BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本，可以弥补TCB其他型号的不足：大尺寸面源，需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件：需要连接BLIQ黑体的安全罩（Inframet可提供）。覆盖罩须装充有干燥的氮气，以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。用户需要提供干燥的氮气。安全罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。热成像新标准，基数参数精细调校，让夜间监控成为您的安全之眼！湖北INFRAMET热成像校准系统
MS多波段整机测试系统一系列不同的辐射源可以用在投影系统中（光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体）以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。
测量成像整机系统轴校准：电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度：a)热像仪在不同视场下的光轴；b)相机在不同镜头放大率下的光轴；c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准：计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角：激光光轴（激光测距仪，激光指示器，激光照射器等）相对于成像系统光轴。注意：MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。
测量SWIR相机：SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一组SWIR靶标；测量不同图像格式的热像仪：当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时；也可以选择数字图像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。 湖北INFRAMET热成像校准系统高效热成像，基数参数精确调校，让夜间监控无死角！
为完成太空测试任务的红外系统，通常使用模拟太空条件的低温真空黑体进行测试。所需黑体的设计，技术上是一个挑战，由于一系列特殊要求：在真空条件下工作的能力，承受低温度的能力，黑体发射器温度的准确调节，以及远程控制位于真空室中的黑体，其控制中心位于真空室外。VSB黑体是Inframet公司根据太空实验需求开发的新型黑体。
具备在真空室中工作的能力；能够承受低的环境温度；遥控距离长达50米；非常好的温度分辨率1mK；非常好的时间稳定性：±10mK；高速，易于PC控制；发射器尺寸从50x50（VSB-2D）到150x150mm（VSB6D）；即可用于低温真空室，也可以在正常空气条件下使用。
在国际市场提供的典型面源黑体（包括Inframet提供的TCB/MTB黑体）被优化，以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标：约1μm至约15μm。这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板，与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。由于这种黑体的发射率在波长约0.1mm处开始下降，并且在波长超过约1mm变得非常低，所以典型的面源黑体不能用于模拟THz带（0.1mm至1mm）和亚THz带（1mm至10mm的波长）的黑体目标温度。在典型的红外黑体中使用的高辐射率涂层对于太赫兹光学辐射而言变得部分半透明，特别是在长波处大约0.5mm。科技守护，INFRAMET LAFT 热成像光电测试系统，，让夜间监控如白昼般清晰！
LAFT移动式热像仪测试系统，可以将目标图像直接投射到被测热像仪。热像仪输出对应图像，根据图像即可评价热像仪的性能。推荐在外场条件下使用LAFT，如果在实验室/仓库条件下，此时可以使用长走廊作为测试场所。在适当的测量条件下，LAFT测试系统的测量精度与实验室级DT系列测试系统的测量精度相同。野外和实验室内应用的多功能测量工具可以装在箱子里运输到任何地方可以同时测量几个热像仪（同时投影到几个热像仪上成像）产品参数LAFT-A：MRTD，MDTDLAFT-B：MRTD，MDTD，MTF，NETD，FPN，非均匀性，SiTF，畸变，FOV，部分轮廓靶的探测、识别和辨别精确热成像，基数参数智能调整，守护安全每一刻！上海热成像校准系统特点
精确定位，无惧暗夜——NVS夜视设备多功能测试系统，优化基数参数，让监控更可靠！湖北INFRAMET热成像校准系统
FUT靶标为棋盘型靶标，采用大面积、均匀温度的辐射源，经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大，能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集，为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标，通常不能够进行调节高温度。操作较为简单，插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。
测试功能：FUT靶标可以用于以下测试：•对准误差（热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度）•旋转误差（热通道图像与可见通道图像之间的角度）•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图（与另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）•热像仪分辨率测试 湖北INFRAMET热成像校准系统
