探针台基本参数
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探针台企业商机

晶圆测试基本的一点就是:晶圆测试必须能够辨别芯片的好坏,并使合格芯片继续进入下面的封装工艺。为了确保芯片功能和成品率的有效测试,封装厂商和设备制造者需要不断探索,进而找到高精度、高效率和低成本的测试方法,并运用新的组装工艺要求对晶圆片进行探测,这些要求将引起设备和工艺过程的重大变化。探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动,从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台。在实际的芯测试中探针卡的状态是非常重要的。江西射频探针台服务

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探针卡没焊到位,是因为焊锡时针受热要稍微的收缩,使针尖偏离压点区,而针虚焊和布线断线或短路,测试时都要测不稳,所以焊针时,应凭自己的经验,把针尖离压点中心稍微偏一点,焊完后使针尖刚好回到压点中心,同时针焊好后应检查针尖的位置,检查针的牢固性。技术员平时焊完卡后应注意检查探针卡的质量如何,把背面的突起物和焊锡线头剪平,否则要扎伤AL层,造成短路或断路,而操作工也应在测试装卡前检查一下。针尖有铝粉:测大电流时,针尖上要引起多AL粉,使电流测不稳,所以需要经常用洒精清洗探针并用氮气吹干,同时测试时边测边吹氮气,以减少针尖上的AL粉。陕西温控探针台供应探针卡常见故障分析及维护方法:芯片测试是IC制造业里不可缺少的一个重要环节。

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探针卡没焊好:1.探针卡针焊得不到位;2.基板上铜箔剥落,针焊接不牢固,或焊锡没有焊好而造成针虚焊;3.探针卡布线断线或短路; 背面有突起物,焊锡线头针尖磨平:1.针在使用很长时间后尖正常损耗;2.操作工用过粗的砂子;3.砂针尖时用力过猛;4.砂得时间过长;针尖如磨平,使针尖偏离压点,测试无法通过,针尖接触面大,而接触电阻大影响参数测试,所以平时如果在测片子之前,先拿上卡到显微镜下检查针尖有否磨平,如已磨平应及时换针,操作工在砂针尖时注意技能,应轻轻打磨针尖,而不致于磨平针尖。

电学测试全自动探针台的应用及半导体晶圆的发展阐述:随着民用消费性电子产品的市场不断扩大,对于更小的装置以及更小的封装,需要更低成本的需求市场;同时对于复杂装置结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率的要求变得更高,都会对测试设备亦带来影响,由于芯片接脚愈趋小形化,用以和晶圆及探针卡连接的垫片,以及封装测试的驱动器也势必随之微缩。此外,汽车电子应用对于更宽广的温度测试范围的需求也是探针台厂商需要提升自身设备技术规格以的主要任务。探针卡是自动测试仪与待测器件之间的接口。

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探针治具的校准:我们希望校准过程尽可能的把测试网络中除DUT外所有的误差项全部校准掉,当使用探针夹具的方式进行操作有两种校准方法:1-->一种方式是直接对着电缆的SMA端面进行校准,然后通过加载探针S2P文档的方式进行补偿; 2-->第二种方法是直接通过探针搭配的校准板在探针的端面进行校准。是要告诉大家如果直接在SMA端面进行校准之后不补偿探针头,而直接进行测量的话会带来很大的误差。探针厂商一般都会提供探针的S2P文档与校准片,校准片如下图所示,上面有Open、Short、Load及不同负载的微带线。如果是不合格的芯片,打点器立刻对这个不合格的芯片打点。江苏手动探针台服务

一般,信号路径电阻被用来替代接触电阻,而且它在众多情况下更加相关。江西射频探针台服务

针尖有铝粉:测大电流时,针尖上要引起多AL粉,使电流测不稳,所以需要经常用洒精清洗探针并用氮气吹干,同时测试时边测边吹氮气,以减少针尖上的AL粉。针尖有墨迹:测试时打点器没有调整好,尼龙丝碰到针尖上,针尖上沾上墨迹,然后针尖与压点接触时,压点窗口上墨迹沾污,使片子与AL层接触不良,参数通不过,还有对后续封装压焊有影响,使芯片与封装后成品管脚焊接质量差,所以平时装打点器时,不要把打点器装得太前或太后和太高或太低,而应该使尼龙丝与硅片留有一定距离,然后靠表面涨力使墨水打到管芯中心,如已经沾上墨迹,要立即用酒精擦干净,并用氮气吹干。江西射频探针台服务

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