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单向流洁净室的风速检测要求

单向流洁净室的风速基本稳定,气流的方向基本相同,进风口附近的风速与工作面的风速差别不大,而且整个洁净室内的风速均匀性较好。

(1)测点位置。按照《洁净窒施工及验收规范》(GB50591- 2010) 要求,垂直单向流洁净室的检测截面取距地面0.8m的无阻隔面(孔板、格栅除外)的水平截面,如有阻隔面,该检测截面应拾高至阻隔面之上0.25 m;水平单向流洁净室取距送风面0.5 m的垂直于地面的截面。

(2)测点个数。检测风速时,把检测断面均匀分成若干面积相等的格子,格子数即测点数。测点间距不应大于1m,-般取0.3m, 测点数应不少于20个。

检测是验证洁净室是否达标的一个指标。广东洁净工作台检测值得推荐

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 空气洁净技术的发展历程

空气洁净技术(又称洁净技术或洁净室技术)初是指以控制室内空气中悬浮赖科浓度为目标的相关技术。悬浮颗粒物的浓度用单位体积空气中大于等于某一粒径的颗粒物的允许数量来表示,通常也称为空气的洁净度,并以此来划分洁净度等级。

初运用洁净技术是为了提高精密产品(如仪器仪表)的成品率或降低其故障率。随着科学技术的发展,各种工业产品特别是微电子产品的精密度越来越高,对生产环境的洁净度要求也越来越高,控制的对象也从单一的悬浮颗粒物扩 展到有害气体。洁净技术在控制空气中的悬浮颗粒物的同时,也有效地控制了空气中的细的和有害微生物,所以又逐步推广到医疗、制药、生物等领域,形成了当前比较完善的洁净技术体系。 江苏口罩生产车间环境检测方便客户蔚亚科技检测净化设备。

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在测量工作中会遇到各种标准量,如长度、质量、时间、温度、电流等。在洁净室检测技术中,经常碰到的被测量有风速、风量、温度、压力、湿度、噪声、洁净度等。

检测技术在科学研究和工程运用中有非常重要的地位,任何工作都需要通过检测才能确定工作的质量和数量,因此专门从事检测工作的人员需要熟练掌握检测技术。从事洁净室建造的人员也需要掌握一些 检测技术的基础知识和基本原则。洁净室检测技术的应用范围广,包括建造洁净室原材料的检测、洁净室用仪器设备的检测、洁净室建成后调试的检测、洁净室竣工验收的检测、洁净室运行过程中的检测。检测工作贯穿洁净室筹备、建造、应用的全过程。


浮游菌

至少采样点数目对应悬浮粒子采样点数,工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,送风口测点位置离开送风面30cm左右,关键设备或关键工作活动范围处可增加测点,每个采样点一般采样一次。

全部采样结束后,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。


沉降菌

工作区测点位置离地0.8-1.2m左右,将已制备好的培养皿置于采样点,打开培养皿盖,使其暴露规定的时间,再将培养皿盖上,将培养皿放于恒温培养箱中培养,时间不少于48小时,每批培养基应该有对照实验,检验培养基是否污染。


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工业洁净室的发展

工业洁净室(ICR, Idutra Clem Rom)以空气中的悬浮颗粒物为主要控制对家,主要为精密机械和电子产品等行业提供符合要求的生产环境。

与其他高科技一样, 洁净技术的诞生及起初应用是服务于目的的。第二次世界大战中一些炮、 战车、飞机等使用的仪器合格率低或经常发生故障。研制者认识到,仪器生产与装配环境空气中的悬浮颗粒物是罪魁祸首,于是工业洁净室诞生了。起初的工业洁净室是比较简陋的,随着原子武器研究和生化武器研究的发展,在20世纪40年代初高效空气过滤器研制成功并得到应用,20世纪60年代初又出现了“单向流”洁净室,这些设备与技术的诞生成为洁净技术发展的里程碑,奠定了现代洁净技术的基础。

微电子行业是现代工业洁净室应用的表现。主要产品是大规模集成电路和平板显示器。半个多世纪以来,集成电路得到迅猛发展。 蔚亚科技提供科学、公正、具有法律效力的检测数据和报告。江苏排风柜检测

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洁净室风速检测的意义

无论是洁净室还是其他任何受控环境,室内的风速检测都是重要的和必需的。只有准确测定风速、风速均匀性、送风量等气流参数,才能依据这此数据判断洁净室或其他受控环境的空调净化系统是否具备维持所要求的洁净度、温度、 湿度等技术参数的基本能力。

风速是指空气相对于地球某-固定 地点的运动速率, 常用单位是m/s.洁净室、洁净区的洁净度主要依靠送人足够量的洁净空气,以置换、稀释室内生成和散发的颗粒污染物。

单向流洁净室依靠洁净气流推挤、置换室内污染空气以维持洁净度,其送风断面风速及均匀性是影响洁净度的重要参数,较高的、均匀的断面风速能更快、更有效地排除室内工艺过程产生的污染物。不均匀的气流组织达不到单向流的气流组织效果,影响洁净室的洁净度。非单向流洁净室靠送人室内的洁净空气来冲淡与稀释室内污染空气以维持洁净度,换气次数越大,气流流型越合理,稀释效果越明显。因此,洁净室的风速检测是洁净室检测的- 项重要工作。


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B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区,其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%,粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%,见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定,是基于对扩散元件透过率的计算,该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%,对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器(DPC)或凝聚核计数器(CNC)的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧,则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧,则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低...

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