PCI-E测试眼图测试多端口矩阵测试

眼图测量方法（传统眼图测量方法），眼图测量方法有两种：传统眼图测量方法用中文来理解是八个字：“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字：“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字：传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。眼图测试比较好抽样时刻应 在 "眼睛" 张开比较大的时刻。PCI-E测试眼图测试多端口矩阵测试

 DDR眼图测试1-3

在早期设计阶段，如何完整评价DDR信号质量和时序等参数呢，这里为大家介绍一个设计到验证的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接导入到运行于电脑里的示波器离线分析软件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性测试套件，这个软件可以分析前面所说的JEDEC对DDR4信号要求的电气和时序等参数，判断是否符合规范要求，以测试报告形式呈现，这种方式可以在设计阶段发现违规问题，及时改进设计，缩短研发周期，降低硬件开发成本。另一方面，在硬件已经打板回来，可以通过V系列等示波器测试信号，通过实际的信号检查存在的问题，将仿真的结果和实际测试的结果做相关对比，进一步迭代优化仿真模型和测量方法，使仿真和测试结果逐渐逼近。 PCI-E测试眼图测试多端口矩阵测试眼图测试产品服务应用领域。

（2）波形需要以时钟为基准进行叠加：眼图是对多个波形或比特的叠加，但这个叠加不是任意的，通常要以时钟为基准。对于很多并行总线来说，由于大部分都有专门的时钟传输通道，所以通常会以时钟通道为触发，对数据信号的波形进行叠加形成眼图，一般的示波器都具备这个功能。而对于很多高速的串行总线信号来说，由于时钟信号嵌入在数据流中，所以需要测量设备有相应的时钟恢复功能（可能是硬件的也可能是软件的）能够先从数据流中提取时钟，然后以这个时钟为基准对数据比特进行叠加才能形成眼图。因此，很多高速串行数字信号的眼图测试通常需要该示波器或测量设备有相应的时钟恢复功能。

示波器作为时域或数字电路信号测量与测试重要的仪器设备，本质上是作为相对被测信号或系统的接收机在工作，因此其根本的价值在于真实还原或复现被测信号。在早年的并行总线电路系统的设计和测试中主要扮演简单的信号检测和调试的角色，而在的高速数字电路系统的研发和测试中扮演越来越重要的地位，已经从简单的信号检测与调试用途转化为高速数字信号的处理和分析平台，包括眼图及抖动分析和调试，均衡和去嵌处理等，以及终量产前的一致性(Compliance)测试即检验产品是否符合出货标准。当然示波器还有另一重要使用场景在高速数据采集场合。为什么眼图测量已经成为高速串行数据测试的重要的项目？波形参数测试是数字信号质量评估常用的测量方法，但是随着数字信号速率的提高，靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了。因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估，对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。所谓眼图，实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图。对符号波形序列所显示的眼图性能参数进行度量的过程。

在误码率（BER）的测试中，码型发生器会生成数十亿个数据比特，并将这些数据比特发送给输入设备，然后在输出端接收这些数据比特。然后，误码分析仪将接收到的数据与发送的原始数据一位一位进行对比，确定哪些码接收错误，随后会给出一段时间内内计算得到的BER。考虑误码率测试的需要，我们以下面的实际测试眼图为参考，以生成BER图，BER图是样点时间位置BER(t)的函数，称为BERT扫描图或浴缸曲线。简而言之，它是在相对于参考时钟给定的额定取样时间的不同时间t上测得的BER。参考时钟可以是信号发射机时钟，也可以是从接收的信号中恢复的时钟，具体取决于测试的系统。以上述的眼图为参考，眼睛张开度与误码率的关系以及其BER图眼图是用余辉方式累积叠加显示采集到串行信号的比特位结果，叠加后的图形形状看起来和眼睛很像，故名眼图。数字信号眼图测试一致性测试

示波器观测到的眼图。PCI-E测试眼图测试多端口矩阵测试

DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时，由于 BGA 信号难以探测，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，将 BGA 下方的信号引到 Interposer ，方便探头焊接，为了减少 Interposer 对信号带来影响，在 interposer 内专门有埋阻设计，减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应；但为了精确测量，我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌，在软件内使用多端口拓扑模型，载入 Interposer 的S 参数，生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数，在示波器中测得去嵌后的波形，下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 PCI-E测试眼图测试多端口矩阵测试