在晶圆切割的质量检测方面，中清航科引入了三维形貌检测技术。通过高分辨率confocal显微镜对切割面进行三维扫描，生成精确的表面粗糙度与轮廓数据，粗糙度测量精度可达0.1nm，为工艺优化提供量化依据。该检测结果可直接与客户的质量系统对接，实现数据的无缝流转。针对晶圆切割过程中的热变形问题，中清航科开发了恒温控制切割舱。通过高精度温度传感器与PID温控系统，将切割舱内的温度波动控制在±0.1℃以内，同时采用热误差补偿算法，实时修正温度变化引起的机械变形，确保在不同环境温度下的切割精度稳定一致。MEMS器件晶圆切割中清航科特殊保护层技术，结构完整率99%。宿迁芯片晶圆切割企业
UV膜残胶导致芯片贴装失效。中清航科研发酶解清洗液，在50℃下选择性分解胶层分子链，30秒清理99.9%残胶且不损伤铝焊盘，替代高污染溶剂清洗。针对3DNAND多层堆叠结构，中清航科采用红外视觉穿透定位+自适应焦距激光，实现128层晶圆的同步切割。垂直对齐精度±1.2μm，层间偏移误差<0.3μm。中清航科绿色方案整合电絮凝+反渗透技术，将切割废水中的硅粉、金属离子分离回收，净化水重复利用率达98%，符合半导体厂零液体排放（ZLD）标准。上海蓝宝石晶圆切割测试切割路径智能优化系统中清航科研发，复杂芯片布局切割时间缩短35%。
晶圆切割/裂片是芯片制造过程中的重要工序，属于先进封装(advancedpackaging)的后端工艺(back-end)之一，该工序可以将晶圆分割成单个芯片，用于随后的芯片键合。随着技术的不断发展，对高性能和更小型电子器件的需求增加，晶圆切割/裂片精度及效率控制日益不可或缺。晶圆切割的重要性在于它能够在不损坏嵌入其中的精细结构和电路的情况下分离单个芯片，成功与否取决于分离出来的芯片的质量和产量，以及整个过程的效率。为了实现这些目标，目前已经开发了多种切割技术，每种技术都有其独特的优点和缺点。
中清航科创新性推出“激光预划+机械精切”复合方案：先以激光在晶圆表面形成引导槽，再用超薄刀片完成切割。此工艺结合激光精度与刀切效率，解决化合物半导体（如GaAs、SiC）的脆性开裂问题，加工成本较纯激光方案降低35%。大尺寸晶圆切割面临翘曲变形、应力集中等痛点。中清航科全自动切割机配备多轴联动补偿系统，通过实时监测晶圆形变动态调整切割参数。搭配吸附托盘，将12英寸晶圆平整度误差控制在±2μm内，支持3DNAND多层堆叠结构加工。切割刀痕深度控制中清航科技术达±0.2μm，减少后续研磨量。
晶圆切割的主要目标之一是从每片晶圆中获得高产量的、功能完整且无损的芯片。产量是半导体制造中的一个关键性能指标，因为它直接影响电子器件生产的成本和效率。更高的产量意味着每个芯片的成本更造能力更大，制造商更能满足不断增长的电子器件需求。晶圆切割直接影响到包含这些分离芯片的电子器件的整体性能。切割过程的精度和准确性需要确保每个芯片按照设计规格分离，尺寸和对准的变化小。这种精度对于在终设备中实现比较好电气性能、热管理和机械稳定性至关重要。中清航科切割工艺白皮书下载量超10万次，成行业参考标准。扬州12英寸半导体晶圆切割划片
中清航科推出切割机租赁服务，降低客户初期投入成本。宿迁芯片晶圆切割企业
中清航科飞秒激光双光子聚合技术：在PDMS基板上直写三维微流道（最小宽度15μm），切割精度达±0.25μm，替代传统光刻工艺，开发成本降低80%。中清航科推出“切割即服务”（DaaS）：客户按实际切割面积付费（$0.35/英寸），包含设备/耗材/维护全包。初始投入降低90%，产能弹性伸缩±50%，适配订单波动。中清航科共聚焦激光测距系统实时监测切割深度（分辨率0.1μm），闭环控制切入量。将150μm晶圆切割深度误差压缩至±2μm，背面研磨时间减少40%。宿迁芯片晶圆切割企业
