企业商机
光学非接触应变测量基本参数
  • 品牌
  • Correlated Solutions
  • 型号
  • VIC-2D, VIC-3D, VIC-Volume
光学非接触应变测量企业商机

在应变测量时,根据所使用的应变片的数量和测量目的,可以使用各种连接方法。在四分之一桥方法中,较多使用3线式连接来消除温度变化对导线电阻的影响。但是,导线电阻相关的灵敏系数修正以及连接部分的接触电阻变化等会产生测量误差。因此,开发出了的独特的1计4线应变测量法,省去了根据导线电阻校正灵敏系数的需要,消除了由接触电阻引起的测量误差。在温度恒定的条件,即使被测构件未承受应力,应变计的指示应变也会随着时间的增加而逐渐变化,即零点漂移(零漂)。光学应变测量技术全场测量,提供全部准确应变数据。福建全场三维非接触变形测量

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变形监测主要是指物体在使用过程中由于应力等因素的影响而导致的形态变化。对于公路而言,由于荷载或修建因素的影响,更容易出现沉降变形等现象。实际上,变形监测也适用于建筑物,如水库、大桥等,对物体的沉降、变形、位移等方面的测量效果较好。在公路变形监测中,基本监测技术会采用水准测量方式,以了解公路是否存在沉降情况。由于新疆地区土壤状态的影响,公路在使用一段时间后可能会因车辆荷载力而出现一定程度的沉陷。如果没有及时发现,可能会导致公路路面受损,引发交通事故的危险。山东光学非接触式应变系统光学非接触应变测量应用于材料性能的优化设计。

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研索仪器基于 DIC 技术构建的产品矩阵,展现了光学非接触测量的全场景适配能力。作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器引入的 VIC 系列产品涵盖从平面到立体、从静态到动态的全维度测量需求。VIC-2D 平面应变场测量系统以超过 1,000,000 数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,成为材料平面力学测试的高效工具;VIC-3D 表面应变场测量系统则实现了多尺度、多物理场的综合测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从微观材料到大型结构的复杂测试需求。

光学非接触应变测量的橡胶拉力试验机采用直流伺服电机及调速系统一体化结构驱动同步带减速机构,经减速后带动丝杠副进行加载。电气部分包括负荷测量系统和变形测量系统组成,所有的控制参数及测量结果均可以在大屏幕液晶上实时显示。并具有过载保护、位移测量等功能。适用于橡胶、复合膜、软质包装材料、胶粘剂、胶粘带、不干胶、橡胶、纸张等产品的拉伸、剥离、撕裂、热封、粘合等性能测试;能够保存6次试验数据及结果,具有曲线显示,查询等必要的功能。光学应变测量通过光栅投影和图像处理技术,实现了对物体表面应变的非接触测量。

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变形测量是指对物体形状、尺寸、位置等参数进行测量和分析的过程。根据测量方法和精度要求的不同,可以将变形测量分为多个分类。一种常见的变形测量方法是静态水准测量,它主要用于测量地面高程的变化。观测点高差均方误差是指在静态水准测量中,测量得到的几何水准点高差的均方误差,或者是相邻观测点对应断面高差的等效相对均方误差。这个指标反映了测量结果的稳定性和精度。另一种常见的变形测量方法是电磁波测距三角高程测量,它利用电磁波的传播特性来测量物体的高程变化。观测点高差均方误差在这种测量中也是一个重要的指标,用于评估测量结果的精度和可靠性。除了高差测量,观测点坐标的精度也是变形测量中的关键指标。观测点坐标的均方差是指测量得到的坐标值的均误差、坐标差的均方差、等效观测点相对于基线的均方差,以及建筑物或构件相对于底部固定点的水平位移分量的均方差。这些指标反映了测量结果的准确性和稳定性。观测点位置的中误差是观测点坐标中误差的平方根乘以√2。这个指标用于评估测量结果的整体精度。光学非接触应变测量可以实时监测结构体的应变分布情况,为结构的安全性评估提供重要依据。山东光学非接触式应变系统

变形点监测软件包括各分控机上的监测软件和主控机上的数据库管理软件两部分。福建全场三维非接触变形测量

光学非接触应变测量是一项基于光学理论的先进技术,用于检测物体表面的应变分布。与传统的接触式应变测量方法相比,光学非接触应变测量具有无损、高精度和高灵敏度等诸多优势,因此在材料科学和工程结构分析等领域得到了普遍应用。该技术基于光的干涉原理。当光线与物体表面相互作用时,会发生折射、反射和散射等光学现象,这些现象会导致光线的相位发生变化。物体表面的应变会引起光线的相位差异,通过测量这种相位差异,我们可以间接获取物体表面的应变信息。在实施光学非接触应变测量时,通常使用干涉仪来测量光线的相位差异。干涉仪的主要组成部分包括光源、分束器、参考光路和待测光路。光源发出的光线经过分束器被分为两束,其中一束作为参考光线通过参考光路,另一束作为待测光线通过待测光路。在待测光路中,光线与物体表面相互作用并发生相位变化,这是由物体表面的应变引起的。当待测光线与参考光线再次相遇时,它们会产生干涉现象。这种现象会导致光线的强度发生变化,通过测量光线强度的变化,我们可以确定光线的相位差异。福建全场三维非接触变形测量

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