上海明策高精度红外测温仪采用了先进的红外测温技术，能够快速、准确地测量物体的表面温度。其重心部件采用了高质量的红外探测器，具有高灵敏度、高分辨率和快速响应的特点。无论是在高温、低温还是复杂的环境中，都能稳定地工作，为用户提供精细可靠的温度数据。该测温仪还配备了先进的信号处理算法，能够有效地去除干扰信号，提高测量的准确性。同时，它还具有自动校准功能，能够根据环境温度的变化自动调整测量参数，确保测量结果的准确性和稳定性。明策高精度红外测温仪，性能出色，可在纺织行业检测设备温度。MIKRON高精度红外测温仪技术参数
IN 5/9红外测温仪是专门为测量蓝宝石晶体和蓝宝石晶片的温度而设计，采用数字信号处理技术，精度高， 0/4..20mA两种可切换模拟信号;RS232/RS485数字接口，可以很方便得连接到电脑上实时动态监测测量情况，并保存到电脑上;也可以在电脑上对测温仪参数进行设置;为了满足不同的测量需要，有6种镜头可供选择;采用激光瞄准，可以方便精细的瞄准被测目标点。配有用于电气装置的连接头，连接电缆线从2米到30米之间可根据自己的需要选择长短。MIKRON高精度红外测温仪技术参数明策红外测温仪，稳定性能好，可用于水产养殖的温度监控。
IN5/5红外测温仪和IN5/5plus系列专业用于非接触式测量玻璃表面和石英玻璃表面的温度;
IN5/5是一款双线制、紧凑型、高精度的红外测温仪，采用数字信号处理技术，精度高，连接简便，只需要两根线连接;一体式的设计、坚固的不锈钢外壳、IP65防护标准。
IN5/5plus型号则配置了0..20mA和4..20mA两种模拟输出信号;还配器了可选的RS232/RS485数字接口，从而可以将测温仪连接电脑实时监测并输出测量数据并存储到电脑上;还可以用电脑对测温仪的参数进行远程设置。
IN5/5-Lplus型号配置了更好测量视域的光学镜头，提供更好的光学系数比，用于远距离、小目标物体的测量。
IN5-Hplus型号具有0.01秒的响应速度，用于需要快速测量场合。
为了满足各种测量距离和大小的目标物体，有三种镜头可选，可以根据实际测量距离、目标物尺寸来选择合适的镜头。配有用于电气装置的连接头，连接电缆线从2米到30米之间根据需要选择。
IS 12是一款数字式、高精度的红外测温仪，用于非接触式测量金属、非金属、陶瓷、石墨、复合材料等各种物体的温度，有6个不同的固定焦距镜头和3个可变焦镜头选择，0.1mm光斑，用于测量极其微小的目标物体。
IS12红外测温仪参数可以通过按键来选择，并可显示在测温仪LED显示屏上。在测量模式下，可以实时显示实际温度。测温仪具有.0..20mA和4.20mA模拟信号输出，还配备了RS232和RS485数字接口(通过按键进行切换)。此外，还可连接电脑，通过InfraWin软件读取温度和测温仪参数;如有需要，更可通过电脑更改这些参数。两个可调节限制开关用于启动转换过程，如识别测量光束中的热物体。测温仪有目视瞄准或激光瞄准两种方式用来瞄准物体。
IS12-S和IGA12-S系列还带有内罟的线性扫描器，扫描可以以一定的角度摆动，从而使测量光束可以上下调节4°，从而在测量物体上循环线性扫描测量温度。 明策红外测温仪，功能齐全，可在玩具制造行业进行温度监测。
IS50-S1-LOplus红外测温仪是IS50-L0plus的特殊型号，采用特殊的红外探测器，专门用于硅片的温度测量，该仪器配备了一根光纤以及一个可更换的光学镜头，不受电磁干扰(如:感应，辐射)的影响，最高耐温可达250℃，非常适合高温环境的温度测量。根据不同的测量距离，有两个不同的光学镜头供选择，可实现极小的光斑尺寸。激光瞄准可以用来精确的瞄准测量物体。响应时间小于1毫秒，可实现快速加热过程的测量。
该测温仪还配备了一个显示屏，用以显示测量模式下的当前温度。此外，所有通过仪器上的集成键盘进行设置的参数都可在屏幕上读取。该仪器还配置了RS232或RS485数字接口，温度可通过数字接口连接电脑，采用随机的nfraWin软件对系统实时动态跟踪测量并存储在电脑中，还可对参数进行设置。 明策红外测温仪，测量精度高，操作简便，可满足食品加工行业对温度监控的需求。甘肃高精度红外测温仪调试
明策高精度红外测温仪，响应速度快，数据可靠，在仓储行业广泛应用。MIKRON高精度红外测温仪技术参数
UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。
蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率主要特点使用紫外波段直接测量GaN层温度；
使用脉冲光源实时快速测量发射率；
使用真正的光计数仪器将测量中的噪声降至低；
防止由于延迟采样（无快门打开和关闭）而造成的数据偏差
测温范围：650至1300℃
重复精度0.01°C(seeTN-828) MIKRON高精度红外测温仪技术参数
