A、室内测试人员必须穿洁净服,不得超过2人,应位于测试点下风侧并远离测试点,并应保持静止。进行换点操作时动作要轻,应减少人员对室内洁净度的干扰。B、设备要在校准期内使用。C、检测前和检测后设备“清零”D、在单向流区域,所选择的采样探头应接近等动力采样,进入采样探头的风速与被采空气的风速偏差不应超过20%。若无法做到这一点,将采样口正对气流的主方向。非单向流的采样点,采样口应竖直向上。E、采样口至粒子计数器传感器的连接管应尽量短。采样点一般离地面0.8-1.2m左右,要均匀科学布点,而且要避开回风口。对任何小洁净室或局部空气净化区域,采样点的数目都不得少于2个,总采样数可根据面积开2次根求得。洁净室检测需考虑季节性变化对环境参数的影响。实验室检测规范性强
3.压差检测:洁净室与外界环境的压差是保持洁净室内洁净度的重要因素。压差检测通过对洁净室各区域的压差进行测量,确保洁净室内部与外部环境的压差符合规定要求,从而防止外部污染物进入洁净室。4.气流速度检测:洁净室内的气流速度对于维持洁净度至关重要。气流速度过快可能导致尘埃粒子飞扬,而气流速度过慢则可能导致尘埃粒子沉积。因此,气流速度检测是评估洁净室气流组织情况的重要手段。5.表面洁净度检测:洁净室内的各种表面,如墙壁、地面、设备外壳等,也是尘埃粒子容易沉积的地方。表面洁净度检测通过对这些表面的尘埃粒子数量进行检测,评估洁净室内部表面的洁净情况。排风柜检测优化价格静电控制检测对于电子制造业的洁净室尤为重要。
五、洁净室检测的应用1.医药行业:医药制造需要在无菌环境下完成,因此需要设立无菌车间(即“百级”车间)。该车间内所有通风系统均需符合GMP规范,并经常性地受到监管机构审核。2.电子行业:由于微型芯片制造需要极为干燥无尘且高温高压条件下完成,在微电子制造厂中必须建立超纯水站(UPW)以及超纯氮气站(NG)等设施来满足生产需要。3.航天航空行业:航天器发射前需要进入“百万级”或“十万级”无菌车间进行组装与测试。这些车间具有完成**终装配所需条件(如真空环境),并能够有效防止外界杂质进入舱体内部。
洁净室或洁净设施温、湿度测定,通常分为两个档次:一般测试和综合测试。档次适用于处于空态的交竣验收测试,第二个档次适用于静态或动态的综合性能测试。这类测试适用于对温度、湿度性能要求比较严格的场合。本检测在气流均匀性检测之后和空调系统调整之后进行。进行这项检测时,空调系统已经充分运转,各项状况已经稳定。每个湿度控制区至少设置一个湿度传感器,并且给传感器充分的稳定时间。所做测量应适合实际使用的目的,待传感器稳定之后才开始测量,测量时间不少于5分钟。乱流(非单流)洁净室的净化原理是稀释原理。一般型式为高效过滤器送风口顶部送风。
a.首先应对测试仪器、培养皿表面进行严格消毒,采样器进入被测房间时,先用消毒房间的消毒剂灭菌。用于5级洁净房间的采样器宜一直放在洁净房间。b.采样者应穿戴洁净服双手要消毒。c.开动真空泵抽气使仪器中的残余消毒剂蒸发时间不少于5min,并调好流量转盘转速。关闭真空泵放入培养皿盖好盖子后调节采样器。d.置采样口于采样点后依次开启采样器、真空泵、转动定时器、根据采样量选定采样时间。全部采样结束后,将培养皿倒置于30-35℃恒温培养箱中,培养时间不少于48h。e.用肉眼直接计数,然后用5-10倍放大镜检查是否有遗漏,若平板上有两个或两个以上的菌落重叠分辨时,仍以两个或两个以上菌落计数。检测是验证洁净室是否达标的一个指标。上海洁净室检测哪家好
压差检测有助于确认洁净室与非洁净区之间的隔离效果。实验室检测规范性强
-连接氮气,检查氮气供气压力为50psig()。,等几分钟后,气溶胶到达终端过滤器。?将扫描探头与上游浓度测试孔相连接。?按?或?键,使光标停留在“上游80%浓度检测”,按“确认”;观察上游浓度数值,调节读数在20-80之间,读数稳定后记录下读数。?将扫描探头与下游浓度测试孔相连接。?调整光标至“使用内部参考值”?按“确认”键,调节参数值至测定的上游浓度值。?扫描过滤器表面及边框,距滤器表面距离约3cm。?采样头的往复扫描速度Sr约为15/Wp,使用3cm*3cm正方形采样头时,Sr=5cm/s;采用5cm*1cm的长方形采样头,Sr=3cm/s。(Sr为扫描速度,Wp为垂直于扫描方向的采样头宽度)。?将上游浓度测试管与上游浓度测试孔相连接。?按?或?键,使光标停留在“上游80%浓度检测”,按“确认”;观察上游浓度数值。上游浓度随时间变化不应超过平均测量值的±15%。?关闭气溶胶按钮。?氮气继续通过气溶胶发生器约30秒。?关闭N2。?关闭电源。表1高效过滤器完整性测试操作步骤局部层流/房间百级(高效检漏)非层流洁净室(高效检漏)A.拆除层流罩B.额定风速确定测量点距过滤器出风面约150-300mm测试点数取测试面积10倍的平方根,且不少点。实验室检测规范性强
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...