沉降菌测定法:
沉降菌指落在地面或物体表面的灰尘中携带的细菌。在无菌操作台开启的状态下,取内径90毫米的无菌培养皿若干,无菌操作分别注入融化并冷却至45℃的营养琼脂培养基越15毫升,倒置于30~35℃培养箱培养48小时,证明无菌后备用。
将已铺有营养琼脂培养基的培养皿放在指定区域距地面约1米的规定处(一般每10平方米放置一个平皿),在空气中暴露30分钟,采集沉降菌,盖好平皿盖儿,置30-35℃培养箱内培养48小时,取出计数,车间内应为操作状态。检测沉降菌数量,每碟小于或等于10个,便能达到10万级净化车间标准。
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洁净室风速检测的意义
无论是洁净室还是其他任何受控环境,室内的风速检测都是重要的和必需的。只有准确测定风速、风速均匀性、送风量等气流参数,才能依据这此数据判断洁净室或其他受控环境的空调净化系统是否具备维持所要求的洁净度、温度、 湿度等技术参数的基本能力。
风速是指空气相对于地球某-固定 地点的运动速率, 常用单位是m/s.洁净室、洁净区的洁净度主要依靠送人足够量的洁净空气,以置换、稀释室内生成和散发的颗粒污染物。
单向流洁净室依靠洁净气流推挤、置换室内污染空气以维持洁净度,其送风断面风速及均匀性是影响洁净度的重要参数,较高的、均匀的断面风速能更快、更有效地排除室内工艺过程产生的污染物。不均匀的气流组织达不到单向流的气流组织效果,影响洁净室的洁净度。非单向流洁净室靠送人室内的洁净空气来冲淡与稀释室内污染空气以维持洁净度,换气次数越大,气流流型越合理,稀释效果越明显。因此,洁净室的风速检测是洁净室检测的- 项重要工作。
工业洁净室的发展
工业洁净室(ICR, Idutra Clem Rom)以空气中的悬浮颗粒物为主要控制对家,主要为精密机械和电子产品等行业提供符合要求的生产环境。
与其他高科技一样, 洁净技术的诞生及起初应用是服务于目的的。第二次世界大战中一些炮、 战车、飞机等使用的仪器合格率低或经常发生故障。研制者认识到,仪器生产与装配环境空气中的悬浮颗粒物是罪魁祸首,于是工业洁净室诞生了。起初的工业洁净室是比较简陋的,随着原子武器研究和生化武器研究的发展,在20世纪40年代初高效空气过滤器研制成功并得到应用,20世纪60年代初又出现了“单向流”洁净室,这些设备与技术的诞生成为洁净技术发展的里程碑,奠定了现代洁净技术的基础。
微电子行业是现代工业洁净室应用的表现。主要产品是大规模集成电路和平板显示器。半个多世纪以来,集成电路得到迅猛发展。 洁净室气密性、紫外辐射照度测试——上海蔚亚科技。
《电子工业洁净厂房设计规范》(GB 50472- 2008)。 本标准“附录D洁净室(区)性能测试和认证”的要点:
1)风速和风量的检测。对于单向流洁净室,检测平面应取离高效过滤器300mm垂直于气流的截面。
2)静压差的检测。检测静压差的时候应该关闭全部门窗。检测仪器的灵敏度应小于1.0Pa。有多个洁净室时,应由里向外按顺序检测。
3)空气过滤器安装后的检漏。光学粒子计数器的采样量应大于1 L/min。应在过滤器的上风侧引人不小于0.1 um (0.5 μm)的粒子,其浓度应大于3.5x10 pc/m'。微粒仪距离滤器表面20 ~30 mm处等速采样,并以5 ~ 20 mm/s速度移动。
4)洁净度的检测。少采样点和每次少采样量与ISO 14644基本相同。
5)温度和湿度的检测。检测点的覆盖面积不大于100m2。每个房间不少于2个检测点。检测点应设在洁净室工作高度,且距吊顶、墙和地面不少于300 mm。
6)噪声的检测。每100m2设1个检测点。检测点距地面1.1~1.5m,距墙大于3 m。
7)照度的检测。检测点应设在洁净室工作高度,宜距地面0. 85m,每25 m2设1个检测点。
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洁净室换气次数的计算方法
洁净室的换气次数主要根据洁净室的送风量确定。婴计算洁净室的换气次数,需要先确定洁净室的送风量。
根据洁净室的气流组织不同以及洁净室的送回风形式不同,洁净室风量的检测也有很多种方法,目前工程上比较常用的有如下几种。
1.使用电子风量仪进行送风量检测。
2.采用风速仪检测风口截面的风速和出风口面积,计算风口的风量。
3.采用风速仪检测风管截面的风速和风管面积,计算风管的风量。
换气的作用是保证有足够的洁净空气稀释室内污染空气。换气次数计算公式为:
N=L/V
式中N-房间换气次数, 次/h;
L-洁净室的总送风量, m/h;
V-洁净室体积, m3。
洁净室房间体积应按洁净室建筑情况正确计算。例如,长方体的洁净室,内部有地板下部空间和天花吊顶上部空间,则其房间体积计算等于房间的长宽高乘积,其中房间高为净高,即房间原高减去地板高度和吊顶高度。 山东消毒液净化车间环境检测规范性强
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...