接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标，因为实际的接触电阻很难测量。一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候，针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触，这与接触电阻（CRes）直接相关。高精度的电子设备针座连接器，准确无误。3.96mm 针座标准尺寸
针座市场逐年增长：半导体测试对于良率和品质控制至关重要，是必不可少的环节，主要涉及两种测试（CP测试、FT测试等）、三种设备（针座、测试机、分选机等）。根据半导体产线投资配置规律，测试设备在半导体设备投资的占比约为8%，次于晶圆制造装备，其中测试机、分选机、针座的占比分别为63.10%、17.40%、15.20%。中国半导体市场飞速增长。在全球贸易摩擦背景下，半导体行业国产化率提高成为必然趋势，国内半导体产业的投资规模持续扩大。韶关3.96mm 针座生产厂商耐用的电子元件连接器针座，可靠之选。
可调节结构的纺织机针座，包括纺织机针座主体，纺织机针座主体的内部固定安装有导向轴和导向轴通孔，且导向轴通孔套接在导向轴上，在导向轴通孔的侧面设置有条状凹槽，导向轴套接在固定卡口的内部，且导向轴通过固定卡口连接有转动轴，在转动轴上设置有防滑纹路，导向轴的侧面固定安装有第1排针组，第二排针组和第三排针组。该可调节结构的纺织机针座，通过设置三组织针间距不一的排针组，这样就实现了织针间距位置的调节，结构简单，使用方便，适用于多种纺织设备，设置固定卡口。
半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：1.参数探测：提供制造期间的装置特性测量；2.晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；3.以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。连接器针座，实现电子设备完美连接。
针座主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。针座从操作上来区分有：手动，半自动，全自动。从功能上来区分有：温控针座，真空针座（很低温针座），RF针座，LCD平板针座，霍尔效应针座，表面电阻率针座。经济手动型根据客户需求定制：chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选）；移动行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选）；chuckZ轴方向升降10mm（选项）方便针座与样品快速分离；显微镜：金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜（可选）；显微镜移动方式：立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型（可选）；针座座：有0.7um、2um、10um精度可选，磁性吸附带磁力开关；可搭配Probecard测试；适用领域：晶圆厂、研究所、高校等。选择可靠的连接器针座，保障设备正常运行。江门20p针座规格参数
可靠的电子连接器针座，性能出众。3.96mm 针座标准尺寸
安全注射器及其针体针座回抽装置，安全注射器主要包括有一筒体，一推送件，一回抽件及一针头组;该筒体呈中空圆筒体并分别具有一针头组安装端及一操作握持端，并于该筒体内部形成一筒腔，该推送件可抽拔地设置于该筒腔内，并于该推送件的内部形成一推杆腔，该回抽件可气密滑移地设置于该推杆腔，该针头组对应设置于该针头组安装端;能够通过该回抽件使该推送件的内部形成真空状态，并在注射完成后，藉由该推送件内部的真空吸力将已使用后的废弃针头组回抽入该推杆腔内，以达到安全处置该注射器的目的。3.96mm 针座标准尺寸
