天津MICROVU影像测量仪维保

    2020年我们新推出了新一代的Micro-Vu全自动高精度影像测量仪，包括Vertex261，341，342，Excel511，512，Excel701，702，704，以及升级后的可选配件如激光，探针等等。整个系列的设备都配备了高达310万像素的摄影机，通过可程式化的光学变焦和数码变焦，获取工件的影像，更加快速的测量工件尺寸。2021年同样也是充满了新挑战与新机遇的一年，既要登高望远，同时也要脚踏实地，以高水平高质量的服务回馈各行各业的新老客户。行业应用全部光电与太阳能手机笔电，电脑及周边数码通信产品CCD摄像头模组显示屏与触控面板橡塑胶PCB/FPC医疗半导体金属加工航空航天汽车/机车粉末冶金精密加工与模具冲压五金配件自动化及周边刀具，手工具其他CCD摄像头模组,苏州科贸时贸易有限公司专注于精密影像测量,自动化检测等领域10余年,致力于为客户提供精密测量解决方案,主营产品-MicroVu影像测量仪。 MICROVU影像测量仪中国总代理.天津MICROVU影像测量仪维保

    Micro-Vu始建于1959年南加州的圣费尔南多谷。初期的目标是以一般市场可承受的价格提供精密光学比较器。当时市场上绝大多数测量和检测系统对于普通小加工厂来说价格过于高昂，而这些规模较小的机床店，加工厂同样需要提高零件的加工质量。Micro-Vu的初代产品是一种便携式光学比较器。Micro-Vu设计研发了一种特殊的镜头系统使得设备以较低的成本同样能够提供清晰的成像，该款光学比较器一经面市即获得市场的欢迎。随后的几年间，Micro-Vu拓展了其产品线以开发更大，更精密的测量机器以满足客户的需求。在70年代发售全系列的光学比较器并配备了诸如透镜表面照明和集成数字读数等在当时较为先进的功能。进入新世纪以来，Micro-Vu持续不断提供为客户更优的测量解决方案。将激光，探针整合入原有的光学测量系统内，开发全自动系列测量机器，于2001年前后发布Vertex和Excel系列机型，满足市场需求的同时不断给客户创造更多的惊喜。上海MICROVU影像测量仪哪里有三次元测量仪日常使用注意事项与日常保养维护.

   全自动影像测量仪，基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异的功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置的情况下进行批量测量，亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而精确的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位。

    SPC控制图（ControlChart）一种对生产过程的关键质量特性值进行测定、记录、评估并监测过程是否处于控制状态的一种图形方法。**早的控制图是由美国贝尔电话实验室的休姆哈特博士在1924年提出的P图（PChart），后来此类控制图都被叫做休姆哈特控制图，休哈特也被誉为“统计质量控制SPC之父”。从休姆哈特的P图算起，SPC理论从创立到***已接近百年。SPC理论创立之初，恰逢美国大萧条时期，该理论当时无人问津。后来二次世界大战时，SPC理论在帮助美国军方提升武器质量方面大显身手，于是战后开始风行全世界。不过二战后，美国无竞争对手，产品横行天下，SPC在美国并没有得到***重视。日本二战战败后被美国接管，为了帮助日本的战后重建，美国军方邀请戴明博士到日本讲授SPC理论。1980年日本已居世界质量与劳动生产率的领导地位，其中一个重要的原因就是SPC理论的应用。1984年日本名古屋工业大学调查了115家日本各行业的中小型工厂，结果发现平均每家工厂采用137张控制图。因此，SPC无论是在欧美还是日本，都是非常重要的质量改进工具，所以大家有必要去深入认识SPC、应用SPC和推广SPC。影像测量仪可以安装接触式探针吗.

    影像测量仪又分全自动影像测量仪(又名CNC影像仪）与手动影像测量仪两种。市面上有一种既带数显屏又接计算机的过渡性产品，这种把电脑用作瞄准工具的设备不是影像测量仪，只能叫做“影像式测量投影仪”或“影像对位式投影仪”。光学影像测量仪仪器种类编辑光学影像测量仪手摇影像测量仪手摇影像测量仪在测量点A、B两点之间距离的操作是：先摇X、Y方向手柄走位对准A点，然后锁定平台、改手操作电脑并点击鼠标确定；再打开平台，手摇到B点，重复以上动作确定B点。每次点击鼠标是要将该点的光学尺位移数值读入计算机，当所有点的数值都被读入后才能进行计算功能的操作。这种初级设备就象一个技术的“积木拼盘”，一切功能与操作都是分离进行的；一会摇手柄、一会点鼠标；手摇时还需注意均匀且轻而慢、不能回旋；一般，一位熟练操作员进行一个简单的距离测量大概需要数分钟。光学影像测量仪数字化影像测量仪数字化影像测量仪则不同，它建立在微米级精确数控的硬件与人性化操作软件的基础上，将各种功能彻底集成，从而成为一台真正义上的现代精密仪器。 美国MICROVU影像测量仪怎么样.河南MICROVU影像测量仪供应

MICROVU全自动影像测量仪.天津MICROVU影像测量仪维保

与SPC相关的几个重要的概念 1. 变差 就像世界上没有两张完全相同的树叶一样，任何一个工厂，无论其生产技术多么先进，从其生产线出来的同一种产品或多或少总会存在一些差异，这种差异就是变差。比如，同一生产线生产出的一批合格螺栓，长度不可能做到完全一样。 2. 普通原因 vs 特殊原因 同样的道理，为什么两个相同的汉堡并不能保证其重量完全相等呢？这是因为制作汉堡的工艺流程不可能保证每一个汉堡的重量***的一样，总会存在一些细微差异。只不过作为顾客的我们能够接受这样的差异。我们把导致这种普遍的、固有的、可接受的变差的原因，叫做普通原因 。 但是如果哪天你买了两个同样的汉堡，却发现其中一个汉堡中间完全没有加蔬菜，这不再是常见的、普通的变差了，而是有某种特殊原因导致的变差，比如员工的操作失误。这种变差往往是顾客不能接受的。我们把导致这种非普遍的、非固有的、异常的变差的原因叫做特殊原因 。 3.受控 vs 不受控 如果一个过程**只有普通原因引起的变差，我们就说这个过程受控。 如果一个过程存在特殊原因引起的变差，我们就说这个过程不受控。 控制图的作用就是帮助我们发现并消除导致过程变异的特殊原因，使过程从不受控变成受控。天津MICROVU影像测量仪维保