红外热像仪用于研发，工业检测与设备维护的应用范围愈来愈***，红外热像仪的需求也在逐年增加之中，在科研，医疗，电子建筑等各行各业中发挥着举足轻重的作用。红外热像仪有许多参数，依据现行的热像仪校准规范（JJF1187-2008）的要求，需要对外观、显示、示值误差、测温一致性进行校准。热成像仪示值误差和测温一致性校准可以用腔式黑体炉完成。当黑体辐射源的尺寸不能完全覆盖热像仪视场时，需要调整热像仪或黑体辐射源位置，使黑体辐射源中心分别成像于标记点，使辐射源中心分别成像于热像仪显示器的各个区域，需要调整并测量9次（JJF1187-2008热像仪校准规范.CS120黑体炉控温方便，升温速度快，温度均匀性好，性能优异。高精度黑体炉BR70
黑体炉BR-M500特点■温度范围室温+10℃～500℃■PID自动控温■紧凑而坚固的设计■适用于校准与测试基本性能工作环温0-45℃重量4.8kg外形尺寸(L×W×H)220×160×260mm电气参数传感器Pt100铂电阻控温方式PID电源电压220VAC5A450W测量参数温度范围室温+10℃-500℃精度±(0.38±0.002[t])分辨率0.1℃辐射孔径Φ70mm发射率>0.97升温时间100℃≤30分钟附件BR-M500黑体辐射源一台电源线一根备用5A保险丝2只(电源座内有备用1只)使用说明书一份备用瓷片2片,云母片2片中低温黑体炉CS1500中温黑体炉通常是指温度范围在室温到400℃之间的。
黑体炉的分类？主要包括腔式黑体和面源黑体。黑体的应用黑体的主要功能是产生一定温度下的标准辐射。因此在温度计量中主要用于检定各种辐射温度计，如光学高温计、红外温度计、红外热像仪等。随着科学技术的发展，黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。
选用测温仪，要注意辐射路径的吸收。因为可以测的范围很广，所以可以针对不同的吸收情况，选择合适的波长。在高温区，测量金属材料的比较好波长是近红外，可选用0.8～1.0um。其他温区可选用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.99的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪在光学方面，已经普遍采用黑体炉作为标准辐射源和标准背景光源。
BR125低温黑体炉温度范围宽广，由-25～125℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ50mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：-25～125℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合为了保证温度的稳定性，腔体式黑体炉的孔径一般较小，通常在30~80mm之间。靶面式黑体炉推荐咨询
如果黑体炉口径比较大，靶体的有效范围也增宽，那就有更高的容错率了。高精度黑体炉BR70
高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，黑体炉终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。高精度黑体炉BR70
