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面对工厂级良率管理的复杂性，单一数据源或手工报表已难以支撑全局质量洞察。YMS系统整合来自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备的stdf、xls、log等测试数据，通过自动化清洗与异常过滤，构建全厂统一的良率数据视图。管理者可基于该视图，从时间维度追踪长期趋势，或从空间维度比对不同机台、批次间的性能差异，精确识别瓶颈环节。系统对WAT、CP、FT参数的联动分析，进一步打通从前道到后道的质量链路。SYL与SBL的自动卡控机制，确保关键指标始终处于受控状态。灵活的报表导出功能，则满足从车间班组长到高管的多层次信息需求。上海伟诺信息科技有限公司立足本土半导体发展需求，持续完善YMS系统，推动工厂实现数据驱动的质量跃升。Mapping Inkless输出数据可直接用于客户交付，支持快速验证。中国澳门PAT服务

面对国产替代需求，选择具备技术自主性和行业适配能力的良率管理系统厂商至关重要。上海伟诺信息科技有限公司的YMS系统兼容主流Tester平台，覆盖十余种测试数据格式，实现从采集、解析到异常过滤的全流程自动化。其分析引擎支持时间序列追踪、晶圆区域对比及WAT/CP/FT参数联动，精确识别影响良率的关键因素。SYL/SBL卡控与灵活报表导出功能，进一步强化过程管控与决策支持。更重要的是，系统背后有完整的实施与服务体系支撑，确保从部署到优化的每个环节可靠落地。这种“软硬协同”的能力，使YMS在国产软件生态中具备强大竞争力。伟诺依托多年项目积累，持续验证其作为本土良率管理解决方案提供者的专业价值。四川MappingOverInk处理STACKED算法适用于多层结构失效分析，解析层间关联缺陷的分布特征。

良率管理系统的价值不仅在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备，自动完成从数据采集到异常过滤的全流程治理。标准化数据库为多维度分析奠定基础，使时间趋势、区域对比、参数关联等洞察成为可能。例如，通过对比同一晶圆边缘与中心区域的良率差异，可判断光刻或刻蚀工艺的均匀性问题；结合FT与CP数据偏差，可追溯封装环节的潜在风险。SYL与SBL的自动计算功能，则为良率目标达成提供量化依据。报表系统支持灵活配置与多格式导出，明显降低管理沟通成本。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，推动YMS成为国产半导体提质增效的可靠伙伴。

当封测厂同时运行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种Tester设备时，不同平台输出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式数据往往难以统一处理。YMS系统通过内置的多协议解析引擎，自动识别并适配各类测试平台的数据结构，将异构原始数据转换为标准化内部格式，消除因设备差异导致的信息割裂。模块化接口设计确保新增设备可快速接入，无需重构系统架构。这种“即插即用”的兼容能力，使企业能集中管理全产线测试数据，避免为不同平台维护多套分析流程。数据采集的稳定性与实时性由此得到保障，为后续良率分析奠定一致基础。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续优化YMS的平台兼容性，支撑客户在复杂设备环境中实现高效数据治理。Mapping Over Ink处理因数据分析自动化大幅提升效率，缩短封测周期时间。

为满足日益严苛的车规与工规质量要求，在晶圆测试阶段引入三温乃至多温测试，已成为筛选高可靠性芯片的标准流程。这一测试旨在模拟芯片在极端环境下的工作状态，通过高温、常温、低温下的全面性能评估，有效剔除对环境敏感、性能不稳定的潜在缺陷品，从而大幅提升产品的质量与可靠性。因此，如何在海量的多温测试数据中识别并剔除这些因温度敏感性过高而存在潜在风险的芯片，已成为业内高度关注并致力解决的关键课题。

为应对车规、工规产品在多温测试中面临的参数漂移挑战，上海伟诺信息科技有限公司凭借其深厚的技术积累，开发了一套专门用于多温Drift分析的智能化处理方案。该方案的关键在于，超越传统的、在各个温度点进行孤立判定的测试模式，转而通过对同一芯片在不同温度下的参数表现进行动态追踪与关联性分析，从而精确识别并剔除那些对环境过度敏感、性能不稳定的潜在缺陷品。 Mapping Over Ink处理支持结果回溯，便于客户验证和审计分析结果。可视化Mapping Inkless服务商

上海伟诺信息科技DPAT功能，通过结合测试数据去除超出规范的芯片并生成新的Mapping。中国澳门PAT服务

在晶圆制造过程中，制程偏差是导致良率损失的主要因素之一，其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布，而是呈现出与特定制程弱点紧密相关的空间模式，例如由光刻热点、CMP不均匀或热应力集中所导致的失效环、边缘带或局部区块。然而，一个更为隐蔽且严峻的挑战在于，在这些完全失效的Die周围，往往存在一个“受影响区”。该区域内的Die虽然未发生catastrophicfailure，其内部可能已产生参数漂移或轻微损伤，在常规的CP测试中，它们仍能满足规格下限而呈现出“Pass”的结果。这些潜在的“薄弱芯片”在初期测试中得以幸存，但其在后续封装应力或终端应用的严苛环境下，早期失效的风险将明细高于正常芯片。为了将这类“过测”的潜在失效品精确识别并剔除，避免其流出至客户端成为可靠性隐患，常规的良率分析已不足以应对。必须借助特定的空间识别算法，对晶圆测试图谱进行深度处理。

上海伟诺信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精确的算法能够通过分析失效集群的空间分布与形态，智能地推断出工艺影响的波及范围，并据此将失效区周围一定范围内的“PassDie”也定义为高风险单元并予以剔除。这一操作是构建高可靠性产品质量防线中至关重要的一环。 中国澳门PAT服务

上海伟诺信息科技有限公司在同行业领域中，一直处在一个不断锐意进取，不断制造创新的市场高度，多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的商业口碑，成绩让我们喜悦，但不会让我们止步，残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志，和谐温馨的工作环境，富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新，勇于进取的无限潜力，携手大家一起走向共同辉煌的未来，回首过去，我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜，相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围，我们更要明确自己的不足，做好迎接新挑战的准备，要不畏困难，激流勇进，以一个更崭新的精神面貌迎接大家，共同走向辉煌回来！