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    本发明涉及一种用来在铜的存在下选择性地蚀刻钛的蚀刻液及使用该蚀刻液的蚀刻方法。背景技术：以往，在蚀刻钛时一直使用含有氢氟酸或过氧化氢的蚀刻液。例如专利文献1中提出了一种钛的蚀刻液，该钛的蚀刻液是用来在铜或铝的存在下蚀刻钛，并且该蚀刻液的特征在于：利用由10重量％至40重量％的过氧化氢、％至5重量％的磷酸、％至％的膦酸系化合物及氨所构成的水溶液将pH值调整为7至9。但是，含有氢氟酸的蚀刻液存在毒性高的问题，含有过氧化氢的蚀刻液存在缺乏保存稳定性的问题。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特许第4471094号说明书。技术实现要素：发明所要解决的问题本发明是鉴于所述实际情况而成，其目的在于提供一种蚀刻液及使用该蚀刻液的蚀刻方法，所述蚀刻液可在铜的存在下选择性地蚀刻钛，而且毒性低，保存稳定性优异。解决问题的技术手段本发明的蚀刻液是为了在铜的存在下选择性地蚀刻钛而使用，并且含有：选自由硫酸、盐酸及三氯乙酸所组成的群组中的至少一种酸；以及选自由硫酮系化合物及硫醚系化合物所组成的群组中的至少一种有机硫化合物。所述硫酮系化合物推荐为选自由硫脲、二乙基硫脲及三甲基硫脲所组成的群组中的至少一种。蚀刻液的价格哪家比较优惠？深圳铜蚀刻液蚀刻液供应商

    如上所述的挡液板结构，其中宣泄孔的孔径小于3毫米(millimeter，mm)。如上所述的挡液板结构，其中宣泄孔为千鸟排列或矩阵排列等其中的一种排列方式。如上所述的挡液板结构，其中宣泄孔为直通孔或斜锥孔等其中的一种态样或两者的混合。如上所述的挡液板结构，其中宣泄孔具有一***壁面，以及一第二壁面，且第二挡板具有一下表面，当宣泄孔为斜锥孔态样时，***壁面与下表面的***夹角不同于第二壁面与下表面的第二夹角。如上所述的挡液板结构，其中当宣泄孔为斜锥孔态样时，宣泄孔的上孔径与下孔径不相等。如上所述的挡液板结构，其中当宣泄孔为斜锥孔态样时，宣泄孔的上孔径小于下孔径。如上所述的挡液板结构，其中当宣泄孔为斜锥孔态样时，宣泄孔由第二挡板的下表面朝向上表面的方向渐缩。此外，为了达到上述的实施目的，本实用新型另提出一种蚀刻设备，设置于一湿式蚀刻机的一槽体内，蚀刻设备至少包括有一如上所述的挡液板结构、一基板、一输送装置，以及一风刀装置；基板设置于挡液板结构的下方；输送装置设置于基板的下方，输送装置包括有至少一滚轮，其中滚轮与基板接触以运行基板；风刀装置设置于挡液板结构的一端部，风刀装置包括有一设置于基板上方的***风刀。安庆铜蚀刻液蚀刻液推荐货源哪家公司的蚀刻液是比较划算的？

    在上述硅烷系偶联剂的含量处于上述含量范围内的情况下，能够调节添加剂本身凝胶化，且获得合适的sio2防蚀和sin蚀刻性能。(c)水本发明的蚀刻液组合物中所包含的上述水可以为用于半导体工序的去离子水，推荐使用18mω/㎝以上的上述去离子水。上述水的含量可以为使包含本发明的必须成分以及除此以外的其他成分的组合物总重量成为100重量％的余量。推荐可以按照本发明的组合物总重量的2～45重量％来包含。<选择添加剂的方法、由此选择的添加剂及利用其的蚀刻方法>此外，本发明提供选择用于在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*对上述氮化物膜选择性蚀刻的蚀刻液组合物的添加剂的方法、由此选择的添加剂以及利用该添加剂的蚀刻方法。上述蚀刻液组合物中说明的、对于添加剂选择等的一切内容均可以同样地应用于本发明的选择用于在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜的蚀刻液组合物的添加剂的方法、由此选择的添加剂以及利用该添加剂的蚀刻方法。具体而言，提供选择用于在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜的蚀刻液组合物的硅烷系偶联剂的方法、由此选择的硅烷系偶联剂以及包含该硅烷系偶联剂的蚀刻方法。

