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对单向流如5级净化房间内及层流工作台测试应在净化空调系统正常运行不少于10分钟后开始;对非单向流如7级、8级以上的净化房间测试应在净化空调系统正常运行不少于30分钟开始。a.采样方法:将已制备好的培养皿放置在预先确定的取样点,打开培养皿盖使培养基表面暴露0.5小时再将培养皿盖上盖后倒置。b.培养全部采样结束,将培养皿倒置于恒温培养箱中培养。在30-35℃培养时间不少于48小时。每批培养基应有对照试验检查培养基本身是否污染可每批选定3只培养皿作对照培养。c.菌落计数用肉眼直接计数然后用5-10倍放大镜检查有否遗漏。若培养皿上有2个或2个以上菌落重叠可分辨时仍以2个或2个以上的菌落计数。主要工作室一般照明的照度值宜为3001x。浙江检测服务至上

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单向流洁净室的流动状态从雷诺数看是湍流,所以所谓层流洁净室中的层流和流体力学中的层流是完全不同的概念。因此,层流洁净室一词是不恰当的,国外的一些标准和文章也指出了这一点。例如,英国标准BS-5295曾将所谓的层流洁净室定义为单向流洁净室。层流在括号中表示。原联邦德国标准VDl-2083使用“非湍流置换流”一词,并在注释中指出层流的概念只是为了区分比层流更早出现的湍流(turbulent)流洁净室整理房间。在当时使用的成语中,“层流系统”的确切含义不是分层流,而是湍流的置换流。本章提到的概念是湍流的渐进流。在流体力学中,这种流动状态也可以称为平行流动或单向流动。1977年,我国在《清洁空气技术措施》中选择了“平行流”一词,并指出习惯上在该词后称其为“层流”。安徽口罩生产车间环境检测认真负责尘埃粒子的粒径分布分析有助于评估洁净室的过滤效率。

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(1)乱流洁净室a.对于不安装过滤器的风口可按综合效能普通通风空调风口风量测试的方法进行。b.对于安有过滤器的风口,根据风口形式可选用辅助风管,即用硬质板材做成与风口内截面相同、长度等于2倍风口边长的直管段连接于过滤器风口外部在辅助风管出口平面上,按**少测点数不少于6点均匀布置测点,用热球风速仪测定各点风速,以风口截面平均风速乘以风口净截面积确定风量。c.对于安有同类扩散板的风口,可以根据扩散板的风量阻力曲线和实测扩散板阻力,查出风量测定时用微压计和毕托管或用细橡管代替毕托管,但都必须使测孔平面与气流方向垂直使测值正确反映静压值。

对于风口上风侧有较长的支管段,且已经或可以打孔时,可以用风管法确定风量,测定断面距局部阻力部件距离在局部阻力部件后不少于5倍管径或5倍大边长度。对于矩形风管,将测定截面分成若干个相等的小截面,每个小截面尽可能接近正方形边长,比较好不大于200mm测点,设于小截面中心,但整个截面上的测点数不宜少于3个。对于圆形风管,应该按等面积圆环法划分测定截面和确定测点数。具体可按综合效能普通通风空调风管法测量风量的方法进行。使用激光尘埃粒子计数器可以精确测量空气中的微粒浓度。

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①静态测试时室内的测试人员不得多于 2 人测试报告中应标明测试时所采用的状态;②对于单向流测试应在净化空气调节系统正常运行时间不少于 10min 后开始非单向流要不少于 30min 后开始;③必须按照仪器的检定周期定期对仪器作检定。视仪器本身特点、使用频率、使用环境等决定;④每个采样点可按所计算确定的**小采样量采样空气。但一般根据所使用的粒子计数器的采样量及时间设定通常实际采样都可能高于**小采样量。⑤测定时,进入洁净室的人员要穿洁净服有风淋室要经过风淋室,在室内尽量处于下风处并静止少动。对洁净室的送风必须是有很高洁净度的空气。山东洁净室环境检测优化价格

微生物检测也是洁净室检测中不可或缺的一环。浙江检测服务至上

a.首先应对测试仪器、培养皿表面进行严格消毒,采样器进入被测房间时,先用消毒房间的消毒剂灭菌。用于5级洁净房间的采样器宜一直放在洁净房间。b.采样者应穿戴洁净服双手要消毒。c.开动真空泵抽气使仪器中的残余消毒剂蒸发时间不少于5min,并调好流量转盘转速。关闭真空泵放入培养皿盖好盖子后调节采样器。d.置采样口于采样点后依次开启采样器、真空泵、转动定时器、根据采样量选定采样时间。全部采样结束后,将培养皿倒置于30-35℃恒温培养箱中,培养时间不少于48h。e.用肉眼直接计数,然后用5-10倍放大镜检查是否有遗漏,若平板上有两个或两个以上的菌落重叠分辨时,仍以两个或两个以上菌落计数。浙江检测服务至上

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B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...

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