3. 压差检测:洁净室与外界环境的压差是保持洁净室内洁净度的重要因素。压差检测通过对洁净室各区域的压差进行测量,确保洁净室内部与外部环境的压差符合规定要求,从而防止外部污染物进入洁净室。4. 气流速度检测:洁净室内的气流速度对于维持洁净度至关重要。气流速度过快可能导致尘埃粒子飞扬,而气流速度过慢则可能导致尘埃粒子沉积。因此,气流速度检测是评估洁净室气流组织情况的重要手段。5. 表面洁净度检测:洁净室内的各种表面,如墙壁、地面、设备外壳等,也是尘埃粒子容易沉积的地方。表面洁净度检测通过对这些表面的尘埃粒子数量进行检测,评估洁净室内部表面的洁净情况。引入第三方检测机构进行定期审核,确保检测结果的公正性。湖北排风柜检测规范性强
(1)检测前,被测洁净室的运行状态必须在正常状态,其温度、湿度、风量、风压及风速必须在控制的规定值内;被测试的洁净室(区)应已进行过消毒;同时,洁净室的测试状态必须符合生产工艺的要求,并在测试报告中注明其测试状态(空态、静态、动态)。(2)测试人员必须穿戴洁净服,而且一般不得超过两个人。(3)净化空调系统正常运转时间对单向流如5 级(100 级)洁净室或层流工作台不得少于10min;对非单向流如7 级(10000 级)、8 级(100000 级)的洁净室不得少于30min。安徽实验室环境检测技术好洁净室地面、墙面及天花板的清洁度也是检测内容之一。
a.首先应对测试仪器、培养皿表面进行严格消毒,采样器进入被测房间时,先用消毒房间的消毒剂灭菌。用于5级洁净房间的采样器宜一直放在洁净房间。b.采样者应穿戴洁净服双手要消毒。c.开动真空泵抽气使仪器中的残余消毒剂蒸发时间不少于5min,并调好流量转盘转速。关闭真空泵放入培养皿盖好盖子后调节采样器。d.置采样口于采样点后依次开启采样器、真空泵、转动定时器、根据采样量选定采样时间。全部采样结束后,将培养皿倒置于30-35℃恒温培养箱中,培养时间不少于48h。e.用肉眼直接计数,然后用5-10倍放大镜检查是否有遗漏,若平板上有两个或两个以上的菌落重叠分辨时,仍以两个或两个以上菌落计数。
洁净室是空气悬浮粒子浓度受控的房间。它的建造和使用应减少室内入、产生及滞留粒子。室内其它有关参数如温度、湿度、压力等要求进行控制。洁净区是空气悬浮粒子浓度受控的限定空间。它的建造和使用应减少空间内入、产生及滞留粒子。空间内其它有关参数如温度、湿度、压力等要求进行控制。洁净区可以是开放式或封闭式。空气洁净度是指洁净环境中空气含尘微粒量多少的程度含尘浓度高则洁净度低含尘浓度低则洁净度高。空气洁净度的具体高低则是用空气洁净度级别来区分的,而这种级别又是用操作时间内空气的计数含尘浓度来表示,也就是把从某一个低的含尘浓度起到不超过另一个高的含尘浓度指这一个含尘浓度范围为某一个空气洁净度级别。悬浮粒子是指用于空气洁净度分级的空气中悬浮粒子尺寸范围在0.15μm的固体和液体粒子。洁净室检测数据应与其他质量控制数据相结合,综合分析。
对单向流如5级净化房间内及层流工作台测试应在净化空调系统正常运行不少于10分钟后开始;对非单向流如7级、8级以上的净化房间测试应在净化空调系统正常运行不少于30分钟开始。a.采样方法:将已制备好的培养皿放置在预先确定的取样点,打开培养皿盖使培养基表面暴露0.5小时再将培养皿盖上盖后倒置。b.培养全部采样结束,将培养皿倒置于恒温培养箱中培养。在30-35℃培养时间不少于48小时。每批培养基应有对照试验检查培养基本身是否污染可每批选定3只培养皿作对照培养。c.菌落计数用肉眼直接计数然后用5-10倍放大镜检查有否遗漏。若培养皿上有2个或2个以上菌落重叠可分辨时仍以2个或2个以上的菌落计数。有足够的风量,既为了稀释空气的含尘浓度,又保证有稳定的气流流型。上海检测规范性强
对于来流的洁净度,对通过高效以上过滤器送风的单向流洁净室来说是不成问题的。湖北排风柜检测规范性强
每台风机出风面至少1点平均风速范围:m/s±20%额定风量测定用风量罩测试送风量风量罩的上开口应完全罩住过滤器或散流器C.产生气溶胶位置:回风口,风机进风口或发烟孔气溶胶发生器与高效过滤器之间没有滤器或已拆除D.产生气溶胶设置温度、供气压力及气溶胶数量E.光度计设置气溶胶浓度调节F.检漏扫描整个过滤器和安装所有边框和接点。采样头扫描速率≤5cm/s(3cm*3cm)。采样头扫描速率≤3cm/s(5cm*1cm)。采样头距离滤器表面距离≤3cm.检漏扫描所有结构部件:a)支架和建筑物之间b)支架和滤器边框之间c)整个滤器d)密封条、框架及支架之间e)采样头扫描速率≤5cm/s(3cm*3cm)f)采样头扫描速率≤3cm/s(5cm*1cm)g)采样头距离滤器表面距离≤3cmG.高效过滤器检漏标准泄露率≤6.高效过滤器完整性检测标准(高效过滤器检漏标准)ISO14644-3。湖北排风柜检测规范性强
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...