XRD基本参数
  • 品牌
  • 文天精策
  • 型号
  • 按需定制
XRD企业商机

文天精策 XRD 原位冷热台,支持更换专门上盖搭配显微镜使用,实现了材料结构分析与形貌观测的同步进行。在传统测试中,科研人员往往需要分别进行 XRD 结构测试与显微镜形貌观测,无法将同一时刻的结构变化与形貌演变对应起来。而这款设备的同步观测功能,能让科研人员在获取材料晶体结构数据的同时,实时观测样品的形貌变化,将结构与形貌的变化趋势进行精细关联。这种同步分析的方式,为研究材料的相变机理、缺陷演化等问题提供了更全部的实验依据,帮助科研人员更深入地理解材料性能与微观结构之间的内在联系。设备的操作流程简单,上盖更换便捷,不会增加过多的测试步骤,兼顾了实用性与科学性。多重安全防护,杜绝液氮泄漏与电池压损风险。原位XRD公司

原位XRD公司,XRD

文天精策针对锂电研究的不同需求,推出了一套覆盖多场景的 XRD 设备方案,包含锂电原位电池模具与软包电池原位 XRD 透射冷热台两大关键产品。锂电原位电池模具能够实现锂电池充放电过程中的原位 XRD 测试,实时记录电极材料的结构与物相变化,助力科研人员解析锂电反应机理;软包电池原位 XRD 透射冷热台则覆盖 - 100℃~300℃的宽温区,可模拟不同温度工况,同步开展软包电池充放电与结构测试,研究温度对电池性能的影响。两款设备均能适配主流品牌的 X 射线衍射仪,设计兼顾实用性与兼容性,两者搭配使用,可完成 “常规锂电 - 软包电池”“室温 - 极端温度” 的全场景研究,为锂电科研人员提供从材料研发到器件测试的全流程支持,助力锂电领域的技术创新与性能优化。原位XRD公司文天精策 XRD 设备可模拟复杂工况,助力研究材料在极端环境下的结构稳定性。

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文天精策软包电池原位 XRD 透射冷热台搭载了高灵活性的多段式温控程序,可精细模拟软包电池在实际使用中的复杂温度变化工况。该装置的温控系统支持用户自定义编辑温度变化曲线,能设置升温、降温、恒温等多个阶段的参数,每个阶段的温度范围、升降温速率、恒温时间都可独自调整。例如,针对电动汽车电池的实际使用场景,可设置 “-20°C恒温 1 小时→以 5°C/min 速率升温至 25°C→恒温 2 小时→以 2°C/min 速率升温至 60°C→恒温 1 小时” 的复杂程序,模拟电池从北方冬季低温环境,到常温行驶,再到夏季高温暴晒的全过程。在整个温度变化过程中,装置可同步开展原位 XRD 测试,采集不同温度阶段的电极材料结构数据,分析温度变化对电池结构与性能的影响规律。这种贴合实际工况的温控设计,让实验数据更具应用价值,能直接指导电池热管理系统的优化设计,提升电池在复杂环境下的可靠性。

文天精策软包电池原位 XRD 透射冷热台,是专为软包电池研发设计的原位测试装置,可实现软包电池在不同温度充放电过程中的原位 XRD 测试,为电池反应机理研究提供直接支撑。该装置能同步捕捉软包电池充放电时电极材料的结构与物相转变,从 - 100℃的低温到 300℃的高温环境下,都能实时采集衍射数据,完整记录材料在电化学过程中的结构演化轨迹。相比离线测试,这种原位测试方式避免了样品转移过程中的结构变化,让数据更贴合电池实际工作状态,帮助研究人员解析电极材料的相变规律,为电池性能优化提供依据。紧凑机身不占地,小型实验室也能轻松放置。

原位XRD公司,XRD

文天精策 XRD 原位冷热台针对不同材料的研究需求,设计了多款差异化型号,满足多样的测试场景。部分型号覆盖 - 190℃~600℃的温区,能够精细匹配对低温敏感的材料研究,比如一些有机功能材料、低温相变材料的结构观测;还有的型号以电阻加热为关键,覆盖室温~1200℃的高温区间,专门适配陶瓷、金属、合金等高温材料的测试需求。设备的温控方式与不同温区需求精细匹配,温度控制状态稳定可靠,升温速率的调整也具备灵活空间,能让不同材料的相变过程、结构演变都得到清晰完整的记录。同时,设备的光学适配设计可搭配显微镜使用,多样的样品台尺寸与材质选择,也能兼容多数类型的样品,是材料科研中可以按需选择温场的灵活工具,为不同领域的材料结构研究提供有力支持。
低温型号采用液氮制冷,安全环保,无泄漏风险。原位XRD公司

银质与陶瓷样品台可选,满足不同材质样品的温度传导需求。原位XRD公司

文天精策软包电池原位 XRD 透射冷热台通过多重结构与性能优化,保障了实验数据的高可重复性,为科研结论的可靠性提供坚实基础。实验可重复性是科研测试的关键要求,该装置从三个关键维度保障数据稳定:一是纯银冷热块体的高导热性与均匀温控能力,让软包电池各区域的温度差控制在 ±0.5℃以内,避免局部温度不均导致的衍射数据偏差;二是滑块式接线柱的弹性接触设计,保障充放电过程中电流稳定,不会出现因接触电阻变化导致的电极反应异常;三是 Kapton 膜视窗的低 X 射线衰减率,让每次测试的信号强度保持一致,减少数据的随机误差。多次重复实验验证显示,同一批次电池在相同测试条件下,衍射图谱的峰位偏差小于 0.1°,峰强偏差小于 5%,完全满足学术研究与产品研发对数据精度的要求。这种高可重复性,让研究人员无需担心因设备波动导致实验失败,能更专注于材料本身的结构与性能研究。原位XRD公司

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