（2）波形需要以时钟为基准进行叠加：眼图是对多个波形或比特的叠加，但这个叠加不是任意的，通常要以时钟为基准。对于很多并行总线来说，由于大部分都有专门的时钟传输通道，所以通常会以时钟通道为触发，对数据信号的波形进行叠加形成眼图，一般的示波器都具备这个功能。而对于很多高速的串行总线信号来说，由于时钟信号嵌入在数据流中，所以需要测量设备有相应的时钟恢复功能（可能是硬件的也可能是软件的）能够先从数据流中提取时钟，然后以这个时钟为基准对数据比特进行叠加才能形成眼图。因此，很多高速串行数字信号的眼图测试通常需要该示波器或测量设备有相应的时钟恢复功能。一种统计眼图的测算方法及眼图分析装置？DDR测试眼图测试USB测试
高速的数字信号经过传输线传输后，信号的高频分量会丢失，信号的边沿会变形。如果信号的变形比较严重，就会影响后续信号边沿通过阈值点的时刻，这就是码间干扰造成的抖动。码间干扰造成信号抖动的一个例子。在码间干扰比较严重的情况下，当前比特跳沿过阈值点的时刻会和前几个比特有关，比如前面是连续的5个连0和只有一个0对于当前比特的影响是不一样的。
码间干扰抖动主要是由于阻抗不匹配或者传输线带宽不够等因素引起的。由于传输线对于信号中不同频率成分的损耗不一样，所以不同码型的变形程度可能不一样，因而造成的码间干扰抖动的大小也不一样。正因为码间干扰抖动的大小和发出的数据码型有关，所以码间干扰抖动属于一种数据相关的抖动。 测试服务眼图测试DDR测试眼图参数有很多，如眼高、眼宽、眼幅度、眼交叉比、“1”电平，“0”电平，消光比，Q因子，平均功率等。
DDR眼图测试1-5
，对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据，都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端，通过可视化工具，生成统计分析表格，对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果，比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。
除了在物理层信号质量和基本时序参数之外，DDR 总线的状态机复杂时序特性，以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪，同步分析速率可以达到 4Gbps，采样窗口可以低至 100mv x 100ps，单路采集样本高达 400M，对于 DDR4 的测试是非常合适的，另外配合 B4661A memory 分析软件，可以解析 DDR4 会话操作，实现 DDR4 总线的命令解码，解析 MRS，命令，行列地址，并可以直接触发物理地址捕获特定信号，利用深存储的大量样本，可以对DDR 总线的性能进行分析，包括统计内存总线有效吞吐速率，统计各种命令操作以及总线利用率，分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能，可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。
对于DDR源同步操作，必然要求DQS选通信号与DQ数据信号有一定建立时间tDS和保持时间tDH要求，否则会导致接收锁存信号错误，DDR4信号速率达到了，单一比特位宽为，时序裕度也变得越来越小，传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到tDS/tDH差值，无法大概率体现由于ISI等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献，也很难准确反映随机抖动Rj的影响。在DDR4的眼图分析中就要考虑这些抖动因素，基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分，外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC协会在规范中明确了在DDR4中测试误码率为1e-16的眼图轮廓，确保满足在Vcent周围Tdivw时间窗口和Vdivw幅度窗口范围内模板内禁入的要求。 眼图测试 系统参数主要介绍？
数字信号抖动的成因
抖动反映的是数字信号偏离其理想位置的时间偏差。高频数字信号的比特周期都非常短，很小的抖动都会造成信号采样位置电平的变化，所以高频数字信号对于抖动都有严格要求。高速的串行数字信号对抖动的要求更加严格，同时由于其传输路径比较复杂，中间可能会受到各种因素的影响，所以其总体抖动也可能是由不同的抖动分量组成的，而且不同分量对于系统性能的影响也不一样。因此，很多更高速率的串行信号测试在中，出来知道抖动的均方根植或者峰峰值以外，还会要求对抖动的各个成分进行分解和分析。 数字信号在示波器上而显示的图形。解决方案眼图测试信号完整性测试
克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试。DDR测试眼图测试USB测试
1. 眼图张开的宽度决定了接收波形可以不受干扰而抽样再生的时间间隔
2. 眼图的斜率表示系统对定时抖动（或误差）的灵敏度，斜率越大，系统对定时抖动越灵敏
3. 眼图左（右）角阴影部分的水平宽度表示信号零点的变化范围，称为零点失真量，在许多接收设备中定时信息是由信号零点位置提取得，对于这种设备零点失真量很重要。
4. 在抽样时刻，阴影区域的垂直宽度表示信号失真量
5. 在抽样时刻上、下的两阴影区间隔的一半是小噪声容限，噪声瞬时值超过它就有可能发生错误判断
6.横轴对应判决门限电平 DDR测试眼图测试USB测试
