另外,由于5Gbps或10Gbps的信号经过长电缆和PCB传输以后有可能眼图就无法张开了,所以在芯片接收端内部会提供CTLE(连续时间线性均衡)功能以补偿高频损耗,因此测试时示波器的测试软件也要能支持CTLE才能模拟出接收端对信号均衡以后的真实的结果。图3.6是在USB3.2的规范中,分别对于Genl的5Gbps信号和Gen2的10Gbps信号CTLE的均衡器的定义。以下是USB3.x的信号测试方法相对于USB2.0的区别:(1)示波器的测试点在一致性电缆(compliancecable)和一致性电路板(complianceboard)之后。而以前的测试是在发送端的连接器处(如USB2.0)。(2)后处理需要使用CTLE均衡器,在均衡器后观察和分析眼图及其参数。(3)需要连续测量1M个UI(比特间隔)。(4)需要计算基于1.0×10-12误码率的DJ、RJ和TJ。进行USB 2.0 物理层测试?设备USB物理层测试安装
USB4一致性测试和调试解决方案了解USB4的新特点以及新测试要求和挑战,可以帮助您理解这一新标准的变化。泰克USB4一致性测试和调试解决方案提供了一种简便的方式,可以根据USB4电接口一致性测试规范(CTS)v1.0,验证和表征新兴的USB4路由器主机、USB4路由器设备和USB4集线器。、克劳德高速数字信号测试实验室新USB4规范解析及一致性测试的介绍,内容包括:USB总线终将一统江湖吗?·从USB1.0到USB4的发展·USB物理接口的演变2.USB4的规范解析和新特性3.如何验证你的USB4产品·一致性测试规范的解析·克劳德的一致性解决方案设备USB物理层测试安装USB电缆的长度对物理层性能有影响吗?
USB(UniversalSerialBus2.0,通用串行总线)是一种应用在计算机领域的新型接口技术。USB接口具有传输速度更快,支持热插拔以及连接多个设备的特点。已经在各类外部设备中的被采用。USB接口有四(五)种:USB1.1,USB2.0,USB3.0和USB3.1(3.1Gen1和3.1Gen2)。理论上USB1.1的传输速度可以达到12Mbps,而USB2.0则可以达到速度480Mbps,并且可以向下兼容USB1.1。早在1995年,就已经有个人电脑带有USB接口了,但由于缺乏软件及硬件设备的支持,这些个人电脑的USB接口都闲置未用。1998年后,随着微软在Windows98中内置了对USB接口的支持模块,加上USB设备的日渐增多,USB接口才逐步走进了实用阶段。这几年,随着大量支持USB的个人电脑的普及,USB逐步成为个人电脑的标准接口已经是大势所趋。在主机端,推出的个人电脑几乎100%支持USB;而在外设端,使用USB接口的设备也与日俱增,例如数码相机、扫描仪、游戏杆、磁带和软驱、图像设备、打印机、键盘、鼠标等等。
a)USB-IFUSB4ETT软件下图是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的实际界面,它可以通过USB4ElectricalTestT;手动控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface;自动化编程控制)两种方式,使被测设备产生必须的测试码型。b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信号为了补偿有损链路带来的损耗,定义了16种发送端均衡(Preset0~Preset15),测试规范规定在做发送端测试前,需要对每一个接口的每一对高速信号支持的每一种速率分别做Preset的校准,选择能够提供值小DDJ值的Preset值,把它设定到被测体的固件里,作为后续验证的基础。USB物理层测试是否涵盖对噪声和干扰的测试?
此外,在USB4中,我们要参考路由器主机或路由器设备组件通道预算。利好是我们在执行USB4一致性测试时(其在TP2和TP3测试点上执行),TP2和TP3测试点的连接或设置仍是一样的。新的测试要求和挑战USB4中出现了许多新的测试要求,同时带来了需要解决的对应的测试挑战。第一步是发射机预置校准(Transmitter Present Calibration),这是发射机测试的前提步骤。在这一测试中,我们捕获全部16个预置波形,然后测量数据确定性抖动 (DDJ)。在USB4中,在通路初始化过程中,接收机会请求改变预置值,对被测参数可能并不会使用比较好的预置值。因此,比较好先验证和测量所有其他预置值,然后再执行发射机测试。USB物理层测试是否需要考虑不同的数据传输模式?设备USB物理层测试安装
如何测试USB连接线的质量?设备USB物理层测试安装
每一代USB新的标准推出,都考虑到了对前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等,都只能在新型的Type-C连接器上实现。由于USB总线的信号速率已经很高,且链路损耗和链路组合的情况非常复杂,所以给设计和测试验证工作带来了挑战,对于测试仪器的功能和性能要求也与传统的USB2.0差别很大。下面将详细介绍其相关的电气性能测试方法。由于涉及的标准众多,为了避免混淆,我们将把USB3.0、USB3.1、USB3.2标准统称为USB3.x,并与USB4.0标准分开介绍。设备USB物理层测试安装
针对某特定讯号速度(低速、全速或高速)先选择需进行的量测项目,然后根据层(即DUT的连接层)、测试点(DUT的测试点-近端或远程)以及传输方向(上传或下传测试)设定应用程序,如图所示。在完成了这两步之后,使用者即可执行自动量测了。接着就是设置DUT类型、速率、夹具和测试分析模式,由于DUT是device,所以在Device一栏选择Device;USB2.0的速率为7G;测试的夹具分为了两类,一类是USB-IF协会的,另一类就是Tektronix的,在这里选择的是Tektronix的测试夹具;另外一个非常关键的点就是TestMethod,是否选用USB-IFSigTest的分析方法,通常,我们会...