PCI-E测试MIPI测试测试流程

MIPI显示器工作组DickLawrence在一份声明中称，“这一标准给从简单的低端设备、到高复杂性的智能电话、再到更大型手持平台的移动系统带给重大好处。移动产业一直期待着统一到一种开放标准上，而SDI提供了驱动这一转变的强制性技术。

串行接口一般采用差分结构，利用几百mV的差分信号，在收发端之间传送数据。串行比并行相比：更节省PCB板的布线面积，增强空间利用率；差分信号增强了自身的EMI抗干扰能力，同时减少了对其他信号的干扰；低的电压摆幅可以做到更高的速度，更小的功耗. MIPI接口一致性测试 MIPI物理层测试 MIPI接口测试；PCI-E测试MIPI测试测试流程

高速运行的物理层D-PHY的物理层由一个时钟和四条数据通路[D0:D3]组成，可以以非常高的速度运行。物理层可以支持不同的协议层。例如，摄像机捕捉的影像可以通过采用CSI-2协议的D-PHY物理层传送到处理器，再传送到应用处理器，然后通过采用DSI协议的D-PHY物理层传送到显示器。这里的CSI和DSI指D-PHY上运行的协议。每条通路上的数据在使用V1.2标准时传送速率可以达到2.5Gbps，在使用V2.1标准时可以达到4.5Gbps，从而可以传送高分辨率和高清晰度的影像。PCI-E测试MIPI测试测试流程D-PHY的发送信号质量测试主要应该包含有哪些测试项目；

MIPI一致性测试

MIPI一致性测试是一种用于检查MIPI设备是否符合MIPI联盟制定规范的测试方法。这种测试方法通常包括两个方面：功能性测试和互操作性测试。在功能性测试中，测试设备会执行一系列针对特定MIPI协议的测试程序，并检查设备是否正确地响应和处理测试指令。例如，针对MIPIDSI（DisplaySerialInterface）协议的测试可以确保显示器能够正常接收和显示图像数据。在互操作性测试中，测试设备会模拟多种不同的设备和情境对MIPI设备进行测试，以确保设备能够与其他设备和系统稳定通信并正常工作。例如，在MIPICSI（CameraSerialInterface）协议的互操作性测试中，测试设备会模拟各种不同的摄像头组件，并测试是否能够正确地从摄像头接收数据。通过MIPI一致性测试，厂商能够检查其MIPI产品是否符合MIPI联盟制定的标准和规范，确保其设备能够与其他MIPI兼容设备无缝集成并可靠地工作。

。DPHY的物理层支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)两种工作模式。HS模式下采用低压差分信号，功耗较大，但是可以传输很高的数据速率（数据速率为80M1GbpsLP模式下采用单端信号，数据速率很低（<10Mbps），但是相应的功耗也很低。两种模式的结合保证了MIPI总线在需要传输大量数据（如图像）时可以高速传输，而在不需要大数据量传输时又能够减少功耗。用示波器捕获的MIPI信号，可以清楚地看到HS和LP信号。

由于 MIPI D PHY 的信号比较复杂，要保证接口 信号和协议 的一致性需要很复杂的测试。为了提高测试的效率， Keysight 提供了基于示波器和逻辑分析仪的 MIPI D PHY 测试平台。 MIPI LCD 的CLK时钟频率与显示分辨率及帧率的关系;

MIPI 组织主要致力于把移动通信设备内部的接口标准化从而减少兼容性问题并简化设计。下图是按照 MIPI 组织的设想未来智能移动通信设备的内部架构。

目前已经比较成熟的 MIPI 应用有摄像头的 CSI 接口、显示屏的 DSI 接口以及基带和射频间的 DigRF 接口。 UFS 、 LLI 等规范正在逐步制定和完善过程中。

CSI/DSI的物理层（PhyLayer）由专门的WorkGroup负责制定，其目前采用的物理层标准是DPHY。DPHY采用1对源同步的差分时钟和14对差分数据线来进行数据传输。数据传输采用DDR方式，即在时钟的上下边沿都有数据传输。 时序测试：测试MIPI接口的信号时序是否符合规范，包括时钟频率、数据延迟、数据速率等；PCI-E测试MIPI测试测试流程

时钟线的HS信号质量测试；PCI-E测试MIPI测试测试流程

在四条通路之间，在以2.5 Gbps/路运行时，D-PHY 1.2信号的最大吞吐量约为10 Gbps。物理层信号有两种模式：高速(HS)模式和低功率(LP)模式。高速[HS]模式用于快速传送数据。在系统处于空闲时，低功率[LP]模式用来传送控制信息，以延长电池续航时间。HS和LP模式有不同的端接方式，系统应能够动态改变端接方式，以支持这两种模式

HS数据的速度越高，显示器能够支持的分辨率越高，影像的清晰度也就越好。数据速率与分辨率之间的关系，还要看一下其他几个参数。

●像素时钟：决定着像素传送的速率

●刷新速率：屏幕每秒刷新次数

●色彩深度：用来表示一个像素的颜色的位数像素时钟的推导公式如下：像素时钟=水平样点数x垂直行数x刷新速率。其中水平样点数和垂直行数包括水平和垂直消隐间隔。 PCI-E测试MIPI测试测试流程