深圳两线制雷达物位计源头

雷达物位计是目前物位测量仪表中的佼佼者，不管是测量液体还是固体，都不受现场工况的影响，该物位计配备液晶面板，可以显示倾斜及波形。使用通用调整软件，可在电脑上设定物位计进行调整。配线口配备旋转机构，在狭窄的地方也可轻松设置。雷达物位计的特点是：不用接触目标物体，传感器不会粘附检测物质；即使目标物体的温度、密度及粘性发生变化，也不易受到影响；还不易受到罐内空气及气体等传播媒体，或高温、高压、真空及腐蚀性条件等周围环境因素的影响。雷达物位计非接触测量，避免介质污染。深圳两线制雷达物位计源头

雷达物位计按工作方式可以分为非接触式和接触式两种。非接触式微波物位计常用喇叭或杆式天线来发射与接收微波，对于料仓，仪表安装在料仓顶部，不与被测介质接触，对于液体安装在罐的顶部，微波在料仓和罐顶上部空间传播与返回。安装简单、维护量少，并且不受罐仓内气体成分、粉尘、温度变化等的影响深受我们的欢迎，可替代劳动强度大的人工投尺或带重锤的卷尺、维修率高的接触式仪表。因此，非接触式微波物位计是近年来发展非常快使用非常广的物位测量仪表。长沙20m量程雷达物位计小尺寸安装雷达物位计安装简便，维护成本低。

雷达物位计目前已成为市场上的主流产品，主要分为脉冲雷达物位计和导波雷达物位计。低频脉冲雷达物位计尽管具有价格相对低廉的优点，但在主要应用领域中，属于逐渐被淘汰的产品。与低频脉冲雷达物位计相比，高频脉冲雷达物位计在应用过程中有以下优点:1.高频雷达物位计(主要指26GHz和80GHz)具有能量高，波束角小，天线尺寸小，精度高等点。2.26GHz雷达波长11mm，6GHz雷达波长50mm，雷达物位计在测量散装料位时，雷达波反射主要来自料面的漫反射，漫反射的强度与物料大小成正比，与波长成反比，而大部份散装料直径远远小于50mm，这就是目前26GHz雷达是测量散装料物位比较好选择的原因。3.在一些直径小而高度并不是很高的小型罐的应用中，6GHz雷达天线长(300-400mm)无形中增大了盲区(大约600mm)，另外由于6GHz雷达方向性差(开角大)在小罐中会产生多径反射;而26GHz雷达频率高，天线短，方向性好，克服了6GHz雷达的缺点，适用于小罐测量。4.由于现场环境恶劣，随着时间推移，雷达天线会堆积污物、水汽等，26GHz雷达天线小，附加天线罩可**改善因污物、水汽造成的影响;6GHz雷达天线大，加天线罩很困难。且仪表较沉重，清理困难。

 雷达液位计采用非接触的方式进行测量，是一款使用率很高的液位测量仪表，通过发射高频电磁波并接收反射回来的信号来测量液位高度。雷达液位计的优缺点  雷达液位计的优点是准确、稳定、抗干扰能力强。缺点是使用时需要将天线放入液面以下，操作较为麻烦，并且在强干扰环境下可能无法正常工作。  超声波液位计的优点是抗干扰能力强、操作简单、测量结果准确。缺点是准度可能不如雷达液位计高，并且在液体中含有气泡或杂质时，测量结果可能会有误差。雷达物位计可以通过远程监测和控制，减少人员的工作强度和风险。

WD86连续波调频雷达物位计，支持两线制和四线制应用，产品量程高达120米，盲区小于8毫米,产品尤其适合固体场合测量应用；高能电磁波通过同一透镜发射和接收，简单且高效，在高粉尘、低介电常数且温湿度恶劣环境下具有独特的优势；产品提供法兰、螺纹等标准现场仪表接口，安装简易便捷。优点•基于集成一体式的CMOS毫米波射频芯片，实现更紧凑的射频架构，更高的信噪比，更小的盲区。•W波段FMCW连续调频波雷达具有窄发射角和小天线独特优势，窄3。天线波束角，安装环境中的干扰对仪表的影响更小，安装更为便捷；5GHz工作带宽，使产品拥有更高的测量分辨率与测量精度。•全系列使用耐化学腐蚀的PTFE材质透镜天线。•支持多种安装接口，适应各种测量现场和测量角度。•支持多种现场总线通讯，HART/RS485/M0DBUS。•支持多种现场调试方式，更方便技术人员现场维护。•支持隔爆和本安应用场合。雷达物位计测量迅速，实时反映液位变化。北京高精度雷达物位计源头厂家

雷达物位计助力环保监测，保护生态环境。深圳两线制雷达物位计源头

雷达液位计的特点  相比普通的液位计，雷达液位计主要有以下几个特点:  准确度高：雷达液位计采用高频电磁波进行测量，能够深度穿透的液体，从而实现准确的液位测量。  适应性：雷达液位计有普遍适用性，可以适应不同类型的液体与测量环境。它不仅能够测量清水，还能够测量污水、酸碱液、化学品等不同类型的液体。  非接触式测量：雷达液位计是一种非接触式的液位测量仪器，可以避免传统液位计需要插入液体中所带来的不便和风险，更加安全。  快速测量：雷达液位计测量速度非常快，可以实现在短时间内快速测量液位，从而提高生产效率。  远程监控：雷达液位计可以实现远程监控，使得液位测量更加高效和便捷，同时也可以减少人为因素带来的误差。深圳两线制雷达物位计源头