可控硅模块选购注意事项:
(1)注明您需要的产品的型号、结构(螺栓、凹台、凸台)、配置散热器型号。
(2)注明您关注的参数要求。
(3)选择电流电压时要留有适当的余量;
可控硅模块使用注意事项:
(1)线路中须有过压过流保护措施,串并联使用时必须有均流措施。
(2)用万用表简单判断器件是否损坏: 门阴极间电阻,应有十几或几十Ω,否则门极已短路或开路。阴阳极间电阻,应大于1MΩ,(整流管正向除外),电阻小于1MΩ表明器件极间绝缘性能不良,电阻近零时表明器件已击穿。发现有短路或断路现象时,应立即更换。
(3)严禁用兆欧表(即摇表)检查元件的绝缘情况。
(4)电流为5A以上的可控硅模块要装散热器,并且保证所规定的冷却条件。为保证散热器与可控硅模块管心接触良好,它们之间应涂上一薄层有机硅油或硅脂,以帮于良好的散热。
(5)按规定对主电路中的可控硅模块采用过压及过流保护装置。
(6)要防止可控硅模块控制极的正向过载和反向击穿。
淄博正高电气有限公司团结、创新、合作、共赢。甘肃高压可控硅模块哪家好可控硅模块主要优点如下:
(1)采用进口方形可控硅支撑板,降低了可控硅模块的电压,功耗低,效率高,节能效果好。
(2)采用进口插入元件,保证晶闸管模块触发控制电路的可靠性。
(3)(DCB)陶瓷铜板采用独特的处理和特殊的焊接工艺,保证了晶闸管组件的焊接层无空腔,导热性好。
(4)导热绝缘包装材料具有优异的隔热防潮性能。
(5)触发控制电路、主电路和导热基板相互隔离,导热基板不带电,介电强度≥2500V,保证安全。
(6)通过输入0-10V直流控制信号,可以平滑地调节主电路的输出电压。
(7)可采用手动控制、仪表控制或微机控制。
(8)适用于电阻和电感负载。 济南反并联可控硅模块价格淄博正高电气有限公司愿与各界朋友携手共进,共创未来!
单向可控硅模块有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。双向可控硅有一阳极A1(T1),二阳极A2(T2)、控制极G三个引出脚。 只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压,同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时,方可被触发导通。此时A、K间呈低阻导通状态,阳极A与阴极K间压降约1V。
单向可控硅导通后,控制器G即使失去触发电压,只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压,单向可控硅继续处于低阻导通状态。只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变(交流过零)时,单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。单向可控硅一旦截止,即使阳极A和阴极K间又重新加上正向电压,仍需在控制极G和阴极K间有重新加上正向触发电压方可导通。单向可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态,用它可制成无触点开关。
可控硅模块的分类:
1、以关断、导通及控制方式来分类:可控硅按其关断、导通及控制方式可分为普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅(GTO)、BTG可控硅、温控可控硅和光控可控硅等多种。
2、以引脚和极性来分类:可控硅按其引脚和极性可分为二极可控硅、三极可控硅和四极可控硅。
3、以封装形式来分类:可控硅按其封装形式可分为金属封装可控硅、塑封可控硅和陶瓷封装可控硅三种类型。其中,金属封装可控硅又分为螺栓形、平板形、圆壳形等多种;塑封可控硅又分为带散热片型和不带散热片型两种。
4、以电流容量来分类:可控硅按电流容量可分为大功率可控硅、**率可控硅和小功率可控硅三种。通常,大功率可控硅多采用金属壳封装,而中、小功率可控硅则多采用塑封或陶瓷封装。
5、以关断速度来分类:可控硅按其关断速度可分为普通可控硅和高频(快速)可控硅。
6、过零触发,一般是调功,即当正弦交流电交流电电压相位过零点触发,必须是过零点才触发,导通可控硅参数介绍
7、非过零触发,无论交流电电压在什么相位的时候都可触发导通可控硅,常见的是移相触发。
淄博正高电气有限公司真诚希望与您携手、共创辉煌。可控硅模块设备相信大家都已经熟悉并了解了,在您了解的知识中,您知道可控硅模块的导通条件是什么吗?下面正高电气来讲解一下。
可控硅模块的工作条件:
1.当可控硅模块承受反向阳极电压时,不管门级承受哪种电压,可控硅模块都会处于断开状态。
2.当可控硅模块经历正向阳极电压时,可控硅*在门级受到正向电压时接通。
3.当可控硅模块导通时,只需要有一定的正极电压,不管门极电压怎样,可控硅模块都保持导通,如果可控硅导通后,门极将失去其功能。
4..当可控硅模块导通时,主电路电压(或电流)减小到接近零时,可控硅模块关断。 地理位置优越,交通十分便利。内蒙古反并联可控硅模块
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过电压会对可控硅模块造成损坏,如果要想保护可控硅不受其损坏,就要了解过电压的产生原因,从而去避免防止受损,下面正高电气就来讲讲过电压会对可控硅模块造成怎样的损坏?以及过电压产生的原因。
可控硅模块对过电压非常敏感,当正向电压超过udrm值时,可控硅会误导并导致电路故障;当施加的反向电压超过urrm值时,可控硅模块会立即损坏。因此,需要研究过电压产生的原因和过电压的方法。
过电压主要是由于供电电源或系统储能的急剧变化,使系统转换太晚,或是系统中原本积聚的电磁能量消散太晚。主要研究发现,由于外界冲击引起的过电压主要有两种类型,如雷击和开关开启和关闭引起的冲击电压。雷击或高压断路器动作产生的过电压是几微秒到几毫秒的电压尖峰,对可控硅模块非常危险。
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