集成电路检测常识：1、要保证焊接质量，焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，较好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。2、测试仪表内阻要大，测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。3、要注意功率集成电路的散热，功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。4、引线要合理，如需要加接外部元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其是要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。TI提供了丰富的参考设计和工具，可以帮助设计师快速选择和评估电源管理芯片。LM2655MTCX-ADJ
集成电路分类：按用途分类，集成电路按用途可分为电视机用集成电路、音响用集成电路、影碟机用集成电路、录像机用集成电路、电脑（微机）用集成电路、电子琴用集成电路、通信用集成电路、照相机用集成电路、遥控集成电路 、语言集成电路、报警器用集成电路及各种专门使用集成电路。 电视机用集成电路包括行、场扫描集成电路、中放集成电路、伴音集成电路、彩色解码集成电路、AV/TV转换集成电路、开关电源集成电路、遥控集成电路、丽音解 码集成电路、画中画处理集成电路、微处理器（CPU）集成电路、存储器集成电路等。TPS40040DRBR根据应用的需求，选择合适的电源拓扑，如降压（Buck）、升压（Boost）、降压升压（Buck-Boost）等。
IC的第三次变革："四业分离"的IC产业，90年代，随着INTERNET的兴起，IC产业跨入以竞争为导向的高级阶段，国际竞争由原来的资源竞争、价格竞争转向人才知识竞争、密集资本竞争。以DRAM为中心来扩大设备投资的竞争方式已成为过去。如1990年，美国以Intel为表示，为抗争日本跃居世界半导体榜首之威胁，主动放弃DRAM市场，大搞CPU，对半导体工业作了重大结构调整，又重新夺回了世界半导体霸主地位。这使人们认识到，越来越庞大的集成电路产业体系并不有利于整个IC产业发展，"分"才能精，"整合"才成优势。
当然现如今的集成电路，其集成度远非一套房能比拟的，或许用一幢摩登大楼可以更好地类比：地面上有商铺、办公、食堂、酒店式公寓，地下有几层是停车场，停车场下面还有地基——这是集成电路的布局，模拟电路和数字电路分开，处理小信号的敏感电路与翻转频繁的控制逻辑分开，电源单独放在一角。每层楼的房间布局不一样，走廊也不一样，有回字形的、工字形的、几字形的——这是集成电路器件设计，低噪声电路中可以用折叠形状或“叉指”结构的晶体管来减小结面积和栅电阻。各楼层直接有高速电梯可达，为了效率和功能隔离，还可能有多部电梯，每部电梯能到的楼层不同——这是集成电路的布线，电源线、地线单独走线，负载大的线也宽；时钟与信号分开；每层之间布线垂直避免干扰；CPU与存储之间的高速总线，相当于电梯，各层之间的通孔相当于电梯间……集成电路技术的进步可以提高电子设备的性能和功耗效率。
集成电路制作工艺，集成电路按制作工艺可分为半导体集成电路和膜集成电路。膜集成电路又分类厚膜集成电路和薄膜集成电路。集成度高低，集成电路按集成度高低的不同可分为：SSIC 小规模集成电路(Small Scale Integrated circuits)；MSIC 中规模集成电路(Medium Scale Integrated circuits)；LSIC 大规模集成电路(Large Scale Integrated circuits)；VLSIC 超大规模集成电路(Very Large Scale Integrated circuits)；ULSIC特大规模集成电路(Ultra Large Scale Integrated circuits)；GSIC 巨大规模集成电路也被称作极大规模集成电路或超特大规模集成电路(Giga Scale Integration)。SOT-223封装通常用于小型和中型电路板上的低功率应用。SN74HC10D
TPS7A88芯片特别话合要求高精度、高稳定件和低功耗的应用场景。LM2655MTCX-ADJ
IC体现出以下特点和发展趋势：(1) 更新性，IC设计技术日新月异。软件技术特别是辅助设计软件（EDA）也是每2～3年就有一个比较大的更新。(2) 紧迫性，一般说来，一个IC的工艺加工周期是固定的。要想快速地开发出适销对路的产品，其速度决定于设计。所以设计师所面临的是以较快的速度设计出正确的、效益较大（成本较低）的产品。(3) 竞争性，一是设计技术不断更新，二是软件不断推陈出新，平均每五年就有一代新技术面世，所以IC设计企业只有不断地进取，才能跟上时代的发展。LM2655MTCX-ADJ
