方法有多种，有用磁粉显示的，也有不用磁粉显示的。用磁粉显示的称为磁粉探伤，因它显示直观、操作简单、人们乐于使用，故它是**常用的方法之一。不用磁粉显示的，习惯上称为漏磁探伤，它常借助于感应线圈、磁敏管、霍尔元件等来反映缺陷，它比磁粉探伤更卫生，但不如前者直观。由于目前磁力探伤主要用磁粉来显示缺陷，因此，人们有时把磁粉探伤直接称为磁力探伤，其设备称为磁力探伤设备。 上海黑水探伤剂探伤剂可以用于检测电子产品、通讯设备等产品的质量问题。
1.着色渗透探伤剂易燃、有毒，因此操作中必须注意安全。配备必要的劳动防护用品，探伤现场必须有良好的通风条件，并且远离火源。操作人员应站在上风处，并不是边操作边饮食。2.实施探伤前、必须用镀铬试块检验探伤剂的灵敏度，检验探伤剂是否失效。3.探伤面积及其25mm范围内邻近区域上的氧化皮、油污等影响渗透剂渗入的物质，应彻底洗干净。4.清洗后，检测面上遗留的溶剂、水分必须充分干燥后，方可施加渗透剂。5.渗透剂应均匀的喷洒于探测面，探测面的温度在10℃~50℃时，渗透时间至少为10min。6.多余的渗透剂时，应防止过清洗或清洗不足。7.显像剂施加应薄而均匀，使用前应充分摇晃，喷洒距离一般为300~400mm，喷洒角度为30°~40°。显像时间不应小于7min。8.观察显示应在显像剂施加后7~60min内进行，缺陷显示的评定应在白光下进行，通常工件被检面处白光照度应大于1000Lx。9.试块使用后要用**进行彻底清洗，清洗后再将试块放入装有**和污水酒精混合液体的密封容器中保存。
角度在检测中，超声波束的轴线应尽量与缺陷垂直。因此，角度的选择应根据试件中缺陷的类型和位置以及工件允许的探伤条件来选择。根据反射和折射定律以及相关的几何知识，选择合适角度的探头。以探头的K值为例，折射角对探测灵敏度、波束轴线方向、主波声程（入射点到底反射点的距离）有很大影响。当β=40°（k=0.84）时，声压的往复传播率较高，即检测灵敏度较高。可以看出，K值越大，β值越大，主波的声程越大。因此，当工件厚度较小时，应选择较大的K值，以增大一次波的声程，避免近场检测。科技创新，专业品质，我们的探伤剂为您的事业保驾护航。
背景残留少，即使在粗糙的铸件表面也能够产生清晰的缺陷指示。
单位工件渗透液带走量少，节约渗透剂。
良好的表面润湿性和可去除性，使得渗透剂可以快速的施加和去除。
废水极好处理，对生物和环境负荷低。
可水洗、高亮度，高对比度的缺陷指示。
容水率高、高热稳定性、高UV稳定性。
高闪点、低毒性、低挥发性、低气味。
在粗燥表面具有良好的可去除性。
清洗干净后背景残留少。
浊点高、润湿性好、水基无闪点，使用安全。
水洗性能好、清洗时间短、渗透液带走量少。
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X射线检测一种,射线检测,是由于X射线穿过被映照物体后会有损耗,不同厚度不同物质对它们的吸收率不同,而底片放在被映照物体的另一侧,会由于射线强度不同而产生相应的图形,评片人员就能够依据影像来判别物体内部的能否有缺陷以及缺陷的性质。射线检测的适用性和局限性:1、对检测体积型的缺陷比拟敏感,比拟容易对缺陷停止定性。2、射线底片易于保存,有追溯性。3、直观显现缺陷的外形和类型。4、缺陷不能定位缺陷的埋藏深度,同时检测厚度有限,底片需特地送洗,并且对人身体有一定害,本钱较高。总而言之,超声波、X射线探伤适用于探伤内部缺陷;其中超声波适用于5mm以上,且外形规则的部件,X射线不能定位缺陷的埋藏深度,有辐射。磁粉、浸透探伤适用于探伤部件外表缺陷;其中磁粉探伤于检测磁性资料,浸透探伤于检测外表启齿缺陷。 上海黑水探伤剂
