针对航天电子需求,中清航科在屏蔽室内完成切割(防宇宙射线干扰)。采用低介电刀具材料,避免静电放电损伤,芯片单粒子翻转率降至10⁻⁹errors/bit-day。中清航科提供IATF16949认证切割参数包:包含200+测试报告(剪切力/热冲击/HAST等),加速客户车规芯片认证流程,平均缩短上市时间6个月。中清航科残渣图谱数据库:通过质谱分析切割碎屑成分,溯源工艺缺陷。每年帮助客户解决15%的隐性良率问题,挽回损失超$300万。中清航科气动悬浮切割头:根据晶圆厚度自动调节压力(范围0.1-5N,精度±0.01N)。OLED显示面板切割良率提升至99.8%,边缘像素损坏率<0.01%。中清航科推出切割机租赁服务,降低客户初期投入成本。常州碳化硅陶瓷晶圆切割测试

UV膜残胶导致芯片贴装失效。中清航科研发酶解清洗液,在50℃下选择性分解胶层分子链,30秒清理99.9%残胶且不损伤铝焊盘,替代高污染溶剂清洗。针对3DNAND多层堆叠结构,中清航科采用红外视觉穿透定位+自适应焦距激光,实现128层晶圆的同步切割。垂直对齐精度±1.2μm,层间偏移误差<0.3μm。中清航科绿色方案整合电絮凝+反渗透技术,将切割废水中的硅粉、金属离子分离回收,净化水重复利用率达98%,符合半导体厂零液体排放(ZLD)标准。苏州sic晶圆切割划片中清航科全自动切割线配备AI视觉定位,精度达±1.5μm。

晶圆切割是半导体封装的中心环节,传统刀片切割通过金刚石砂轮实现材料分离。中清航科研发的超薄刀片(厚度15-20μm)结合主动冷却系统,将切割道宽度压缩至30μm以内,崩边控制在5μm以下。我们的高刚性主轴技术可适配8/12英寸晶圆,切割速度提升40%,为LED、MEMS器件提供经济高效的解决方案。针对超薄晶圆(<50μm)易碎裂难题,中清航科激光隐形切割系统采用红外脉冲激光在晶圆内部形成改性层,通过扩张膜实现无应力分离。该技术消除机械切割导致的微裂纹,良率提升至99.3%,尤其适用于存储芯片、CIS等器件,助力客户降低材料损耗成本。
随着半导体市场需求的快速变化,产品迭代周期不断缩短,这对晶圆切割的快速响应能力提出更高要求。中清航科建立了快速工艺开发团队,承诺在收到客户新样品后72小时内完成切割工艺验证,并提供工艺报告与样品测试数据,帮助客户加速新产品研发进程,抢占市场先机。晶圆切割设备的操作安全性至关重要,中清航科严格遵循SEMIS2安全标准,在设备设计中融入多重安全保护机制。包括激光安全联锁、急停按钮、防护门检测、过载保护等,同时配备安全警示系统,实时显示设备运行状态与潜在风险,确保操作人员的人身安全与设备的安全运行。中清航科切割道检测仪实时反馈数据,动态调整切割参数。

晶圆切割作为半导体制造流程中的关键环节,直接影响芯片的良率与性能。中清航科凭借多年行业积淀,研发出高精度激光切割设备,可实现小切割道宽达20μm,满足5G芯片、车规级半导体等领域的加工需求。其搭载的智能视觉定位系统,能实时校准晶圆位置偏差,将切割精度控制在±1μm以内,为客户提升30%以上的生产效率。在半导体产业快速迭代的当下,晶圆材料呈现多元化趋势,从传统硅基到碳化硅、氮化镓等宽禁带半导体,切割工艺面临更大挑战。中清航科针对性开发多材料适配切割方案,通过可调谐激光波长与动态功率控制技术,完美解决硬脆材料切割时的崩边问题,崩边尺寸可控制在5μm以下,助力第三代半导体器件的规模化生产。中清航科多轴联动切割头,适应曲面晶圆±15°倾角加工。南京sic晶圆切割
第三代半导体切割中清航科提供全套解决方案,良率95%+。常州碳化硅陶瓷晶圆切割测试
面向磁传感器制造,中清航科开发超导磁悬浮切割台。晶圆在强磁场(0.5T)下悬浮,消除机械接触应力,切割后磁畴结构畸变率<0.3%,灵敏度波动控制在±0.5%。中清航科电化学回收装置从切割废水中提取金/铜/锡等金属,纯度达99.95%。单条产线年回收贵金属价值超$80万,回收水符合SEMIF78标准,实现零废液排放。针对HJT电池脆弱电极层,中清航科采用热激光控制技术(LCT)。红外激光精确加热切割区至200℃,降低材料脆性,电池效率损失<0.1%,碎片率控制在0.2%以内。常州碳化硅陶瓷晶圆切割测试