企业商机
低本底Alpha谱仪基本参数
  • 品牌
  • 泰瑞迅
  • 型号
  • RLA200
  • 适用范围
  • 适用于各种环境样品以及环境介质中人工放射性α核素的监测。
  • 加工定制
  • 外形尺寸
  • 361*470*180
  • 工作电压
  • 220
  • 测量范围
  • 0-10Mev
  • 电源
  • 220V
  • 重量
  • 15KG
  • 产地
  • 苏州
  • 厂家
  • 苏州泰瑞迅科技有限公司
低本底Alpha谱仪企业商机

PIPS探测器α谱仪配套质控措施‌‌期间核查‌:每周执行零点校正(无源本底测试)与单点能量验证(²⁴¹Am峰位偏差≤0.1%)‌;‌环境监控‌:实时记录探测器工作温度(-20~50℃)与真空度变化曲线,触发阈值报警时暂停使用‌;‌数据追溯‌:建立校准数据库,采用Mann-Kendall趋势分析法评估设备性能衰减速率‌。该方案综合设备使用强度、环境应力及历史数据,实现校准资源的科学配置,符合JJF 1851-2020与ISO 18589-7的合规性要求‌。RLA 200系列α谱仪是基于PIPS探测器及数字信号处理系统的智能分析仪器。济南Alpha射线低本底Alpha谱仪投标

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该仪器适用于土壤、水体、空气及生物样本等复杂介质的α核素分析,支持***分析法、示踪法等多模式测量‌。对于含悬浮颗粒或有机物的样品,需配合电沉积仪进行前处理,通过铂盘电极(比较大5A稳流)完成样品纯化,旋转速度可调的设计可优化电沉积均匀性‌。在核事故应急场景中,其24小时连续监测模式配合≤8.1%的空气环境分辨率,可快速响应Rn-222等短寿命核素的变化‌。**分析软件系统基于Windows平台开发,支持多任务并行操作与实时数据显示。软件内置≥300种核素数据库,提供自定义添加和智能筛选功能,可自动生成活度浓度报告‌。用户可通过网络接口实现多台设备联控,软件还集成探测器偏压、增益参数远程调节功能,满足实验室与野外场景的灵活需求‌。数据导出兼容CSV、TXT等格式,便于第三方平台(如Origin)进行二次分析‌。洞头区Alpha射线低本底Alpha谱仪供应商是否支持多核素同时检测?软件是否提供自动核素识别功能?

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‌高分辨率能量刻度校正‌在8K多道分析模式下,通过加载17阶多项式非线性校正算法,对5.15-5.20MeV能量区间进行局部线性优化,使双峰间距分辨率(FWHM)提升至12-15keV,峰谷比>3:1,满足同位素丰度分析误差<±1.5%的要求‌13。‌关键参数验证‌:²³⁹Pu(5.156MeV)与²⁴⁰Pu(5.168MeV)峰位间隔校准精度达±0.3道(等效±0.6keV)‌14双峰分离度(R=ΔE/FWHM)≥1.5,确保峰面积积分误差<1%‌34‌干扰峰抑制技术‌采用“峰面积+康普顿边缘拟合”联合算法,对²²²Rn(4.785MeV)等干扰峰进行动态扣除:‌本底建模‌:基于蒙特卡罗模拟生成康普顿散射本底曲线,与实测谱叠加后迭代拟合,干扰峰抑制效率>98%‌能量窗优化‌:在5.10-5.25MeV区间设置动态能量窗,结合自适应阈值剔除低能拖尾信号‌

RLA低本底α谱仪系列:能量分辨率与核素识别能力‌能量分辨率**指标(≤20keV)基于探测器本征性能与信号处理算法协同优化,采用数字成形技术(如梯形成形时间0.5~8μs可调)抑制高频噪声‌。在241Am标准源测试中,5.49MeV主峰半高宽(FWHM)稳定在18~20keV,可清晰区分Rn-222子体(如Po-218的6.00MeV与Po-214的7.69MeV)的相邻能峰‌。软件内置核素库支持手动/自动能峰匹配,对混合样品中能量差≥50keV的核素识别准确率>99%‌。。调用软件设定的测量分析算法,完成样品的活度计算,并形成分析报告。

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多参数符合测量与数据融合针对α粒子-γ符合测量需求,系统提供4通道同步采集能力,时间符合窗口可调(10ns-10μs),在²²⁴Ra衰变链研究中,通过α-γ(0.24MeV)符合测量将本底计数降低2个数量级‌。内置数字恒比定时(CFD)算法,在1V-5V动态范围内实现时间抖动<350ps RMS,确保α衰变寿命测量精度达±0.1ns‌。数据融合模块支持能谱-时间关联分析,可同步生成α粒子能谱、衰变链分支比及时间关联矩阵,在钚同位素丰度分析中实现²³⁹Pu/²⁴⁰Pu分辨率>98%‌。仪器是否需要定期校准?校准周期和标准化操作流程是什么?福州真空腔室低本底Alpha谱仪维修安装

仪器维护涉及哪些耗材(如真空泵油、密封圈)?更换频率如何?济南Alpha射线低本底Alpha谱仪投标

PIPS探测器α谱仪采用模块化样品盘系统样品盘采用插入式设计,直径覆盖13mm至51mm范围,可适配不同尺寸的PIPS硅探测器及样品载体‌。该结构通过精密机械加工实现快速定位安装,配合腔体内部导轨系统,可在不破坏真空环境的前提下完成样品更换,***提升测试效率‌。样品盘表面经特殊抛光处理,确保与探测器平面紧密贴合,减少因接触不良导致的测量误差,同时支持多任务队列连续测试功能‌。并可根据客户需求进行定制,在行业内适用性强。


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