企业商机
YMS基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
YMS企业商机

晶圆边缘区域良率持续偏低却难以定位原因,是工艺工程师常见的痛点。YMS系统在完成stdf、log等原始数据清洗后,依据晶圆空间坐标对缺陷进行分类,生成色彩渐变的热力图,直观呈现中心、过渡区与边缘的缺陷密度差异。用户可对比不同批次在同一区域的表现,识别是否为光刻对焦偏差或刻蚀均匀性问题所致。叠加时间维度后,还能判断该现象是偶发异常还是系统性漂移。这种空间+时间的双维分析,使优化措施从“整体调整”转向“精确干预”,明显提升工艺调试效率。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际需求,将YMS打造为缺陷定位的可视化利器。YMS与MES、TMS深度集成,打破信息孤岛,实现从测试到生产的全流程数据贯通。重庆工厂良率管理系统开发商

重庆工厂良率管理系统开发商,YMS

面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求,良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数据,通过内置算法识别重复项、缺失值并过滤异常记录,确保后续分析基于高可信度数据源。在标准化数据库支撑下,企业可从时间维度追踪良率趋势,或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布,快速定位工艺波动点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析,进一步揭示影响良率的深层原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制,强化了过程质量防线。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF格式,提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,专注打造适配本土需求的YMS系统,助力构建中国半导体软件生态。半导体工厂YMS功能从产线实时监控到管理层决策看板,YMS分层输出数据,满足差异化需求。

重庆工厂良率管理系统开发商,YMS

作为国产半导体软件生态的重要建设者,YMS系统的开发始终围绕真实生产痛点展开。系统兼容主流Tester平台,自动处理stdf、csv、log等十余种数据格式,完成从采集、清洗到整合的全流程自动化,消除信息孤岛。其分析引擎支持多维度交叉比对,例如将晶圆边缘良率偏低现象与刻蚀设备参数日志关联,辅助工程师精确归因。SYL/SBL卡控机制嵌入关键控制点,实现过程质量前置管理。配套的报表工具可按模板一键生成周期报告,大幅提升跨部门协同效率。更重要的是,系统背后有完整的售前咨询、售中方案优化与售后标准化服务体系支撑,确保价值落地。上海伟诺信息科技有限公司依托多年行业积累,使YMS成为兼具技术深度与实施可靠性的国产替代选择。

面对stdf、log、jdf等格式混杂的测试数据流,传统手工转换不仅耗时,还易引入人为错误。YMS系统采用智能解析与清洗技术,自动校验字段一致性,对缺失或错位字段进行逻辑补全或标记,确保每条记录结构完整。系统支持批量历史数据导入与实时测试流同步处理,无论数据来自ASL1000还是TR6850,均能统一转化为可用于分析的标准数据集。在此基础上,异常值被自动过滤,重复记录被精确剔除,明显提升数据可信度。这种端到端的自动化处理机制,使工程师无需再耗费数小时整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海伟诺信息科技有限公司基于半导体制造的实际数据特征,构建了这一高效可靠的数据预处理体系。结合WAT、CP、FT参数,YMS交叉分析快速定位良率骤降根源,排查效率翻倍。

重庆工厂良率管理系统开发商,YMS

每周一上午赶制良率周报曾是质量团队的固定负担:手动汇总Excel、调整图表、统一格式,耗时且易出错。YMS内置报表模板可按日、周、月自动生成结构化报告,内容涵盖SYL/SBL卡控状态、区域缺陷对比、时间趋势等关键指标,并支持一键导出为PPT、Excel或PDF。管理层用PPT版直接用于经营会议,客户审计接收标准化PDF文档,工程师则调取Excel原始数据深入挖掘。自动化流程确保全公司使用同一数据口径,避免信息互相影响。报表制作时间从数小时降至几分钟,释放人力资源投入更高价值工作。上海伟诺信息科技有限公司通过灵活报表功能,推动企业决策从“经验驱动”向“数据驱动”转型。量产中YMS严格校验数据完整性,确保每条记录一致可信,支撑全流程追溯。重庆工厂良率管理系统开发商

支持产品型号、测试时间等多维度检索,YMS轻松调取目标数据,响应需求更及时。重庆工厂良率管理系统开发商

当多台测试设备同时产出异构数据时,传统人工整合方式不仅耗时,还易引入误差。YMS系统通过自动化流程,将来自ETS364、STS8200、TR6850等设备的spd、jdf、zip等格式数据统一解析、清洗并结构化存储,构建一致的数据底座。在此基础上,结合WAT、CP、FT等关键测试阶段的参数变化,系统能够揭示影响良率的深层关联,辅助工程师精确调整工艺窗口。多维度可视化图表让晶圆级缺陷热力图、批次良率走势一目了然,明显缩短问题响应周期。报表功能支持按需定制并导出多种办公格式,提升跨部门协同效率。SYL/SBL的实时卡控能力,则有效预防批量性质量风险。上海伟诺信息科技有限公司秉持“以信为本,以质取胜”的宗旨,致力于打造适配国产半导体生态的智能良率管理工具。重庆工厂良率管理系统开发商

上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才,集企业奇思,创经济奇迹,一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地,绘画新蓝图,在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉,信奉着“争取每一个客户不容易,失去每一个用户很简单”的理念,市场是企业的方向,质量是企业的生命,在公司有效方针的领导下,全体上下,团结一致,共同进退,**协力把各方面工作做得更好,努力开创工作的新局面,公司的新高度,未来和您一起奔向更美好的未来,即使现在有一点小小的成绩,也不足以骄傲,过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验,才能继续上路,让我们一起点燃新的希望,放飞新的梦想!

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