上海铜钛蚀刻液蚀刻液配方技术

    技术实现要素：本实用新型所解决的技术问题即在于提供一种挡液板结构与以之制备的蚀刻设备，尤其是指一种适用于湿式蚀刻机的挡液排液功能且增加其透气性以降低产品损耗的挡液板结构与以之制备的蚀刻设备，主要借由具有复数个宣泄孔的挡液板结构搭配风刀装置的硬体设计，有效使风刀装置吹出的气体得以经由宣泄孔宣泄，并利用水滴的表面张力现象防止水滴由宣泄孔落下造成基板显影不均等异常现象，确实达到保有原始挡液板的挡液效果，以及增加透气性以破除真空以减少因真空吸板导致的基板刮伤或破片风险等主要优势。本实用新型所采用的技术手段如下所述。为了达到上述的实施目的，本实用新型提出一种挡液板结构，适用于一湿式蚀刻机，挡液板结构包括有一***挡板、一与***挡板接合的第二挡板，以及一与第二挡板接合的第三挡板，其主要特征在于：第二挡板具有复数个贯穿第二挡板且错位设置的宣泄孔。如上所述的挡液板结构，其中***挡板与第二挡板呈正交设置，且第二挡板与第三挡板呈正交设置。如上所述的挡液板结构，其中***挡板、第二挡板与第三挡板围设成一凹槽的态样。如上所述的挡液板结构，其中第二挡板的长度介于10厘米(centimeter，cm)至15厘米(cm)之间。哪家蚀刻液的的性价比好。上海铜钛蚀刻液蚀刻液配方技术

    负的值表示厚度减小。上述蚀刻液组合物以在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜为特征，上述氧化物膜推荐包含sio2，上述氮化物膜推荐包含sin。上述蚀刻液组合物用于3dnand闪存制造工序，能够使上述氮化物膜去除工序中发生的副反应氧化物的残留和氧化物膜损伤不良问题**少化。本发明的蚀刻液组合物包含如上选择的添加剂，在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻氮化物膜时，能够使因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良(参照图2)以及氮化物膜虽被完全去除但也造成氧化物膜损伤(damage)的工序不良(参照图3)的发生**少化。因副反应氧化物的残留时间变长而氮化物膜未被完全去除的不良在添加剂的防蚀能力强于适宜水平时发生，氧化物膜不良在添加剂的防蚀能力弱于适宜水平时发生。以下，对于本发明的蚀刻液组合物中所包含的磷酸、作为添加剂的硅烷(silane)系偶联剂以及进行更详细的说明。(a)磷酸本发明的蚀刻液组合物中所包含的上述磷酸(phosphoricacid)作为主氧化剂可以在使氮化物膜氧化时使用。相对于组合物总重量，上述磷酸的含量为50～95重量％，推荐为80～90重量％。在上述磷酸的含量处于上述含量范围内的情况下。上海铜钛蚀刻液蚀刻液配方技术铜蚀刻液的配方是什么？

    etchingamount)的相互关系的图表。具体实施方式本发明人确认了用于氮化物膜去除工序用蚀刻液组合物的具有防蚀能力的添加剂在满足特定参数值时能够使在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性去除氮化物膜且不损伤氧化物膜的效果极大化，从而完成了本发明。本发明包括选择在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*将氮化物膜选择性去除的能力优异的添加剂的方法、由此选择的添加剂、包含上述添加剂的蚀刻液组合物以及利用上述蚀刻液组合物的蚀刻方法。本发明中，蚀刻对象膜可以为氮化物膜，保护对象膜可以为氧化物膜。此外，本发明的上述添加剂可以为硅烷(silane)系偶联剂。<蚀刻液组合物>具体而言，本发明可以包含磷酸、添加剂和水，上述添加剂可以为硅烷(silane)系偶联剂。本发明的上述添加剂的特征在于，使上述添加剂的反应位点(activesite)的数量除以上述添加剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量之后乘以(参照以下数学式)满足。本发明中，各添加剂的反应位点(activesite)的数量和添加剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量的例子示于表3中。此外，由此计算的各添加剂的aeff值和与此有关的蚀刻程度的例示示于表2中。参照上述结果，可以确认到上述添加剂的aeff值推荐满足。

