风量仪操作步骤
步骤1打开风量仪电源, 将风量仪倒扣在地板上,在无风地点进行风量仪校零工作,上方如有强烈气流需要进行遮挡。观察风量仪是否在零位。如不在零位则需要进行零位校准。
步骤2按屏幕 上的测量键进人待测房间号码的输入界面。输人完再次按测量键进人检测界面。
步骤3复零校准结束之后, 直接将风量仪的开口完全罩住过滤器或者散流器,并检查是否存在泄漏。风量仪的接触面应为平面,以防止气流旁通和读数不准确。
步骤4查看风量仪的读 数是否超过风量仪的比较大量程。如果超过量程则需要更换更大量程的风量仪。
步骤5稳定10s后即可读取风量仪上的数值,并记录。
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单向流洁净室的风速检测要求
单向流洁净室的风速基本稳定,气流的方向基本相同,进风口附近的风速与工作面的风速差别不大,而且整个洁净室内的风速均匀性较好。
(1)测点位置。按照《洁净窒施工及验收规范》(GB50591- 2010) 要求,垂直单向流洁净室的检测截面取距地面0.8m的无阻隔面(孔板、格栅除外)的水平截面,如有阻隔面,该检测截面应拾高至阻隔面之上0.25 m;水平单向流洁净室取距送风面0.5 m的垂直于地面的截面。
(2)测点个数。检测风速时,把检测断面均匀分成若干面积相等的格子,格子数即测点数。测点间距不应大于1m,-般取0.3m, 测点数应不少于20个。
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至少采样点数目对应悬浮粒子采样点数,工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,送风口测点位置离开送风面30cm左右,关键设备或关键工作活动范围处可增加测点,每个采样点一般采样一次。
全部采样结束后,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。
沉降菌
工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,将已制备好的培养皿置于采样点,打开培养皿盖,使其暴露规定的时间,再将培养皿盖上,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。
在测量工作中会遇到各种标准量,如长度、质量、时间、温度、电流等。在洁净室检测技术中,经常碰到的被测量有风速、风量、温度、压力、湿度、噪声、洁净度等。
检测技术在科学研究和工程运用中有非常重要的地位,任何工作都需要通过检测才能确定工作的质量和数量,因此专门从事检测工作的人员需要熟练掌握检测技术。从事洁净室建造的人员也需要掌握一些 检测技术的基础知识和基本原则。洁净室检测技术的应用范围广,包括建造洁净室原材料的检测、洁净室用仪器设备的检测、洁净室建成后调试的检测、洁净室竣工验收的检测、洁净室运行过程中的检测。检测工作贯穿洁净室筹备、建造、应用的全过程。
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洁净室换气次数的计算方法
洁净室的换气次数主要根据洁净室的送风量确定。婴计算洁净室的换气次数,需要先确定洁净室的送风量。
根据洁净室的气流组织不同以及洁净室的送回风形式不同,洁净室风量的检测也有很多种方法,目前工程上比较常用的有如下几种。
1.使用电子风量仪进行送风量检测。
2.采用风速仪检测风口截面的风速和出风口面积,计算风口的风量。
3.采用风速仪检测风管截面的风速和风管面积,计算风管的风量。
换气的作用是保证有足够的洁净空气稀释室内污染空气。换气次数计算公式为:
N=L/V
式中N-房间换气次数, 次/h;
L-洁净室的总送风量, m/h;
V-洁净室体积, m3。
洁净室房间体积应按洁净室建筑情况正确计算。例如,长方体的洁净室,内部有地板下部空间和天花吊顶上部空间,则其房间体积计算等于房间的长宽高乘积,其中房间高为净高,即房间原高减去地板高度和吊顶高度。 空态:已经建造完成并可以投入使用的洁净室(设施)。它具备所有有关的服务和功能。北京洁净室检测值得推荐
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使用粒子计数器进行洁净室洁净度检测
操作准备
检测前应对洁净室及其空气净化系统进行彻底的清洁,应验证洁净室或洁净区白各方面设施都是完备的,而且运行正常,符合设计的技术性能要求。在洁净度检测自应先完成其他检测工作(一般包括送风量检测、压差检测、隔断结构气密性检测、品效过滤器完整性检测)。
操作步骤
步骤1采样点的确定
计算房间面积,根据规范确定采样点数量,并将采样点均匀分布在整个洁净室或洁净区内,并根据实际情况绘制采样点布置图。采样点一般布置在离地0.8m 的水平面上,若采样点在洁净工作台上,则- -般布置在工作台面上0.2m的水平面上。
步骤2仪器的安装
将仪器放置在采样点位置,拔下取样口的保护套,用皮管连接取样口和采样头,连通电源,按“电源键”开机。
步骤3自净
将自净器插在采集口上,点击采样图案,然后点击“开始”进行自净,直到仪器计数显示为0 (10 min之内)。
步骤4洁净度检测
自净完成后,将仪器放在1个点位,开始进行采集,直至第1个点所有次数全部检测完成,将仪器移至第二个点,重复直到***点的所有次数全部测完。 检测结束后,将仪器进行自净后再关机,自净操作和步骤三一致。 湖南洁净室检测诚信推荐
B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...