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磁粉检测是基于磁粉在漏磁场中聚集形成磁痕显示缺陷。磁痕显示的程度不仅与缺陷性质、磁化程度、磁粉应用方法和工件显示状态有关，还与磁性、粒径、形状、密度活度、识别等磁粉性质有关；对于干法使用的干磁粉，粒径范围在10-60μm范围内较好；对于湿法黑磁粉和红色磁粉，粒径范围在1-10μm范围内效果较好，灵敏度随粒径的减小而增大。

磁粉分为以下几种：

非荧光磁粉：包括黑、红、灰、蓝、白。它是由三氧化二铁或三氧化二铁粉末经染色或其他方法处理成不同颜色。

荧光磁粉：以磁性氧化铁粉、工业纯铁粉、羰基铁粉为芯，外涂一层荧光材料。在紫外光照射下，能发出亮黄绿色荧光，与工件表面颜色形成强烈反差。荧光磁粉检测小缺陷能力强，灵敏度高。一般只用于湿试验。

特殊磁粉：如高温磁粉，能长时间附着在工件上，一般采用干粉供应。

工作距离与照射形态

LED UV-A灯的照明面积是指被检表面黑光强度大于1000μw/cm2（探伤所需的最小值）的区域。曝光面积较小的灯可用于检测较小的区域，如孔、焊接接头和内表面。在大型结构中使用时，较小的暴露区域会产生“隧道视觉”，探伤人员只关注一个区域，暴露区域以外的指示很容易被漏掉。曝光面积较大的灯可以向眼睛注视（检查）周围区域提供UV-A辐射。这样，探伤人员就可以快速定位和识别这些区域的荧光显示，以便进行进一步的检测。 宁波渗透探伤剂性能荧光法是将荧光渗透液涂在工件表面，通过毛细作用渗入缺陷中，清洗工件表面，留下缺陷中的渗透液进行显象。

入射方向的选择应使声束中心线尽可能靠近缺陷延伸面，尤其是垂直于应力方向的缺陷表面，并尽量获得缺陷信号。另外，为了避免被检测工件的形状和结构引起的反射或变形信号，给缺陷识别带来困难，在没有干涉信号方向的地方也应选择入射方向。必要时，应从两侧进行检查。

探头的选择也很重要。作为超声检测的重要工具之一，探头种类繁多，结构形式也不尽相同。测试前，应根据被测物体的形状、衰减和技术要求选择探头。探头的选择包括探头类型、频率、晶片尺寸和斜探头折射角（k值）的选择。一般根据工件的形状和可能出现的缺陷的位置和方向来选择探伤方法。一旦确定了方法，还应确定应使用何种类型的探头。

通过以上分析可知，频率对超声波探伤影响很大，频率高，检测灵敏度和分辨率高，波束指向性好，有利于探伤。但高频、近场区长、介质衰减大，不利于探伤。因此，在选择探头频率时，应综合考虑各种因素，合理选择。一般来说，在满足探伤灵敏度要求的前提下，尽量选用频率较低的探头；对于晶粒较细的锻件、轧件和焊件，一般选用频率较高的探头，一般为2.5-5.0mhz。对于粗晶铸件、奥氏体钢等工件，应选用软低频探头，一般为0.5～2.5MHz，否则频率过高，超声波能量将严重衰减。工件表面粗糙度值越高，局部高，影响缺陷识别。因此，表面粗糙度值越低，渗透效果越好。

4.角度

在检测中，超声波束的轴线应尽量与缺陷垂直。因此，角度的选择应根据试件中缺陷的类型和位置以及工件允许的探伤条件来选择。根据反射和折射定律以及相关的几何知识，选择合适角度的探头。以探头的K值为例，折射角对探测灵敏度、波束轴线方向、主波声程（入射点到底反射点的距离）有很大影响。当β=40°（k=0.84）时，声压的往复传播率较高，即检测灵敏度较高。

可以看出，K值越大，β值越大，主波的声程越大。因此，当工件厚度较小时，应选择较大的K值，以增大一次波的声程，避免近场检测。

对因结构、形状、尺寸不利于磁化的工件，可采用渗透探伤代替磁粉探伤。盐城黑水探伤剂代理

不同行业有不同的探伤要求和公差。对于荧光渗透检测和磁粉检测，航空航天行业对其工艺的各个环节都提出了很高的要求。经过5年的研究，astme3022标准化了航天工业中对LED UV-A黑光的要求。本标准规定了灯具制造商荧光探伤的标准性能。通过ASTM e3022认证的Led UV-A灯可用于所有航空航天组织和原始设备制造商，并符合NADCAP审核标准。

型式试验主要测试灯具的性能，包括工作距离、辐照形式、热稳定性、工作温度、电流控制、电池放电曲线和UV-A滤光片透过率。以上信息可用于编写正确使用探伤的具体程序。

此外，需要对每个灯进行单独的测试，以确定每个灯的具体性能。这些测试在制造过程中进行，包括峰值波长、发射光谱和极限UV-A照度。符合ASTM e3022标准的灯具应附有上述所有试验的认证记录。

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