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、温湿度标准规定:洁净区的温度和相对湿度与药品生产工艺要求相适应。无特殊要求时,洁净区温度为18℃~26℃,相对湿度控制在45%~65%。有特殊要求车间根据工艺控制。温度观察:检查温湿度计是否完整,视线正对温湿度计水平读取显示的数据,需要记录的应立即填入表格中。湿度观察:视线正对湿度表,准确读数。需记录的应立即填入表格中。需要加水的湿度计,在观察前应检查在蓄水腔内是否有水,无水则需加入适量水,再观察湿度。洁净区的温湿度每天至少记录两次,上午一次,下午一次。设备计量人员每年至少组织校验一次监控系统的仪器设备。采用非接触式检测技术,减少对洁净室的潜在污染。湖南洁净室检测服务至上

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(一)根据洁净度级别和空气净化系统确认的结果及风险评估,确定取样点的位置并进行日常动态监控。(二)在关键操作的全过程中,包括设备组装操作,应当对A级洁净区进行悬浮粒子监测。生产过程中的污染(如活生物、放射危害)可能损坏尘埃粒子计数器时,应当在设备调试操作和模拟操作期间进行测试。A级洁净区监测的频率及取样量,应能及时发现所有人为干预、偶发事件及任何系统的损坏。灌装或分装时,由于产品本身产生粒子或液滴,允许灌装点≥5.0μm的悬浮粒子出现不符合标准的情况。(三)在B级洁净区可采用与A级洁净区相似的监测系统。可根据B级洁净区对相邻A级洁净区的影响程度,调整采样频率和采样量。(四)悬浮粒子的监测系统应当考虑采样管的长度和弯管的半径对测试结果的影响。(五)日常监测的采样量可与洁净度级别和空气净化系统确认时的空气采样量不同。(六)在A级洁净区和B级洁净区,连续或有规律地出现少量≥5.0µm的悬浮粒子时,应当进行调查。湖南实验室检测认真负责检测过程中,应确保所有设备处于正常工作状态。

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1、仪器设备及环境测量仪器尘埃粒子计数器、气溶胶发生器。环境温度常温或设计温度下。2、抽样高效过滤器本体在进入现场前,生产厂家应按规定进行性能试验,并提供合格证。在单向流洁净室对安装的高效空气过滤器应该逐台进行检漏,乱流洁净室对于7级或更低级别的洁净室,只要洁净室达到了所要求的空气洁净度级别,就可以不进行检漏。3、技术要求检漏的结果要符合条件:由受检过滤器下风侧测到的漏泄浓度换算成透过率,对于高效过滤器应不大于过滤器出厂合格率的2倍,对于超高效过滤器应不大于出厂合格透过率的3倍。4、操作过程及判定过滤器的检漏是指安装完成的空气过滤器的检漏适用于空态或静态的洁净室。

洁净室或洁净设施温、湿度测定,通常分为两个档次:一般测试和综合测试。一个档次适用于处于空态的交竣验收测试,第二个档次适用于静态或动态的综合性能测试。这类测试适用于对温度、湿度性能要求比较严格的场合。本检测在气流均匀性检测之后和空调系统调整之后进行。进行这项检测时,空调系统已经充分运转,各项状况已经稳定。每个湿度区至少设置一个湿度传感器,并且给传感器充分的稳定时间。所做测量应适合实际使用的目的,待传感器稳定之后才开始测量,测量时间不少于5分钟。洁净环境是为生产工艺服务的。

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5、浮游菌采样点数目对应悬浮粒子采样点数,工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,送风口测点位置离开送风面30cm左右,关键设备或关键工作活动范围处可增加测点,每个采样点一般采样一次。全部采样结束后,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。6、沉降菌工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,将已制备好的培养皿置于采样点,打开培养皿盖,使其暴露规定的时间,再将培养皿盖上,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。7、噪声测量高度距离地面约1.2米,洁净室面积在15平方以下者,可只测室中心1点;面积在15平方米以上,还应再测对角4点,距侧墙各1米,测点朝向各角。8、照度测点平面离地面0.8米左右,按2米间距布点,30平方米以内的房间测点距边墙0.5米,超过30平方米的房间测点距离墙面1米。洁净室的设计布局应便于检测和维护工作的开展。湖南排风柜检测值得推荐

对于不安装过滤器的风口可按综合效能普通通风空调风口风量测试的方法进行。湖南洁净室检测服务至上

五、洁净室检测的应用1.医药行业:医药制造需要在无菌环境下完成,因此需要设立无菌车间(即“百级”车间)。该车间内所有通风系统均需符合GMP规范,并经常性地受到监管机构审核。2.电子行业:由于微型芯片制造需要极为干燥无尘且高温高压条件下完成,在微电子制造厂中必须建立超纯水站(UPW)以及超纯氮气站(NG)等设施来满足生产需要。3.航天航空行业:航天器发射前需要进入“百万级”或“十万级”无菌车间进行组装与测试。这些车间具有完成**终装配所需条件(如真空环境),并能够有效防止外界杂质进入舱体内部。湖南洁净室检测服务至上

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B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...

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