当谈及黑体炉的温度精度时，必须考虑以下四个因素：•温度传感器（通常是Pt传感器）•电子测试单元•温度传感器和发射面之间的导热材料•反射率只要以上因素中有一个没能控制好，就不能保证温度精度。问题是温度芯片和发射表面之间的热接触无法测量。这也就是为什么在说明温度精度时，厂家只能说明其温度传感器结合他们测试卡的精度，而不是黑体温度的实际精度。总之，厂家给出的精度也许是一个不错的指导。作为需要慎重考虑的参数，DIAS投入了很大的精力在黑体的反射率以及温度传感器和发射面之间的导热材料上，从而保证黑体的温度精度尽可能的接近温度传感器的精度。低温黑体炉通产是指温度范围大部分在室温以下的，比如BR70温度范围为-30~70℃。上海市黑体炉图片
黑体辐射是近代物理史上一只会下金蛋的鹅，是近代物理的摇篮。黑体炉研究的意义还在于这是***一个涉及c, k, h三个普适常数的物理情景。黑体辐射谱抗测量误差的特性带来了辐射标准和***温度参照，谱分布公式对模型的不敏感则使得黑体辐射成为独特的物理研究母题。黑体辐射谱分布公式，普朗克多角度推导过，德拜推导过，艾伦菲斯特推导过，劳厄推导过，洛伦兹和庞加莱深入讨论过，泡利推导过，玻色推导过，爱因斯坦在20多年的时间里多角度推导过且产出**为丰硕，近代还有从相对论角度的推导，每一个角度的推导都带来了物理学的新内容，这包括量子力学、固体量子论、受激辐射、量子统计、相对论统计，等等。认真回顾黑体辐射研究的历史细节，考察其中的思想概念演化。不啻于体验一次教科书式的学（做）物理之旅，比如也可以尝试给出能量局域分立化的简单新证明原装进口黑体炉性价比超大面源黑体炉在行业内属于亟待突破的关键标定设备，是受到限制的“卡脖子”难题。
稳定性是指随着时间的推移黑体能够控制和发射相同的温度的能力。高稳定性能够使黑体在测试过程中保持相同的温度，这对于红外芯片和相机的NETD和噪声测试时非常必要。实际上，**红外芯片和相机拥有低噪声和极小的NETD值，这就要求黑体具有高稳定性，才能遵从测试设备和校正设备之间4：1的测试精度。例如，德国DIAS的CS1500黑体的稳定性为0.002K，所以它是可以应用于所有制冷型红外探测器（这些探测器的典型NETD值是30mKd到10mK）的NETD测试。
当谈及黑体的温度精度时，必须考虑以下四个因素：•温度传感器（通常是Pt传感器）•电子测试单元•温度传感器和发射面之间的导热材料•反射率只要以上因素中有一个没能控制好，就不能保证温度精度。问题是温度芯片和发射表面之间的热接触无法测量。这也就是为什么在说明温度精度时，厂家只能说明其温度传感器结合他们测试卡的精度，而不是黑体温度的实际精度。总之，厂家给出的精度也许是一个不错的指导。作为需要慎重考虑的参数，黑体炉的反射率以及温度传感器和发射面之间的导热材料上，从而保证黑体的温度精度尽可能的接近温度传感器的精度。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过黑体炉和其他配套设备实现的。
黑体炉改变10℃以内的温度需要的温度稳定时间在60秒以内，无论是升温或降温情况下。HGH的黑体可以在任意时间设置成任意想要的温度，不受步骤流程的约束，在降温过程中（低于0℃）。例如，当把一个黑体从100℃降温到25℃时，普通低温黑体大概需要15分钟；对于**黑体来说，它的典型冷却速率为0.2℃/s，所以只需要6分钟就可以从100℃降温到25℃；而HGH的DCN1000黑体系列，*需要3分钟。另外，对于双温应用(例如NETD)，HGH研发了双发射面黑体：TwiN1000黑体。它们有两个**的发射面，温度范围0-150℃，可以满足在两种温度下同时工作的应用需求，是比短升温和降温时间更好的选择。标准黑体作为标准辐射源，主要用于校准辐射温度计、红外温度计和辐射温度传感探测器。上海便携黑体炉
常见的黑体炉按照构造可以分为靶面式和腔体式两种。上海市黑体炉图片
研究发现，发射率越高，黑体辐射对环境的敏感度越低，受环境温度影响越小。黑体炉的优势之一就是其高发射率，所有的扩展面源黑体的发射率都是0.98，腔式黑体的发射率＞0.99。扩展面源黑体的通过其符合LNE（与NIST同等的法国标准）特定的一种特定涂料来实现高发射率。HGH通过对黑体进行辐射校准来实现黑体在1到14um的整个波长范围内其等效发射率达到1。通过一个简单的测试来了解辐射校准的重要性：100℃的条件下，分别在不做辐射校准和做辐射校准的情况下测量黑体（发射率0.98）的温度（通过红外温度计）。不做辐射校准的情况下其表面温度为98℃，而做过辐射校准后其表面温度为100℃。上海市黑体炉图片
