洁净室的主要作用是控制产品(如硅片等)所接触的大气的洁净室洁净度和温湿度,使产品能够在良好的环境空间中生产制造,从而我们称之为洁净室。按照国际惯例,无尘净化等级主要是根据空气中每立方米直径大于分类标准的颗粒数量来规定的。也就是说,所谓的无尘,并不是100%没有一点灰尘,而是控制在极少量的单位。当然,这个标准中符合粉尘标准的颗粒物,相对于我们常见的粉尘来说是非常小的,但是对于光学结构来说,哪怕是一点点的粉尘也会产生非常大的负面影响各类调节装置应严密、调节灵活、操作方便。北京电子厂房环境检测规范性强
在单向流洁净室中,洁净气流不是一股或几股,而是充满整个房间截面,所以这种洁净室不依靠洁净气流对室内脏空气的混合稀释作用,而是依靠在干净的气流上推出效果。室内脏空气沿整个断面排到室外,达到净化室内空气的目的。因此,前联邦德国有人将单向流洁净室的气流称为“塞流”、“塞流”,前苏联则称其为“挤压弱气流”。洁净的空气就像一个空气活塞,沿着房间的“气缸”向前(向下)推动,使尘粒只能向前(向下)移动而不能返回,在单流洁净室和单流净化设备中,逆向气流可以沿着墙壁和两个过滤器的重叠部分下方出现。这种气流会将污染从底部传送到顶部,然后向下传送,破坏上述“塞流”状态,危害极大。对于有开口与外界相连的局部净化设备,如洁净工作台,这种气流会导致外部污染气流。在设计中,必须减少滤框占用的无效面积,减少空间的壁面。尽可能靠近过滤器的有效风截面。安徽生物安全柜检测认真负责其面积、层高,温度、湿度,洁净度等应该该高则高,该低则低,并非越高越好。
单向流洁净室的流动状态从雷诺数看是湍流,所以所谓层流洁净室中的层流和流体力学中的层流是完全不同的概念。因此,层流洁净室一词是不恰当的,国外的一些标准和文章也指出了这一点。例如,英国标准BS-5295曾将所谓的层流洁净室定义为单向流洁净室。层流在括号中表示。原联邦德国标准VDl-2083使用“非湍流置换流”一词,并在注释中指出层流的概念只是为了区分比层流更早出现的湍流(turbulent)流洁净室整理房间。在当时使用的成语中,“层流系统”的确切含义不是分层流,而是湍流的置换流。本章提到的概念是湍流的渐进流。在流体力学中,这种流动状态也可以称为平行流动或单向流动。1977年,我国在《清洁空气技术措施》中选择了“平行流”一词,并指出习惯上在该词后称其为“层流”。
5、浮游菌采样点数目对应悬浮粒子采样点数,工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,送风口测点位置离开送风面30cm左右,关键设备或关键工作活动范围处可增加测点,每个采样点一般采样一次。全部采样结束后,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。6、沉降菌工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,将已制备好的培养皿置于采样点,打开培养皿盖,使其暴露规定的时间,再将培养皿盖上,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。7、噪声测量高度距离地面约1.2米,洁净室面积在15平方以下者,可只测室中心1点;面积在15平方米以上,还应再测对角4点,距侧墙各1米,测点朝向各角。8、照度测点平面离地面0.8米左右,按2米间距布点,30平方米以内的房间测点距边墙0.5米,超过30平方米的房间测点距离墙面1米。在工作区应避免涡流区;尽量使送入房间的洁净度高的空气直接到达工作区。
1、医院洁净手术部:风速、换气次数、静压差、洁净度级别、温湿度、噪声、照度、细菌浓度。2、医药工业洁净厂房:空气洁净度等级、静压差、风速或风量、气流流型、温度、相对湿度、照度、噪声、自净时间、已安装过滤器泄漏、浮游菌、沉降菌。3、电子工业洁净厂房:空气洁净度等级、静压差、风速或风量、气流流型、温度、相对湿度、照度、噪声、自净时间。4、食品工业洁净用房:定向气流、静压差、洁净度、空气浮游菌、空气沉降菌、噪声、照度、温度、相对湿度、自净时间、甲醛、Ⅰ级工作区截面风速、开发的洞口风速、新风量。使用激光尘埃粒子计数器可以精确测量空气中的微粒浓度。浙江排风柜检测值得推荐
洁净室地面、墙面及天花板的清洁度也是检测内容之一。北京电子厂房环境检测规范性强
3.压差检测:洁净室与外界环境的压差是保持洁净室内洁净度的重要因素。压差检测通过对洁净室各区域的压差进行测量,确保洁净室内部与外部环境的压差符合规定要求,从而防止外部污染物进入洁净室。4.气流速度检测:洁净室内的气流速度对于维持洁净度至关重要。气流速度过快可能导致尘埃粒子飞扬,而气流速度过慢则可能导致尘埃粒子沉积。因此,气流速度检测是评估洁净室气流组织情况的重要手段。5.表面洁净度检测:洁净室内的各种表面,如墙壁、地面、设备外壳等,也是尘埃粒子容易沉积的地方。表面洁净度检测通过对这些表面的尘埃粒子数量进行检测,评估洁净室内部表面的洁净情况。北京电子厂房环境检测规范性强
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...