首页 >  仪器仪表 >  新疆进口赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪「上海禹重实业供应」

近红外分析仪基本参数
  • 品牌
  • 赛默飞世尔
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 红外紫外拉曼光谱仪
近红外分析仪企业商机

硬件技术特点

共同的光学平台

Antaris II,Antaris MX 与 Antaris EX 采用共同的**光学平台,以此保证轻而易举地进行分析模型的移植和共享。

面板指示和操作

• 仪器工作状态实时显示;

• 光谱采集过程、样品鉴别结果 (Pass/Fail) 可通过指示灯显示;

• 快速响应按钮,可代替鼠标和键盘操作。

衰减轮

• 用于根据样品性质自动优化能量;

• 聚苯乙烯膜用于仪器自动检查。

认证轮

• 用于自动运行性能资格认证;

• 美国药典 (USP) 标准和欧洲药典 (PhEur) 标准。

危险环境下工业生产过程在线检测。新疆进口赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪

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AntarisTM 系列傅里叶近红外分析仪

为工业生产提供从实验室、工业现场到生产过程的***质量控制方案

现代化工业生产越来越强调对生产过程的每一环节进行有效质量控制;Antaris 系列傅里叶近红外分析

仪旨在为此提供完全解决方案。为特定应用任务而设计的各型号 Antaris 仪器采用相同的软件平台、资

格认证协议、设计和制造标准及技术支持计划,以比较低的使用成本、培训成本、认证成本和系统维护成

本,为企业带来比较高的投资回报率。

Antaris 傅里叶近红外分析仪:从实验室到生产线。 江苏进口赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪哪家好近红外分析仪怎么选?欢迎联系上海禹重科技,我司产品质量保证,欢迎咨询!

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硬件技术特点


共同的光学平台

Antaris II,Antaris MX 与 Antaris EX 采用共同的**光学平台,以此保证轻而易举地进行分析模型的移植和共享。

电磁式干涉仪(美国专利),DSP控制,13 万次 / 秒高速动态准直

• 高重现性和稳定性的保障

• 避免立体角镜干涉仪存在的“光谱失真”现象

• CaF2 分束器,在近红外区域具有更高的能量分布

• 具有自动准直功能,无需人工调整

高亮度、长寿命卤钨灯 NIR 光源

• 工厂预准直

• 精密对针定位,用户自行从外部更换, 无须光路校正


硬件技术特点:

共同的光学平台

Antaris II,Antaris MX 与 Antaris EX 采用共同的**光学平台,以此保证轻而易举地进行分析模型的移植和共享。


金刚石切削整体合金反射镜

• 传输效率更高于一般金属镀层技术的反射镜;

• 精密对针定位,无须手工调整;

• 热稳定性极高;

• 定位锁定,***抗震动。

**的电子控制和通讯技术

• 同 时 4 个高速 24 位AD 转换器;

• 与计算机间采用高速USB 接口,即插即用,避免网卡连接需要设定物理地址和 I P 地址及可能的网络***。


可靠、准确、稳定的过程分析系统,工业环境下的过程分析对仪器提出了不同于实验室环境的要求。

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AntarisTM 系列傅里叶近红外分析仪***的近红外技术


• 完全工业化的分析系统,整体铸铝设计,密封干燥、抗振性能前列,轻松自如地适应实验室或工业现场环境下的样品分析任务;

• 所有模块均采用高灵敏度 InGaA 检测器,自动采集内置背景;

• 积分球对漫反射光的收集效率高于 95%,保证比较高的检测灵敏度;

• 液体透射,具备两个样品光路和一个内部背景光路,计算机控制自动切换;

• 同时对药片或胶囊进行透射和漫反射分析, 一次得到样品表面材料(如包衣)和内部组成信息;

• 光纤探头在线检测时无需手动采集背景,避免取离光纤探头去采集背景而干扰检测过程;

• USB 即插即用接口,避免网卡通讯可能存在的物理地址和 IP 地址***。


高分子和石化行业样品的物理性质如密度、粘度、分子量、聚合度、馏程、浊度点、闪点等的测定。安徽Antaris II近红外分析仪采购

光谱数据更精确,建模需要的标准样品相对较少, 建模过程更容易,模型更稳定。新疆进口赛默飞世尔Antaris II 傅立叶近红外分析仪

ValProTM 系统资格认证体系

ValPro 系统资格认证体系包括完善的文档、标准测试方法、可溯源的标准物质和通过鉴定的验证服务,使得系统轻松满足为认证目的而必备的文档、资料和认证报告,同时也使得日常性能验证过程便利、规范。


• 可提供外部 NIST 可溯源的、校准的和带序列号的反射标准材料用于波长精确度和光度线性的测试;用户可根据自己特定的应用要求,进行自定义性能测试(PQ)

• 符合 21CFR Part 11 规范的工具包(电子签名、审计**、密码安全)


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近红外分析仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的物理性能测试仪器,于2010年12月15日启用。
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