四、照度标准规定:洁净区主要操作间照度不得少于300勒克斯,一般照明的照度均匀度不应小于0.7。洁净区的照度检查每年不得少于一次,在经过设备大修、厂房改造、工艺布局调整等变更的时候应在变更结束后重新检测照度。检测要求:室内照度测度必须在室温已趋稳定,光源光输出趋于稳定后进行(对荧光灯必须有100h)。检测方法:测点平面离地面0.85m,按间距1-2m布点,测点距墙面1m。其要求基本与洁净度的测定位置要求相同。记录实测照度值并计算总的平均照度。照度测量一般*测定除局部照明之外的一般照明。洁净室地面、墙面及天花板的清洁度也是检测内容之一。湖南电子厂房环境检测技术好
5、浮游菌采样点数目对应悬浮粒子采样点数,工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,送风口测点位置离开送风面30cm左右,关键设备或关键工作活动范围处可增加测点,每个采样点一般采样一次。全部采样结束后,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。6、沉降菌工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,将已制备好的培养皿置于采样点,打开培养皿盖,使其暴露规定的时间,再将培养皿盖上,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。7、噪声测量高度距离地面约1.2米,洁净室面积在15平方以下者,可只测室中心1点;面积在15平方米以上,还应再测对角4点,距侧墙各1米,测点朝向各角。8、照度测点平面离地面0.8米左右,按2米间距布点,30平方米以内的房间测点距边墙0.5米,超过30平方米的房间测点距离墙面1米。江西洁净室检测方便客户通过洁净室检测,可以有效降低产品生产过程中的污染风险。
洁净室或洁净设施温、湿度测定,通常分为两个档次:一般测试和综合测试。一个档次适用于处于空态的交竣验收测试,第二个档次适用于静态或动态的综合性能测试。这类测试适用于对温度、湿度性能要求比较严格的场合。本检测在气流均匀性检测之后和空调系统调整之后进行。进行这项检测时,空调系统已经充分运转,各项状况已经稳定。每个湿度控制区至少设置一个湿度传感器,并且给传感器充分的稳定时间。所做测量应适合实际使用的目的,待传感器稳定之后才开始测量,测量时间不少于5分钟。
五、洁净室检测的应用1. 医药行业:医药制造需要在无菌环境下完成,因此需要设立无菌车间(即“百级”车间)。该车间内所有通风系统均需符合GMP规范,并经常性地受到监管机构审核。2. 电子行业:由于微型芯片制造需要极为干燥无尘且高温高压条件下完成,在微电子制造厂中必须建立超纯水站(UPW)以及超纯氮气站(NG)等设施来满足生产需要。3. 航天航空行业:航天器发射前需要进入“百万级”或“十万级”无菌车间进行组装与测试。这些车间具有完成**终装配所需条件(如真空环境),并能够有效防止外界杂质进入舱体内部。洁净室检测需考虑季节性变化对环境参数的影响。
(1)净化处理原则:能用局部净化的场合,就尽可能不用净化;或低级别的净化高级别的局部净化相结合。避免把需要净化的环境分割成较小的空间,这样做虽然有利于控制污染,但这也造成平面复杂化、增加造价、作业程序不易改变、人员流动不方便,以及小房间造成人们心理上的不快。(2)由于气流分布的不均匀和尘粒分布等不均匀性,洁净室的微粒实际上是不均匀分布的,较为典型的三区不均匀分布模型,即分为主流区、涡流区和回风口区。主流区含区含尘浓度可比室平均浓度低30%到一半。建议把工艺布置在主流区内。(3)主要工艺可尽量布置于送风管上风段,上风段相对来说,洁净程度比下风段要好表2为某10万级洁净车间内沿一条送风管走向设置的六个测点检测结果(空态下),测点l~6由上风段依次向下,可以看出,各点尘粒数有较大区别当然,其中也有送风管上各送风口风量没有较好调节的原因,但这种较大区别的可能还是不可忽视。根据洁净室的等级,合理选择洁净室的气流分布流型。江西口罩生产车间环境检测值得推荐
凡有试运转要求的设备单机试运转应符合设备技术文件的有关规定。湖南电子厂房环境检测技术好
人们认为这种单向、平行的气流应该充满整个洁净室,但这在技术和经济上都是不利的。随着知识的发展,人们指出这种单向流动只是“意味着所有的空气在有限的区域内沿着平行的流线匀速流动”,相信涡流的发生可以被尽可能的抑制。尽可能。以通过整个空间的洁净空气的单向流动特性为主的房间也称为单向流动洁净室。也就是说,不需要在整个房间内有单向平行流线、匀速、无涡流,而只需要单向平行流特性来支配房间,例如 整个工作区水平空间保证单向流动,本房间为单向流动洁净室。前面介绍的国内外相关标准和措施中单向流洁净室所达到的高洁净度是指工作区域所达到的洁净度。因此,密集布置的流线型扩压器顶部进料和全孔板顶部进料也被用作实现垂直单向流动的手段。湖南电子厂房环境检测技术好
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...