日本爱比特,i-bit 微焦点X射线检测系统 3D自动X射线检测 小型密闭管式X射线装置,
达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本。
型号:FX-300fRXzwithc
搭载芯片计数功能!
依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。
一个卷带盘约30秒可完成计数。
倾斜CT功能,垂直CT功能(选配设定)将检查对象工件放置在转盘上做360°旋转,取得图像。
用专门软件进行图像重组,可输出断层图像可使用VolumeRendering(立体渲染)软件做3D输出,也能输出断层动画。
3D图像资讯的重组,使用GraphicProcessingUnit*(图像处理器)速度能够达到以往的1/20。
影像处理用的处理器具有1000个以上,可以同时处理1000个以上的图像 微焦点X射线检测系统用于封装元器件、电子连接器模组检测、印刷电路板焊点检测等行业。贵州多层基板X射线检测

我司销售的日本爱比特 ,i-bit微焦点X射线用于封装元器件、电子连接器模组检测、印刷电路板焊点检测等行业。
设备型号:FX-300fRXzwithcT用途:以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。 芯片零件X射线检测厂家电话上海晶珂销售的X射线检测设备的成像仪可用于焊接缺陷的无损检测。

微焦点X射线检测系统,日本爱比特,i-bitX-ray检测系统3D-X射线立体方式观察装置
产品型号:LFX-1000
IC打线结合/导线架状态自动检查设备
概要:
可进行全自动检查的在线式X射线检查设备,针对IC内部的打线接合/导线架的状态进行高速/高精度检查
特征:
在导线架的状态下进行自动搬运及自动检查标注不良的部位。
不仅是打线结合的部位,也可以检查金属异物及导线架间隔等
导线架从进板机直接堆板设置或者是用抽换式基板收纳架供料
可与各种上料机/下料机连接(为追加选配功能)
I-BIT X-RAY IMAGING SYSTEM X射线立体CT。。。。。。。。。。。。。。。
型号FX-300tRXFX-400tRXX射线管种类微焦点密闭管(可灵活切换2D检查/3D立体检查, 3D断层检查)X射线靶材位置穿透型靶材(与开管相同方式)X射线管电压20 – 90 KV 0.1 mA30 – 110 KV 0.2mAX射线焦点径5µm2µm检测范围330X250mm(加大尺寸可做到600X600mm)X.Y轴行程/ Z轴行程X轴:330mm, Y轴:250mm/ Z1 (X射线摄像机):150~500mm。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。 i-bit爱比特X射线,2D,3D断层图像扫描系统,高几何学倍率。

上海晶珂机电设备有限公司是一家专业提供食品和药品的加工和包装整套方案提供商。如粉体解决方案:喷雾干燥系统、粉体混合输送系统。食品输送、包装以及后端的装盒、装箱、机器人堆垛等,还有生产线中包括的枕式包装机、立式包装机、真空包装机、检测设备和打印贴标等解决方案。我方整线中关键设备采用先进的进口设备或国外品牌,来自欧洲,日本,韩国和美国等等。我们用专业的技术给客户提供优化的解决方案。我们目标:让客户使用国际先进的解决方案和生产线,但十分经济和高性价比的价格,为客户解决生产中问题,提供生产效率i-bit 爱比特 X-ray X射线检测 基板贯孔的裂缝,WAFER BUMP(晶圆凸块)外观形状检查。山西3D立体X射线检测
3D X -RAY I-BIT 日本爱比特可进行双层焊锡分离检查,快速查出2D X- RAY无法检查出的缺陷。贵州多层基板X射线检测
日本爱比特,i-bit微焦点X射线检测系统3D自动X射线检测
小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本。
型号:FX-300fRXzwithcT
特征:
采用X射线立体方式(爱比特公司的独有技术)
几何学倍率:达到1000倍
搭载CHIPCOUNTER(芯片计数)机能
运用光广角照射能够做高倍率倾斜摄影
BGA自动检查机能(选配功能)VCT(垂直CT)PCT(倾斜CT)功能(选配功能)。。。。。。。。 贵州多层基板X射线检测
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