轨道交通测试试验大纲之外壳防护等级测试。
外壳IP65防护等级认证测试通常依据GB/T4208-2017或IEC60529:2013标准进行试验。
IP65防护等级认证包括两个测试项目,一个是防尘试验IP6X,一个是防水试验IPX5。
1、IP6X防尘试验:被测外壳放在试验箱内,壳内压力用真空泵保持低于大气压。抽气孔应能连到专为试验设置的孔上。若专门的产品标准没有规定,这个孔应设在紧靠易损部件的位置。抽气量为80倍被测外壳容积,抽气速度不超过60倍外壳容积,抽气速度达到40~60倍外壳容积则试验为2小时,若*大压差为2kPa,抽气速度小于40倍外壳容积则试验时间为8小时。IP6X防尘试验的判定结果为试验后壳内无明显灰尘沉积则认为通过试验。
IPX5防水试验中
2、IPX5防水试验:用内径为6.3mm,水流量为12.5L/min的喷嘴距离外壳表面2.5~3米远的距离向被测件的任何一个表面进行喷水,试验时间至少3min.IPX5防水试验的判定结果为壳体内部无水滴进入判定为通过试验。
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温度试验概念本试验是用来确定产品在温度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。温度范围:-70℃~150℃,温差:±℃湿度范围:20~98%RH,湿差:±温度试验适用标准:GB/GB/,美国军yong标准,基本上国内和国外的环境测试标准……3.温度试验具体分类:高温试验本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。低温试验本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。绝缘测试轨道交通测试试验公司机械冲击试验:分为1类A级,1类B级,2类,3类的冲击测试条件。冲击次数:18次。

轨道交通设备的冲击和振动试验依据GB/T21563-2008《轨道交通 机车车辆设备 冲击和振动试验》标准进行试验。
振动试验分为:功能性随机振动试验和模拟长寿命振动试验
1:功能性随机振动试验又分为1类A级;1类B级;2类和3类,测试时间至少10分钟
2:模拟长寿命振动也分为1类A级;1类B级;2类和3类,测试时间为15小时
3:机械冲击试验:分为1类A级,1类B级,2类,3类的冲击测试条件。冲击次数:18次
功能性振动试验:振动试验过程中全程上电工作,测试性能,测试时间为每方向10min;
长寿命振动试验:振动试验过程中,不通电,测试时间为每方向5小时,共计15小时的试验。
近期,轨道设备的盐雾试验测试需求较往年有明显的增长。铁路部门进行大批量采购前都需要出具第三方机构出具的盐雾试验检测报告。轨道交通设备要进行盐雾试验也是按照GB/T2423.17基础标准进行。
产生盐雾的溶液是用50g分析纯氯化钠溶解在蒸馏水或软水中,*后制成20°C**积为1L的溶液,其PH值应在6.5-7.2之间。
盐雾试验过程中,试验箱内的温度保持在35°C。
整个盐雾试验过程中,试验箱应保持封闭,盐溶液不应断喷洒。
盐雾试验持续时间为: 4h、16h、 48h、 96h.
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⑺IPX 7
方法名称:短时浸水试验
试验设备和试验条件:浸水箱。其尺寸应使试样放进浸水箱后,样品底部到水面的距离至少为 1m。试样顶部到水面距离至少为 0.15m
试验时间:30 min
⑻IPX 8
方法名称:持续潜水试验;
试验设备,试验条件和试验时间:由供需(买卖)双方商定,其严酷程度应比 IPX 7 高。
IP(INGRESSPROTECTION)防护等级系统是由IEC(INTERNATIONALELECTROTECHNICAL
COMMISSION)所起草,将电器依其防尘防湿气之特性加以分级。
IP防护等级表示方法概述
防护等级多以IP后跟随两个数字来表述,数字用来明确防护的等级。
第yi位数字表明设备抗微尘的范围,或者是人们在密封环境中免受危害的程度。代biao防止固体异物进入的等级,*高ji别是6;
第二位数字表明设备防水的程度。代biao防止进水的等级,*高ji别是8。
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轨道交通综合测试之
静电放电抗扰度测试概述
静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2)。
静电放电(ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。上海GB/T 25117.1-2010轨道交通测试试验项目
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