②沉降菌的测试对单向流如5级净化房间内及层流工作台测试应在净化空调系统正常运行不少于10分钟后开始;对非单向流如7级、8级以上的净化房间测试应在净化空调系统正常运行不少于30分钟开始。a.采样方法:将已制备好的培养皿放置在预先确定的取样点,打开培养皿盖使培养基表面暴露0.5小时再将培养皿盖上盖后倒置。b.培养全部采样结束,将培养皿倒置于恒温培养箱中培养。在30-35℃培养时间不少于48小时。每批培养基应有对照试验检查培养基本身是否污染可每批选定3只培养皿作对照培养。c.菌落计数用肉眼直接计数然后用5-10倍放大镜检查有否遗漏。若培养皿上有2个或2个以上菌落重叠可分辨时仍以2个或2个以上的菌落计数。引入第三方检测机构进行定期审核,确保检测结果的公正性。湖北口罩生产车间环境检测技术好
在单向流洁净室中,洁净气流不是一股或几股,而是充满整个房间截面,所以这种洁净室不依靠洁净气流对室内脏空气的混合稀释作用,而是依靠在干净的气流上推出效果。室内脏空气沿整个断面排到室外,达到净化室内空气的目的。因此,前联邦德国有人将单向流洁净室的气流称为“塞流”、“塞流”,前苏联则称其为“挤压弱气流”。洁净的空气就像一个空气活塞,沿着房间的“气缸”向前(向下)推动,使尘粒只能向前(向下)移动而不能返回, 在单流洁净室和单流净化设备中,逆向气流可以沿着墙壁和两个过滤器的重叠部分下方出现。这种气流会将污染从底部传送到顶部,然后向下传送,破坏上述“塞流”状态,危害极大。对于有开口与外界相连的局部净化设备,如洁净工作台,这种气流会导致外部污染气流。在设计中,必须减少滤框占用的无效面积,减少空间的壁面。尽可能靠近过滤器的有效风截面。湖北排风柜检测认真负责洁净室内有通风柜时,宜置于工作区气流的下风侧,以减少对室内的污染。
四、照度标准规定:洁净区主要操作间照度不得少于300勒克斯,一般照明的照度均匀度不应小于0.7。洁净区的照度检查每年不得少于一次,在经过设备大修、厂房改造、工艺布局调整等变更的时候应在变更结束后重新检测照度。检测要求:室内照度测度必须在室温已趋稳定,光源光输出趋于稳定后进行(对荧光灯必须有100h)。检测方法:测点平面离地面0.85m,按间距1-2m布点,测点距墙面1m。其要求基本与洁净度的测定位置要求相同。记录实测照度值并计算总的平均照度。照度测量一般*测定除局部照明之外的一般照明。
进入洁净室(区)的人员会将外部污染物带入洁净室(区),特别是因为人员本身是污染的重要来源,如:皮肤碎片、衣服和织物的纤维、室外大气中相同性质的颗粒物。由此可见,为获得生产环境所需空气清洁度,进入无菌医疗器械生产洁净室(区)的人员需要进行净化,以减少其对清洁环境和产品的污染。人员净化室应包括:换鞋室、外衣储藏室、洗手间、洁净工作服室、气闸室或缓冲室等。企业应建立人员净化程序和管理制度,并监督管理,以确保规定执行。人员清洁程序应当合理,人员净化室的布局应当遵循方向,避免往复和交叉。温湿度控制是维持洁净室环境稳定的重要因素之一。
1、按洁净度级别划分为1级、2级、3级、4级、5级、6级、7级、8级、9级。9级为低等级别。2、按气流组织分类,洁净室可分为三类:单向流、层流、洁净室。沿单一方向呈平行流线并且横断面上风速一致的气流。其中与水平面垂直的单向流是垂直单向流与水平面平行的单向流是水平单向流。乱流非单向流洁净室凡不符合单向流定义的气流的洁净室。混合流洁净室:单向流和非单向流组合的气流的洁净室。3、按所需控制的空气中悬浮微粒分类,可将洁净室分为工业洁净室和生物洁净室。工业洁净室,它主要控制参数是温、湿度、风速、气流组织、洁净度。生物洁净室它与工业洁净室一样所不同的是控制参数中增加了控制室内细菌的浓度。4、洁净室的检测状态可分为三类。(1)空态设施齐全的洁净室所有管线接通并运行但无生产设备、材料及生产人员。(2)静态已全部建成的设施齐备的洁净室中安装完生产设备并按业主供应商商定的方式试远转,但场内无生产人员。(3)动态设施处于按规定方式运行的状态并有规定的人员在场以规定的方式工作。空气洁净度是洁净环境中空气含悬浮粒子量的多少的程度,通常空气中含尘浓度高则空气洁净度低。生物安全柜检测值得推荐
遵循GMP、ISO等国际标准进行洁净室检测,提升产品质量信誉。湖北口罩生产车间环境检测技术好
洁净室或洁净设施温、湿度测定,通常分为两个档次:一般测试和综合测试。一个档次适用于处于空态的交竣验收测试,第二个档次适用于静态或动态的综合性能测试。这类测试适用于对温度、湿度性能要求比较严格的场合。本检测在气流均匀性检测之后和空调系统调整之后进行。进行这项检测时,空调系统已经充分运转,各项状况已经稳定。每个湿度区至少设置一个湿度传感器,并且给传感器充分的稳定时间。所做测量应适合实际使用的目的,待传感器稳定之后才开始测量,测量时间不少于5分钟。湖北口罩生产车间环境检测技术好
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...