云南PAT解决方案

晶圆制造环节的良率波动直接影响整体产出效率，YMS系统通过全流程数据治理提供有力支撑。系统自动采集并解析来自主流测试设备的多源异构数据，建立标准化数据库，实现对晶圆批次、区域乃至单点良率的精细化监控。结合WAT、CP、FT等关键测试数据的变化趋势，系统可快速锁定影响良率的关键因素，指导工艺参数调优。图表化界面直观展示良率热力图、趋势曲线等关键指标，辅助工程师高效决策。同时，系统支持按模板生成周期性报告，并导出为常用办公格式，满足生产与管理双重需求。上海伟诺信息科技有限公司以打造国产半导体软件生态为使命，其YMS产品正持续助力制造企业迈向高质量、高效率的发展新阶段。Mapping Over Ink处理提升车规级芯片的长期可靠性，满足严苛环境要求。云南PAT解决方案

面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求，良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数据，通过内置算法识别重复项、缺失值并过滤异常记录，确保后续分析基于高可信度数据源。在标准化数据库支撑下，企业可从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺波动点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，进一步揭示影响良率的深层原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制，强化了过程质量防线。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF格式，提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，专注打造适配本土需求的YMS系统，助力构建中国半导体软件生态。广东自动化Mapping Inkless系统价格Mapping Over Ink数据处理流程全程自动化运行，大幅减少人工复核的人为干预。

半导体制造过程中，良率数据的时效性与准确性直接决定工艺优化的效率。YMS系统通过自动采集ASL1000、SineTest、MS7000等测试平台生成的多源数据，完成端到端的数据治理，消除因格式混乱或信息缺失导致的分析盲区。系统建立的标准化数据库，使生产团队能够从时间轴观察良率波动规律，或聚焦特定晶圆区域识别系统性缺陷，从而快速锁定异常工序。SYL与SBL参数的自动计算与阈值卡控，为过程质量提供前置预警。同时，系统内置的报表引擎可一键生成周期性分析简报，并以PPT、Excel或PDF形式输出，便于管理层掌握产线健康状态。这种数据驱动的管理模式，明显提升了制造稳定性与决策效率。上海伟诺信息科技有限公司专注半导体行业系统开发，其YMS产品正助力制造企业迈向精细化运营。

良率管理服务的价值体现在全生命周期的技术陪伴与问题解决能力。YMS系统不仅提供数据采集、清洗、分析与可视化的一体化平台，更通过售前技术咨询、售中合理化方案定制与售后标准化服务，确保系统与客户实际流程深度契合。当客户接入ETS88、STS8107、Chroma等设备后，系统自动处理其输出的stdf、xls、spd、jdf等格式数据，完成异常检测与结构化存储。管理者可通过图表直观掌握良率趋势、区域缺陷分布及WAT/CP/FT参数关联性，快速制定改进措施。SYL与SBL的自动计算与阈值监控，进一步提升过程稳定性。灵活的报表工具支持多格式导出，打通从车间到决策层的信息通道。上海伟诺信息科技有限公司以完善的服务体系支撑YMS落地，持续助力半导体企业迈向高质量发展。失效Die的空间分布特征是判断工艺问题的关键依据，指导制程参数优化。

半导体设计公司对良率分析的颗粒度要求极高，需兼顾芯片级精度与跨项目可比性。YMS系统支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平台产生的多格式测试数据，完成统一解析与结构化存储，确保从晶圆到单颗芯片的数据链完整。系统不仅实现时间趋势与区域对比分析，还能通过WAT参数漂移预警潜在设计风险，辅助早期迭代优化。SYL与SBL的自动计算功能，为良率目标达成提供量化依据；灵活报表引擎则支持按项目、产品线或客户维度生成分析简报，并导出为PPT、Excel或PDF，适配不同汇报场景。这种深度集成的能力，使良率管理从被动响应转向主动预防。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，持续打磨YMS的功能完整性与行业适配性。Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。福建可视化Mapping Inkless服务商

上海伟诺信息科技Mapping Over Ink功能，可以将测试后处理的芯片做降档处理，降低测试Cost。云南PAT解决方案

在晶圆测试（CP）过程中，ProbeMapping（探针测试图谱）作为记录每一颗芯片测试结果的重要载体，其数据完整性直接决定了良率分析的准确性与生产流程的可追溯性。然而在实际量产环境中，因硬件通信异常、软件系统故障、产线突然断电或人为操作失误等多种意外情况，Mapping数据丢失、损坏或格式不兼容的问题时有发生。这类数据异常不仅会导致当批晶圆的测试结果无法被正确解析，更会中断生产信息链，使后续的封装拣选、质量追溯与制程优化丧失依据，对整体产品良率与制程管控构成严峻挑战。

针对这一行业共性难题，上海伟诺信息科技有限公司从实际测试场景出发，开发出一套高效、可靠的Mapping格式转换解决方案，致力于从根本上保障数据流的无缝衔接。该功能支持将CP测试系统生成的原始Mapping数据，智能、精确地转换为各类主流探针台可直接识别并加载的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在内的多种设备类型。通过这一转换流程，用户不仅能够有效恢复因格式问题而“失效”的测试数据，避免晶圆重复测试带来的成本与时间损失，更能构建起一条从测试到封装的高可靠性数据通道，从而提升整体生产流程的连贯性与自动化水平，为良率提升与工艺优化提供坚实的数据基石。 云南PAT解决方案

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着雄厚实力背景、信誉可靠、励精图治、展望未来、有梦想有目标，有组织有体系的公司，坚持于带领员工在未来的道路上大放光明，携手共画蓝图，在上海市等地区的数码、电脑行业中积累了大批忠诚的客户粉丝源，也收获了良好的用户口碑，为公司的发展奠定的良好的行业基础，也希望未来公司能成为*****，努力为行业领域的发展奉献出自己的一份力量，我们相信精益求精的工作态度和不断的完善创新理念以及自强不息，斗志昂扬的的企业精神将**和您一起携手步入辉煌，共创佳绩，一直以来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，员工精诚努力，协同奋取，以品质、服务来赢得市场，我们一直在路上！