    负的值表示厚度减小。上述蚀刻液组合物以在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜为特征，上述氧化物膜推荐包含sio2，上述氮化物膜推荐包含sin。上述蚀刻液组合物用于3dnand闪存制造工序，能够使上述氮化物膜去除工序中发生的副反应氧化物的残留和氧化物膜损伤不良问题**少化。本发明的蚀刻液组合物包含如上选择的添加剂，在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻氮化物膜时，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良(参照图2)以及氮化物膜虽被完全去除但也造成氧化物膜损伤(damage)的工序不良(参照图3)的发生**少化。因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良在添加剂的防蚀能力强于适宜水平时发生，氧化物膜不良在添加剂的防蚀能力弱于适宜水平时发生。以下，对于本发明的蚀刻液组合物中所包含的磷酸、作为添加剂的硅烷(silane)系偶联剂以及进行更详细的说明。(a)磷酸本发明的蚀刻液组合物中所包含的上述磷酸(phosphoricacid)作为主氧化剂可以在使氮化物膜氧化时使用。相对于组合物总重量，上述磷酸的含量为50～95重量％，推荐为80～90重量％。在上述磷酸的含量处于上述含量范围内的情况下。天马微电子用哪家蚀刻液更多？

    etchingamount)的相互关系的图表。具体实施方式本发明人确认了用于氮化物膜去除工序用蚀刻液组合物的具有防蚀能力的添加剂在满足特定参数值时能够使在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性去除氮化物膜且不损伤氧化物膜的效果极大化，从而完成了本发明。本发明包括选择在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*将氮化物膜选择性去除的能力优异的添加剂的方法、由此选择的添加剂、包含上述添加剂的蚀刻液组合物以及利用上述蚀刻液组合物的蚀刻方法。本发明中，蚀刻对象膜可以为氮化物膜，保护对象膜可以为氧化物膜。此外，本发明的上述添加剂可以为硅烷(silane)系偶联剂。<蚀刻液组合物>具体而言，本发明可以包含磷酸、添加剂和水，上述添加剂可以为硅烷(silane)系偶联剂。本发明的上述添加剂的特征在于，使上述添加剂的反应位点(activesite)的数量除以上述添加剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量之后乘以(参照以下数学式)满足。本发明中，各添加剂的反应位点(activesite)的数量和添加剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量的例子示于表3中。此外，由此计算的各添加剂的aeff值和与此有关的蚀刻程度的例示示于表2中。参照上述结果，可以确认到上述添加剂的aeff值推荐满足。哪家的蚀刻液比较好用点？安庆江化微的蚀刻液蚀刻液销售价格

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    步骤一s1：设置一挡液板结构10，其中该挡液板结构10设置有复数个宣泄孔121；该挡液板结构10包括有一***挡板11、一与该***挡板11接合的第二挡板12，以及一与该第二挡板12接合的第三挡板13，其中该第二挡板12具有复数个贯穿该第二挡板12且错位设置的宣泄孔121，该复数个宣泄孔121呈千鸟排列的直通孔态样，且位于同一列的宣泄孔121之间具有相同的距离，其中该宣泄孔121的孔径a0比较好小于3mm，以使该宣泄孔121的孔洞内产生毛细现象，若该第二挡板12的该上表面123有水滴出现时，则该水滴不至于经由该宣泄孔121落至下表面122，但仍旧可以提供空气宣泄的管道，以借由该宣泄孔121平衡该第二挡板12上、下二端部的压力。步骤二s2：使用一设置于该挡液板结构10下方的输送装置30输送一基板20，以经过一喷洒装置50进行一药液51喷洒；在本实用新型其一较佳实施例中，该喷洒装置50设置于该挡液板结构10的一端部，且该基板20设置于该挡液板结构10的下方约8毫米至15毫米之间，其中该喷洒装置50用以喷洒一药液51至该基板20上，以对该基板20进行一湿式蚀刻制程，该挡液板结构10的设置即是为了避免该喷洒装置50的药液51继续对已经完成蚀刻步骤的基板20再进行蚀刻制程。深圳铜蚀刻液蚀刻液供应商

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