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工业洁净室的发展

工业洁净室(ICR, Idutra Clem Rom)以空气中的悬浮颗粒物为主要控制对家,主要为精密机械和电子产品等行业提供符合要求的生产环境。

与其他高科技一样, 洁净技术的诞生及起初应用是服务于目的的。第二次世界大战中一些炮、 战车、飞机等使用的仪器合格率低或经常发生故障。研制者认识到,仪器生产与装配环境空气中的悬浮颗粒物是罪魁祸首,于是工业洁净室诞生了。起初的工业洁净室是比较简陋的,随着原子武器研究和生化武器研究的发展,在20世纪40年代初高效空气过滤器研制成功并得到应用,20世纪60年代初又出现了“单向流”洁净室,这些设备与技术的诞生成为洁净技术发展的里程碑,奠定了现代洁净技术的基础。

微电子行业是现代工业洁净室应用的表现。主要产品是大规模集成电路和平板显示器。半个多世纪以来,集成电路得到迅猛发展。 高效过滤器检测,洁净度检测——蔚亚科技。检测技术好

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洁净度检测的意义

在洁净室或洁净区的检测参数中,洁净度是主要的参数,也是建设单位关心的参数,尤其是运行状态下的洁净室空气洁净度等级,即生产设备运转及操作人员在场的工作状态时的检测结果( 动态检测结果)。但施工单位通常希望在空态下进行检测,因此洁净室在检测之前要明确洁净室的占用状态是空态、静态还是动态。

空态测试:洁净室已竣工,净化空气调节系统已处于正常运行状态,室内没有工艺设备和生产人员的情况下进行测试。

静态测试:洁净室净化空气调节系统已处于正常运行状态,工艺设备已安装,室内没有生产人员的情况下进行测试。

动态测试:洁净室已处于正常生产状态下进行测试。洁净室的风量、风速、正压、温度、湿度、噪声的检测,可按一般通用、空气调节的有关规定执行。



上海排风柜检测优化价格洁净度等级是指洁净空间单位体积空气中,以大于或等于被考虑粒径的粒子比较大浓度限值进行划分的等级标准。

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单向流洁净室的风速检测要求

单向流洁净室的风速基本稳定,气流的方向基本相同,进风口附近的风速与工作面的风速差别不大,而且整个洁净室内的风速均匀性较好。

(1)测点位置。按照《洁净窒施工及验收规范》(GB50591- 2010) 要求,垂直单向流洁净室的检测截面取距地面0.8m的无阻隔面(孔板、格栅除外)的水平截面,如有阻隔面,该检测截面应拾高至阻隔面之上0.25 m;水平单向流洁净室取距送风面0.5 m的垂直于地面的截面。

(2)测点个数。检测风速时,把检测断面均匀分成若干面积相等的格子,格子数即测点数。测点间距不应大于1m,-般取0.3m, 测点数应不少于20个。

通过测量特定光路下气溶胶引起的散射光强就能达到检测气溶胶浓度的目的。与粒子计数器不同,气溶胶光度计并不是根据颗粒引起的光学脉冲数量计算颗粒的数量,而是根据气溶胶的光散射强度来直接计算气溶胶浓度。因此,气溶胶光度计可以直接检测气溶胶浓度较大的环境,而尘埃粒子计数器在检测该环境时则需要串联稀释器对粒子计数器进行保护。由于在气溶胶浓度很低的空气中气溶胶光度计的相对误差会增加,因此在进行高效过滤器泄漏检测时,光度计法适用于较高的气溶胶浓度环境。洁净室表面微生物测试——上海蔚亚科技。

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洁净室噪声检测设备声级计的结构

声级计由传声器、放大器、衰减器、计权网络、检波器、对数变换器、示波器、声级记录仪及显示仪表等部分组成。

(1)传声器。传声器是把声压信号转变为电压信号的装置,也称为话简,它是声级计的传感器。常见的传声器有晶体式、驻极体式、动圈式和电容式数种。

(2)放大器和衰减器。一般采用两级放大器,即输人放大器和输出放大器,其作用是将微弱的电信号放大。输人衰减器和输出衰减器是用来改变输人信号的衰减量和输出信号衰减量的,以便使表头指针指在适当的位置。输人放大器使用的衰减器调节范围为测量低端,输出放大器使用的衰减器调节范围为测量**。许多声级计的高低端以70 dB为界限。

(3)计权网络。为了模拟人耳听觉在不同频率有不同的灵敏性,在声级计内设有种能够模拟人 耳的听觉特性,把电信号修正为与听感近似值的网络,这种网络叫作计权网络。通过计权网络测得的声压级,已不再是客观物理量的声压级( 线性声压级),而是经过听感修正的声压级,叫作计权声级或唱吉绍


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在测量工作中会遇到各种标准量,如长度、质量、时间、温度、电流等。在洁净室检测技术中,经常碰到的被测量有风速、风量、温度、压力、湿度、噪声、洁净度等。

检测技术在科学研究和工程运用中有非常重要的地位,任何工作都需要通过检测才能确定工作的质量和数量,因此专门从事检测工作的人员需要熟练掌握检测技术。从事洁净室建造的人员也需要掌握一些 检测技术的基础知识和基本原则。洁净室检测技术的应用范围广,包括建造洁净室原材料的检测、洁净室用仪器设备的检测、洁净室建成后调试的检测、洁净室竣工验收的检测、洁净室运行过程中的检测。检测工作贯穿洁净室筹备、建造、应用的全过程。


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B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...

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