    silane)系偶联剂和水，上述硅烷系偶联剂使上述硅烷系偶联剂的反应位点(activesite)的数量除以上述硅烷系偶联剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量之后乘以。此外，提供一种选择硅烷系偶联剂的方法，其是选择用于在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻上述氮化物膜的蚀刻液组合物的硅烷系偶联剂的方法，其特征在于，选择上述硅烷系偶联剂的反应位点(activesite)的数量除以上述硅烷系偶联剂的水解(hydrolysis)了的形态的分子量之后乘以。发明效果本发明的蚀刻液组合物提供即使不进行另外的实验确认也能够选择在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性蚀刻氮化物膜的效果和防蚀能力优异的硅烷系偶联剂的效果。此外，本发明的蚀刻液组合物提供在不损伤氧化物膜的同时*选择性蚀刻氮化物膜的效果。附图说明图1是示出3dnand闪存(flashmemory)制造工序中的一部分的图。图2和图3是示出制造3dnand闪存时氮化物膜去除工序(湿法去除氮化物(wetremovalofnitride))中所发生的工序不良的图。图4是示出能够将3dnand闪存制造工序中发生的副反应氧化物的残留以及氧化物膜损伤不良**少化的、硅烷系偶联剂适宜防蚀能力范围的图。图5是示出硅烷系偶联剂的aeff值与蚀刻程度。天马微电子用哪家蚀刻液更多？

    所述装置主体的内部底部中间部位固定连接有常闭式密封电磁阀，所述连接构件的内侧固定连接有过滤部件，所述装置主体的内部底端另一侧固定连接有收集仓，所述收集仓的另一侧底部固定连接有密封阀门，所述过滤部件的顶端两侧活动连接有滑动盖，所述过滤部件的内部中间两侧固定连接有收缩弹簧管，所述连接构件的内侧两端嵌入连接有螺纹管，所述连接构件的内部中间两侧活动连接有活动轴，所述连接构件的内侧中间两侧嵌入连接有密封软胶层。推荐的，所述硝酸钾储罐的顶部嵌入连接有密封环。推荐的，所述连接构件的两侧嵌入连接有海绵层。推荐的，所述支撑腿的底端嵌入连接有防滑纹。推荐的，所述过滤部件的内部两侧嵌入连接有过滤板。推荐的，所述过滤部件设置有一个，所述过滤部件设置在连接构件的内侧，所述过滤部件与连接构件固定连接。推荐的，所述连接构件设置有十四个，所述连接构件设置在搅拌仓的底部，所述连接构件与搅拌仓固定连接。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:1.高蚀刻速率无残留酸性铝蚀刻液生产装置，过滤部件，过滤部件设置在连接构件的内侧，过滤部件与连接构件固定连接，过滤部件能将制备出的蚀刻液进行过滤。好的蚀刻液的标准是什么。成都银蚀刻液蚀刻液供应商

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    以带动该基板20由该喷洒装置50下端部朝向该风刀装置40的该***风刀41下端部的方向移动。该风刀装置40设置于该挡液板结构10的一端部，该风刀装置40包括有一设置于该基板20上方的***风刀41，以及一设置于该基板20下方的第二风刀42，其中该***风刀41与该第二风刀42分别吹出一气体43至该基板20，以将该基板20上的一药液51带往与相反于该基板20的行进方向，以使该基板20上该药液51减少，其中该气体43远离该***风刀41与该第二风刀42的方向分别与该基板20的法线方向夹设有一第三夹角θ3，且该第三夹角θ3介于20度至35度之间。此外，请一并参阅图8与图9所示，为本实用新型蚀刻设备其一较佳实施例的挡液板结构结合风刀装置示意图，以及宣泄孔的表面张力局部放大图，其中该宣泄孔121为直通孔的态样，当该风刀装置40的***风刀41与该第二风刀42为了减少该基板(本图式未标示)上所残留的药液51而吹出该气体43时，该气体43碰到该挡液板结构10后部分会往该复数个宣泄孔121流动，并朝向该第二挡板12的该上表面123宣泄而出(如图8所示)，除了保有原有挡液板的防止该药液51喷溅而造成的蚀刻不均现象，亦可达到以破真空的原理避免该气体43在该基板20附近形成涡流而造成真空吸引问题；此外。上海铜钛蚀刻液蚀刻液配方技术