Ls-dAL光源是多通道标准光源,有四种工作模式,具有的动态范围、可连续调节光强度(能够模拟超亮的白天和黑夜)、计算机化设计,可用于测试可见光-短波红外相机(彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机),用于中/远程监测应用。
工作模式①卤素灯,色温2856K,模拟夜晚和典型的白天②白光LED,色温超过5000K,模拟极亮的白天③镐强度紫外LED,检测抗紫外线的能力
总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D(白天版本)10μcd/m2-10kcd/m2–DN(白天/夜晚版本)(注:亮度范围可以扩展) 光电测试系统,保障新能源汽车电池安全。光电测试系统生产厂家
TCB系列黑体是差分面源黑体,旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的温度通常从0℃至100℃可调节,但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面(从50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的发射器,高达1000x1000mm的尺寸。
用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。
Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2oD)。但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2OD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 广西平行光管光电测试系统光电系统,应用于电梯维护,确保运行安全。
靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标,2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射,生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。
版本型号:
FUT以下列不同标准尺寸的形式提供:FUT118:辐射源尺寸1100x800mm(11x8个100mm大小正方形区域);FUT1511:辐射源尺寸1500x1100mm(15x11个100mm大小正方形区域);FUT2020:辐射源尺寸1900x1900mm(19x19个100mm大小正方形区域);FUT2216:辐射源尺寸2200x1600mm(22x16个100mm大小正方形区域)。还可以定制化交付不同尺寸和图案的定制化FUT靶标。
FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。
测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试 Inframet TFEV测温仪测试系统,提升玻璃制造行业透明度检测。
JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。
测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 光电测量,为体育用品质量检测提供坚实保障。广西平行光管光电测试系统
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LAFT移动式热像仪测试系统,可以将目标图像直接投射到被测热像仪。热像仪输出对应图像,根据图像即可评价热像仪的性能。推荐在外场条件下使用LAFT,如果在实验室/仓库条件下,此时可以使用长走廊作为测试场所。在适当的测量条件下,LAFT测试系统的测量精度与实验室级DT系列测试系统的测量精度相同。野外和实验室内应用的多功能测量工具可以装在箱子里运输到任何地方可以同时测量几个热像仪(同时投影到几个热像仪上成像)
产品参数
LAFT-A:MRTD,MDTDLAFT-B:MRTD,MDTD,MTF,NETD,FPN,非均匀性,SiTF,畸变,FOV,部分轮廓靶的探测、识别和辨别 光电测试系统生产厂家