挡板，一般来说，进入积分球的光不应直接照射探测器元件或探测器收集直接反射率的球壁区域。为了达到这一目的，在积分球设计中经常使用挡板。然而，由于该装置不是一个完美的积分球，挡板会导致测试结果不准确。入射到挡板上的光不能均匀地照亮积分球的其余部分。建议在球体设计中尽量减少挡板的数量。应用，任何应用的积分球的设计都涉及一些基本参数。这些包括基于积分球端口开口和外部设备的数量和尺寸选择较佳积分球直径。在选择积分球内部涂层的过程中，应考虑光谱范围和性能要求。还应考虑使用挡板来控制入射辐射度和探测器视场，以及使用辐射度测量模型来确定积分球与探测系统的耦合效率。积分球内的光源经过多次反射，形成了均匀的光照环境。光测量Helios标准光源测试
积分球可用于测试光源的光通量，色温，光效等参数。积分球的基本原理是光通过采样口被积分球收集，在积分球内部经过多次反射后非常均匀地散射在积分球内部。使用积分球来测量光通量时，可使得测量结果更为可靠，积分球可降低并除去由光线地形状、发散角度、及探测器上不同位置地响应度差异所造成地测量误差。高等物理光学分类：（1）几何光学，（2）物理光学，（3）量子光学，初等物理分类：（1）初中阶段：几何光学，（2）高中阶段：几何光学、物理光学，（3）说明：一般生活中提到的光学就是高中阶段的分类标准。光测量Helios标准光源测试积分球的反射性能直接影响到光学测量的结果。
光源在球壁上任意一点上发生的光照度是由屡次反射光发生的光照度叠加而成的。这样，进入积分球的光经过内壁涂层屡次反射，在内壁上构成均匀照度。积分球常用于测验光源的光通量、色温、光效等参数，也可用于丈量物体的反射率和透过率等。较常见的积分球结构测色仪器为d/8结构，也有d/0结构。关于d/8结构测色仪，有两种丈量模式SCI和SCE；采用SCI丈量色彩能够有用的消除去物体外表纹路对色彩丈量的影响，进而取得物体的真实色彩特征。
LED积分球均匀光源，LED积分球均匀光源普遍应用于相机校准、卫星遥感校准测量、辐亮度/辐照度校准测量、夜视系统、安全摄像头及高灵敏度成像仪、CMOS/CCD 光谱响应测试校准测试等领域。LED积分球均匀光源提供了一种超均匀，高动态范围，亮度色温均可精致调节的面光源。该积分球光源具有独有的高反射率漫反射材料，巧妙的积分球结构设计。该积分球均匀光源提供了满足国际相机性能测试标准，能够对工业相机进行平场矫正，线性度校正，暗噪声评估等。积分球内光源的均匀性对于实验结果至关重要。
由于积分球较常用于稳态条件下，随着积分球涂层反射率的增加和开口端口面积比例的减小，产生稳态辐射度的反射次数越多。因此，积分球设计应尝试优化这两个参数，以获得较佳的辐射通量空间积分。图2是一个机器人成像系统的图像，用于通过积分球参考端口映射空间均匀性。涂层，在为积分球选择涂层时，必须考虑两个因素:反射率和耐久性。例如，如果有足够的光线，并且积分球将在可能导致积分球收集污垢或灰尘的环境中使用，则耐久性和可清洗的涂层是您的理想选择。积分球内部装置，包括挡板、灯具和灯座，会吸收辐射源的部分能量，降低球体的空间均匀性。通过在所有可能的表面上使用高反射漫反射涂层，可以改善空间均匀性的降低。积分球内壁涂层反射率ρ(λ)和积分球等效透过率τ(λ)是积分球较重要的质量指标。A光源太阳光模拟器批发
积分球内部光路的优化，提高了光线的利用率。光测量Helios标准光源测试
球体倍增因子对表面反射率极为敏感。选择漫反射涂层或材料会对给定设计的辐射度产生很大影响（如图3所示）。所示的两种涂层都具有高反射率，在350至1350 nm范围内的反射率超过95%。因此，对于相同的积分球，人们可能预期不会有明显的辐射度增加。然而，辐射度的相对增加大于反射率的相对增加，其系数等于球体倍增因子。虽然其中一种涂层在一定波长范围内比另一种提供2%到15%的反射率增加，但相同的积分球设计将导致辐射度增加40%至240%。较大的增加发生在1400纳米以上的近红外光谱区域。光测量Helios标准光源测试
