马波斯测厚仪 水平扫描传感器，以 C 形 / O 形双支架设计解锁多元测量场景。O 形支架通用性强，完美适配宽幅卷材生产；C 形支架则是窄幅卷材测量的理想之选，无论湿态还是干态金属箔，都能精确测量面密度与厚度，稳定输出高精度结果。依托非接触式、无创无损且无辐射的超声技术，彻底规避传统辐射法的安全隐患，保障操作员与环境安全。超声技术不受卷材化学成分或颜色影响，可实现 100% 生产质量控制，搭配支持 OPC/UA 标准软件，轻松集成量产线，是金属箔卷材测量的高效之选。简单实用的测量方案！马波斯超声波测厚仪，易操作、易集成，适配各类量产线需求。广东覆层测厚仪解决方案
马波斯薄膜测厚仪配有 O 形水平扫描传感器依托现代化超声测量技术，它能在 0–4000 g/m² 面密度范围内，以 0.01 g/m² 的分辨率捕捉细微变化，静态精度达 ±0.04%（2σ），精确保障产品质量一致性。非接触式检测模式全程无损无辐射，适配 250-5400mm 宽幅卷材，覆盖多元生产场景。自动校准技术免去人工调校烦恼，持续维持传感器理想状态，确保数据稳定可靠。OPC/UA 接口实现便捷连接，搭配 ATEX 防爆与 CE 合规设计，在严苛工业环境中也能精确输出测量结果。甘肃薄材薄膜测厚仪系统马波斯测厚仪多个扫描方案保持同步：高精度共点测量，包括对两台或多台扫描方案的共点测量。
100% 全检金属箔卷材质量，马波斯超声波测厚仪作为无辐射测量技术的佼佼者，它以超声原理精确测量面密度与厚度，完全不受卷材化学成分或颜色影响，湿态、干态环境下均能稳定输出高精度数据。C 形 / O 形支架设计灵活适配宽幅与窄幅生产场景，非接触式检测模式避免物料损伤，同时保障操作员与环境安全。工业软件操作灵活且支持 OPC / UA 标准，可轻松集成量产线，搭配光谱共焦、激光等多技术传感器组合，满足严苛生产环境与高分辨率数据需求。广泛应用于PCB半固化片、MLCC贴片电容、锂电铝箔、铜箔、隔离膜、光学膜、纸张、医用纺织品等领域。
马波斯便携式测厚仪，为工业面密度检测带来全新可能。它支持集成多达 5 个轻型传感器，可灵活集成于产线或实验设备，拆卸便捷，能在产线任意位置切换部署，完美适配多场景监控需求。凭借非接触式、无损无辐射的检测原理，既保障生产安全，又避免物料损耗。面密度覆盖 0–4000 g/m²，分辨率达 0.01 g/m²，搭配自动校准功能，静态精度可达 ±0.04%（2σ），稳定输出可靠数据。配备 OPC/UA 接口，24V 电源供电，支持 ATEX 防爆，符合 CE 认证，是实验室与产线兼顾柔性与精度的理想测量之选。长效价值之选！马波斯无辐射测量技术，安全精确，为企业创造长期生产价值。
守护操作员安全，马波斯超声波测厚仪无辐射测量技术重新定义工业检测标准。在面密度与厚度测量中，传统辐射法对操作员与环境造成潜在危害，而马波斯全系列传感器技术均无辐射，可精确测量各类卷材，实现安全无忧的生产环境。水平扫描传感器的 C 形 / O 形支架设计，灵活适配宽幅与窄幅金属箔卷材，湿态 / 干态下均能保持高精度，超声技术不受物料特性干扰，实现 100% 质量控制，搭配支持 OPC/UA 标准的软件，轻松集成量产线，兼顾安全、精确与高效。马波斯超声波测厚仪，凭借其非接触无损测量、无辐射、超薄材高重复性精度优势，已成为精密制造的理想方案。甘肃薄材薄膜测厚仪系统
马波斯测厚仪极简校准，免维护运行，真正实现传感器免维护，大幅降低全生命周期使用成本。广东覆层测厚仪解决方案
马波斯薄膜薄材测厚仪 O 形水平扫描传感器，以现代化超声测量技术解锁工业测量新高度。它可精确适配 250-5400mm 超宽幅卷材，面密度覆盖 0–4000 g/m²，无论湿法还是干法工艺，都能实现非接触式、无损无辐射的精密检测，从根源避免物料损伤与安全隐患。设备搭载自动校准功能，无需人工干预即可维持理想校准状态，静态精度达 ±0.04%（2σ），分辨率高达 0.01 g/m²，稳定输出一致可靠的测量数据。配备 OPC/UA 接口简化产线连接，220V AC 供电、ATEX 防爆与 CE 认证加持，是高要求大宽幅卷材面密度（厚度）测量的理想选择。广东覆层测厚仪解决方案
